Способ оценки нестабильности характе-ристик тензорезисторов

Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(и)823836 Р 1)М К 3 6 01 В 7/18 с присоединением заявки йо Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытийМ, Парф.енов кторс ий институтедств,измерейиЯЙай 71) Заявите аучно-исследовательский и конс спытательных машин, приборов и СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ХАРАКТЕРИСТИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ 1 . 2Изобретение относится к области Недостатком этого способа являетизмерения неэлектрическихвеличин . . ся невысокая точность иэ-за отсутэлектрическими способами, ствия необходимой информации о знакеИзвестен способ оценки нестабиль температурной нестабильности по коности характеристик тензорезисторов, торой можно было бы определить в каэаключающийся в том, что тензорези- кое плечо мостовой схемы необходимо сторы устанавливают на упругий эле- установить сопротивление температур- мент, который помещают в термокамеру, ной компенсации,подключают тенэорезисторы к источни- Цель изобретения - повышение ку питания, нагревают термокамеру до ности оценки нестабильности хар10заданной температуры и оценивают не- ристик тензорезисторов. стабильность характеристик тензоре- . Поставленная цель достигаетсэисторов 11что измеряют знаки напряжения пОднако этот способ требует бол . и напряжения нелинейных искажений шогоколичества времени для проведе на выходе тензорезисторов в днапазония испытаний, так как нагревание не фазы напряжения питания 130 от термокамеры - продолжительная опера- его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность харакНаиболее близким к изобретению терно тик те н зоре зи с торов . по технической сущности является сто Сущность способа заключается в том соб оценки нестабильности характери- .что припитании тензорезисторов перестик тензорезисторов, заключающийся менным напряжением с изменением мгнов том, что устанавливают тензоре- венной амплитуды меняется мгновенная зисторы на упр гопру ом элементе нагру- мощность и количество тепла, выделяУжают его, подключают их к источнику,питания переменного напряжения, из- его темпратура. Вследствие незначинелинейные искажения на выхо" тельной массы тензорезистора его теммеряют нелине ныее к входе тензорезисторов, по раэ- пература пропорцнональн ыда в еляемой ности которых оценивают нестабиль- мощности и квадрату на рт нап яжения пита- ность их характеристик 21. З 0 ния, Следовательно температура наг-. точ- актея тем,итания ь823836 Формула изобретения Составитель Б. ЕвстратовРедактор О. Черниченко ТехредЖ.Кастелевич Корректор М. Шароши Тираж 642 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Заказ 2082/53 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ревания тензорезисторов и температурный разбаланс мостовой схемы изменяются нелинейно от напряжения питания. В тот момент, когда напряжение питания достигает максимума, разность температурных коэффициентов тензорезисторов проявляется наиболее сильно, что приводит к максимальному и закономерному мгновенному разбалансу мостовой схемы. При этом, если в мостовой схеме тензорезисторы имеют равные температурные коэффициенты сопротивления, то нелинейные искажения на выходе измерителя нелинейных искажений равны нулюТак как практически достигнуть этого невозможно, . какой-то один из резисторов характе ризуется максимальным температурным коэффициентом сопротивления, который при настройке мостовой схемы обычно компенсируется введением в смежное плечо температурно зависимого сопро- щ тивления (медного или никелевого),Оценку нестабильности характери- . стик тензорезисторов производят следующим образом. 25Тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его, подключают тензореэисторы к источнику питания переменного напряжения, Измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелинейных искажений иа выходе тенэорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания +ЗОЕЙ от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов,Процесс оценки нестабильности характеристик тензорезисторов по предлагаемому способу занимает несколько минут и повышает точность оценки по сравнению с Известными способами. Способ оценки нестабильности характеристик тенэорезисторов, заключающийся в том, что устанавливают,тензорезисторы. на упругом элементе,нагружают его, подключают тензорезисторы к источнику питания переменного напряжения и оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов, о т л и ч а ю щи й с я тем,что, с целью повышения точности, измеряют знаки напряжения питания и нап-.ряжения нелинейных искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазынапряжения питания +ЗОЕЙ от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристиктензорезисторов.Источники информации,принятые во внимание при экспертиэе1. Исследование температурныхнапряжений. М., Наука, 1972,се 133-1402, Авторское свидетельство СССРпо заявке Ю 2594489/25-28,кл. 6 01 В 7/18, 1978.