Аэроионизатор

Номер патента: 933393

Опубликовано: 07.06.1982

Авторы: Евсюков, Мельников, Харлабо, Шабанов

МПК: B24B 5/16

Метки: кривизны, переменной, поверхностей

...устройствах не предусмотрено также использование инструментальных голОВок В Виде сменных головок на существующем технологическомуниверсальном оборудовании,Бель изобретения - расширение технологических возможностей и универсальНость ижользования рабочих головок. 16Для достижения поставленной целиустройство снабжено размещенным на ка 4ретке механизмом в виде статора и ротора, несущего направляющие с рабочейголовкой; при этом привод инструменташарнирно установлен на механизме регулйрования положения инструмента, выпол.ненном в виде реечной передачи с силовым цилиндром.На фиг. 1 изображен общий вид усй-:ройствар на фиг. 2 - положение инстррмента при обработке цилиндрических поверхностей.На станине 1 с консолью 2 смонтирован суппорт...

Номер патента: 1714325

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Бастун, Калинина, Мельникова, Шкарапута

МПК: G01B 5/30

Метки: кривизны, поверхности

...25 калибруют путем вытя кки до определеннойвеличины пластической деформации ЕкПри этом вытяжку Осуществляют путем одноосного растяжения, а величину Ек определяют из условия1 Ь 2+ ="-Чд-Ек )Ч (5)где д - равномерная составляющая остаточного удлинения д материала чувствительного элемента,Материал для изготовления чувств:,- 35 телы ых элеменгов и величину их вытяжкиЕк подбирают таким образом, чтобы нижняя граница интервала рассеяния значений предельного разрывного удли .ения была выше разности макаялального дог 1 ускаемо га значения длины дуги и фиксированнойдлины хорды с учетом поверхности, С этой целью изготавливают парти о идентичных чувствительных элементов, состоящую не менее чем из 18 шт., чтобы гарантировать получение оценки с...

Номер патента: 34190

Опубликовано: 31.01.1934

Автор: Максутов

МПК: G01B 11/255

Метки: больших, кривизны, поверхностей, радиусов

....причем отсчеты длин производятся по шкале пониженной точности.На чертеже фиг. 1 изображает вид устройства сверху; фиг. 2 - схему устройства для измерения радиуса кривизны .вогнутых поверхностей; фиг. 3 - схему уст 1 аойства для измерения радиуса кривизны выпуклых поверхностей.Устройство (фиг, 1) состоит из снабженной делениями линейки 1 из прозрачного материала (стекла) и одного или двух шариков 2 и 2.На нижней поверхности линейкивыфрезерован желобок 3 для прохождения нити 4, с помощью которой по измеряемой поверхности подтягивается шарик 2 до соприкосновения с линейкой . Для отсчетов и установки на центр шарика предусмотрен хомутик 5, снабженный любыми штрихами и нониусом на зеркальном стекле, которое, кроме того, может быть...

Номер патента: 1474457

Опубликовано: 23.04.1989

Автор: Деомидов

МПК: G01B 11/25, G01B 11/255

Метки: кривизны, локальной, поверхности

...отрезка ООПусть поверхность О С - контролируемая поверхность 5 подложки с неизвестным радиусом кривизны К ,. Лучи,идущие по нормали к поверхностиО С, собираются в точке Е на оптической оси объектива 3, причем расстояние РЕ определяется по формулеНьютона 1 г РЕ = -- й кИз подобия треугольников ЕАЭ и35 ЙЕСО получают ЕЭ=Р -- (по аналогииХосс эталонной поверхностью). 40 Хов Е ос). (1) 1Х ос 45 На Фиг,1 обозначены регистрируемая (и+2)-я полоса 6, видимая на фоне контролируемой поверхности 5;полоса 7, видимая на фоне поверхности 4 (на данной схеме может быть зарегистрирована при отсутствии.подложки) регистрируемая (и+1)-я полоса 8, видимая на фоне поверхности 5, регистрируемая и-я полоса9 видимая на фоне поверхности 5.Из подобия...

Номер патента: 1672213

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Даубарис, Нарушевичюс, Рагаускас, Шнейдерис

МПК: G01B 21/00

Метки: модификации, пластины, плоскостности, поверхности, процессе, радиационной, твердотельной

...воздействия на контролируемую 30 пластину, столик 10 выполнен с п отверстиями, в которые вставлены иглы блока 12, блока 13 питания, выход которого подключен к входу питания блока 12, вход управления блока 12 подключен к второму выходу 35 блока 7, и источника 14 потока модифицирующего излучения, предназначенного для модификации контролируемой пластины, Преобразователь 5 оптически связан с отражателем 4 и объективом 3 и расположен так, 40 что направление сканирования его растра параллельно плоскости, проходящей через направления распространения лучей от объектива 3 и отражателя 4, 45Способ реализуется следующим образом.Источником 14 модифицируется пластина 15. С помощью лазера 1, светоделителя 2, объектива 3 и отражателя 4 в плоскости 50...