Устройство для настройки параметровультразвукового дефектоскопа

(51) М. Кл."6 01 М 29/О м заявкис присоединен Государственный ком 23) Приоритет43) Опубликовано 07.01,81, Бюллетень145) Дата опубликования описания 07.01.81 о делам изобретен н открытий 620,179 (088,8). И. Яцков и Н азыграев 71 Заявите Производственное объединение Красный котельщик(54) УСТРОЙСТВОУЛ ЬТРАЗ ВУ Я НАСТРОЙКИ ПАРАМЕТРОВВОГО ДЕфЕКТОСКОПА Изобретение му контролю м жет быть испо талла и сварны сосудов, рельсоИзвестны уст раметров ультр виде контрольн кусственные от ных отверстий,относится атериалов льзовано п х соединени в, металло ройства дл азвуковыхых образц ражатели в зарубок, с к неразрушающеи изделий и мори контроле мей трубопроводов, конструкций, я настройки падефектоскопов в ов, имеющих исвиде плоскодонегментов 1. кустическом лелием 3 на Недостатком этих устроиств является невозможность воспроизведения искусственного отражателя. Использование стандартных образцов не учитывает коэффициента затухания в контролируемом материале и разницу в качестве акустического контакта искателя с образцом и изделием. Все это приводит к неоднозначности при интерпретации результатов контроля.Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является устройство для настройки параметров ультразвукового дефектоскопа, включающее отражатель 21.Однако с помощью данного устройства трудно добиться повторяемости при настройке параметров дефектоскопа.Целью изобретения является повышение точности настройки. Эта цель достигается за счет того, чтоустройство снабжено магнитом, жестко скрепленным с отражателем, но акустически не связанным с ним в зоне отражения 5 сигнала, а отражатель выполнен из материала, по акустическим свойствам аналогичного материалу контролируемого изделия.На фиг. 1 изображен один из вариантов 0 предлагаемого устройства; на фиг. 2 - общая схема настройки; на фиг. 3 и 4 - схема прохождения ультразвука через границу изделие - контактная жидкость - контактирующий отражатель от искателя и об ратно.Устройство представляет собой (фиг, 1)контактирующий отражатель 1, выполненный в данном случае в виде прямоугольного бруса и постоянного магнита 2, жестко 0 скрепленного с брусом, например, с помощью клея или винта. В зоне отражения эхо-сигнала от двугранного прямого угла бруса между ним и магнитом имеется воздушный зазор.5 Процесс настройки параметров дефектоскопа и определения параметров дефектов с помощью устройства производится следующим образом.Устройство находится в а0 контакте с контролируемым из794496 Фиг, l 7(УЮ Составитель Т. Ф аназ 205/12 Изд.146 Ти НПО Поиск Государственно по делам изобретений 113035, Москва, Ж, Раушаж 915 Под комитета Соткрытийая наб., д, 4 г. 4 писноеССР ипография, пр. Сапунова, 2 поверхности 1.К, противоположной контактной поверхности ММ искателя.Искатель перемещается по контактной поверхности и находит максимальное значение эхо-сигнала, прошедшего через кон тактирующий слой, металл контролируемого изделия и металл контактного отражателя. Ультразвуковой пучок проходит через границу контролируемое изделие - контактирующий отражатель и отражается от его 1 О двугранного угла обратно к искателю. Если отражателя нет, то пучок ультразвука зеркально отразится.Благодаря наличию магнита предполагается, что контролируемое изделие выпол кено из магнитного материала, устройство удерживается на поверхности в неподвижном положении и с постоянным прижатием. Это позволяет значительно повысить воспроизводимость параметров настройки и 20 как следствие - качество контроля.Возможность проведения настройки непосредственно на контролируемом изделии позволяет отказаться от применения методов учета разницы в коэффициентах зату хания волн в контролируемом изделии и испытательном образце.При размещении устройства на плоскости МГперпендикулярной контактной поверхности, путем сканирования искателем 30 отыскивается максимум эхо-сигнала, прошедшего через изделие 3 и отразившегося от двугранного угла бруса 1 (отражателя) фиг. 2. В этом случае устройство можно перемещать по поверхности М 1. по всей высоте и таким образом настраивать чувствительность контроля, например, по высоте сварного шва или определять с высокой точностью глубину залегания дефекта. Формула изобретения Устройство для настройки параметров ультразвукового дефектоскопа при контроле магнитных материалов, включающее отражатель, отличающееся тем, что, с целью повышения точности настройки, оно снабжено магнитом, жестко скрепленным с отражателем, но акустически не связанным с ним в зоне отражения сигнала, а отражатель выполнен из материала, по акустическим свойствам аналогичного материалу контролируемого изделия. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. ГОСТ 14782 - 76 Швы сварных соединений. Методы ультразвуковой дефектоскопии.2. Авторское свидетельство СССР182925, кл. 6 011 Ч 29/04, 1965 (прототип). актор И, Гохфельд Техред А. Камышникова Корректор 3. Тарасова