Способ измерения глубины отпечатка при микроидентировании

Номер патента: 767617

Авторы: Бердиков, Пушкарев

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ о 11767617 Союз Советских Социалистических Республик(51)М. К . с присоединением заявки Нов а 01 И 3/0 Государственный комитет СССР оо делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретения В, Ф. Бердиков и О. И. Пушкарев Волжский филиал Всесоюзного научно-исследовательского института абразивов и шлифования(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ОТПЕЧАТКА ПРИ МИКРОИНДЕНТИРОВАНИИИзобретение относится к"способам определения физико-механическихсвойств в поверхностных слоях различных твердых тел и предназначенодля микромеханических испытаний,например на микротвердость.Известен способ измерения глуби-ны отпечатка при микроиндентировании,заключающийся в том, что в испытываемый образец непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграм-му вдавливания 13 .Однако в этом способе при измерении глубины отпечатка не учитываютвеличину упругой поДатливости системы "образец-прибор"ЦЬль изобретения - повышение точ- .ности измерений,указанная цель достигается тем, 20что повторно вдавливаютсферическийиндентор, по его перемещению определяют величину упругой податливостисистемы "образец-прибор" с учетом ихупругого сближения по Герцу,. и по 25разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой податливостисистемы "образец-прибор" определяютистинную глубину отпечатка индентора. 30 Способ осуществляется следующимобразом,На приборе с непрерывным вдавливанием индентора записывают диаграмму вдавливания алмазной пирамиды Виккерса в поверхность испытуемого образца. По этой диаграмме определяют величину перемещения и пирамиды при данной нагрузке, Затем записывают диаграмму вдавливания сферы. Диаметр сферы подбирается таким, чтобы вдавливание происходило без образования остаточного отпечатка, т. е, чтобы процесс вдавливания был чисто упругим. При выполнении этого условия на диаграмме вдавливания сферы линии нагружения и разгрузки должны совпадать, если этого не происходит, то следует взять сферу большего диаметра. По дйаграйме вдавливания сферы определяют перемещение псф, сферы при данной нагрузке и по ней с учетом величины упругого сближения о сферы с плоскостью образца (подсчитанной по формуле Герца при той же нагрузке) определяют упругую податливость скстемы "образец-прибор" пад." "сф767617 Формула изобретения Истинная"глубина отпечатка пирамиды равна разности перемещений пирамиды и сферы+ д,где 6 р - истинная глубина внедрения пирамиды под нагрузкой,Ь - перемещение пирамиды подиаграмме вдавливания;й Ф - перемещение сферы по диаграмме вдавливания;4 - упругое сближение сферыс плоскостью образца(по Формуле Герца гд нты Пуаупругосматерсферыо,.авливае с Фспертизе алаоот 1Геллер Юведение. М.,с. 179 (протот А. и др. МатериалоМеталлургия", 1975,ип). й Составитель И. МузычкиТехред Н.Варадулина орректор М. Пожо тор С имохи д 7002/1 ВНИИ по,г. Ужгород, ул. Проектная, 4 нлиал ППП "Патен е Р - нагрузка на сфе р,рЕ,Е, - козффицие и модули пытуемого материала ветственн В - радиус вд сФеры).Способ измерения глубины отпечатка.при микроиндентировании, заключающий, ся в том, что в испытываемый образец 5 .непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграмму вдавливания, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности измерений, повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определяют величину упругой податливости системы "образец-прибор"с учетом их упругого сближения поГерцу, и по разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой 15 податливости системы "образец-приборфопределяют истинную глубину отпечатка индентора.Источники информации щ принятые во внимание при эк

Смотреть

Заявка

2626368, 09.06.1978

ВОЛЖСКИЙ ФИЛИАЛ ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНОИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА АБРАЗИВОВ И ШЛИФОВАНИЯ

БЕРДИКОВ ВЛАДИМИР ФЕДОРОВИЧ, ПУШКАРЕВ ОЛЕГ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/40

Метки: глубины, микроидентировании, отпечатка

Опубликовано: 30.09.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-767617-sposob-izmereniya-glubiny-otpechatka-pri-mikroidentirovanii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения глубины отпечатка при микроидентировании</a>

Похожие патенты