Патенты с меткой «микроидентировании»
Способ измерения глубины отпечатка при микроидентировании
Номер патента: 767617
Опубликовано: 30.09.1980
МПК: G01N 3/40
Метки: глубины, микроидентировании, отпечатка
...вдавливания алмазной пирамиды Виккерса в поверхность испытуемого образца. По этой диаграмме определяют величину перемещения и пирамиды при данной нагрузке, Затем записывают диаграмму вдавливания сферы. Диаметр сферы подбирается таким, чтобы вдавливание происходило без образования остаточного отпечатка, т. е, чтобы процесс вдавливания был чисто упругим. При выполнении этого условия на диаграмме вдавливания сферы линии нагружения и разгрузки должны совпадать, если этого не происходит, то следует взять сферу большего диаметра. По дйаграйме вдавливания сферы определяют перемещение псф, сферы при данной нагрузке и по ней с учетом величины упругого сближения о сферы с плоскостью образца (подсчитанной по формуле Герца при той же...