Устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 746205
Автор: Дедловский
Текст
(53)М. Кл,С 013 1/04 с присоединением заявки Нов(23) Приоритет -Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий(088.8) Дата опубликования описания 070780(72) Автор изобретения М.М.Дедловский Ордена Трудового Красного Знамени Институтрадиотехники и электроники АН СССР(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАИЕТРОВ МНОГОСЛОЙНОГО СТЕКЛОВОЛОКНАИзобретение относится к области фотометрических измерений оптических свойств прозрачных для светового излучения образцов и может найти применение при измерениях параметров стекловолокна многослойной структуры, используемого в оптических линиях связи.Известно устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна 13, содержащее источник света, держатель волокна и регистрирующий приемный элемент.Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является 15 устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна Г 23, содержащее источник света, держатель волокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующий 20 элемент.Недостатком известного устройства является отсутствие центрирования стекловолокна в интегрирующей сфере вследствие выполнения гнезда для 25 установки стекловолокна в виде прорези, в интегрирующей сфере из кварца, покрытого светорассеивающей средой, через которую протаскивают стекло- волокно, что снижает точность и" вос производимость измерений и делаетустройство непригодным для измеренияпотерь на поглощение, так как оно неприспособлено для возбуждения волок, на,Цель изобретения - повышение точности и воспроизводимости измерений.Для этого в известном устройстведержатель выполнен из фторопласта ввиде шара диаметром не более 3 мм,снабженного коническим гнездом суглом конуса У0,1 О/д,где О - максимальный диаметр волокна,д в минимальн диаметр волокна.На чертеже представлена принципиальная схема устройства.Устройство содержит источник света1, держатель 2 волокна 3 и регистрирующий приемный элемент 4. Держатель2 выполней в,виде шара из фторопластадиаметром не более 3 мм, причем вшаре выполнено коническое гнездо 5с углом конуса Ч Й 01 О/дгде О - максимальный диаметр волокна,д - минимальный диаметр волокна.Устройство работает следующим образом.В шаре непосредственно перед процессом измерения иглой с углом заточки т" выдавливают коническое гнездо746205 формула изобретения Составитель В.ТраутРедактор Н.Воликова Техред М. Кузьма Вигула Коррек Подписное Заказ 3927/28 Тираж 713 ЦНИИПИ Государственного коми по делам изобретений и от 113035, Москва, Ж, Раушскета СССРытийнаб., д.4/5 ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 л в которое вкладывают волокно 3.Операция вкладывания волокна должнабйтБвыполнена в течение временидействия"восстайавливающих упругихсил, которые. затягивают гнездо, обеспечивая надежное крепление и центри "рование волокна в материале шара, Световой поток от.источника света 1,входящий,в шар со стороны, обратнойгнезду, рассеивается, причем индикатриса рассеяния близка к сфере, Волокно возбуждается излучением, рассеяйным в шаре, Распределение поля в шареблизко к равномерному, поэтому волокно возбуждается однозначно.Использование устройства существенно повышает точность и воспроизводимость измерений. Устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна, содержащее источник срета, держательволокна с гнездом для установки стекловолокна и приемный регистрирующийэлемент, о т л и ч а ю щ е. е с ятем, что, с целью повышения точностии воспроизводимости измерений, держатель выполнен из фторопласта в видешара диаметром не более 3 мм, снаб-.женного коничзским гнездом с угломконуса г 2 0,1 О/д,где О - максимальный диаметр волокнаРд - минимальный диаметр волокна.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1.КесМ Оспаа В., 5 рай 1 а апдСеврога роиег сгапьУег щеаьцгещепсьоп а 1 оиои орсса 1 иауег 9 иде,Арр 1 ед Орйсь, 1974,Р 8, р,1882-1888,2,0 ьйегаауег Г.У. Вепьоп Ы,Ч.,1 пйедгайп 9 рЬеге Гог щеаьцгпцьса 1 йегпо 1 оьь и ор 1 са ГЬегиачеяц 1 деь Ррред Орй 1 сь, 1974,Р 8, р.1900-1902(прототип).
СмотретьЗаявка
2548621, 25.11.1977
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ РАДИОТЕХНИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ АН СССР
ДЕДЛОВСКИЙ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01J 1/04
Метки: многослойного, параметров, стекловолокна
Опубликовано: 05.07.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-746205-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-mnogoslojjnogo-steklovolokna.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров многослойного стекловолокна</a>
Предыдущий патент: Ультразвуковой виброметр
Следующий патент: Горелка для атомно-абсорбционного спектрофотометра
Случайный патент: Задвижка для трубопроводов