Способ контроля влагостойкости микропроводов в стеклянной изоляции

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сооэ СоеетскияСоциапистическияРеспублик и 726591,78 (21) 260718 0 аявлено 20,и исоединением за есудврствеяявв яемятет СССР о делам язюбретеяяй я аткрктяй.80. Бюллетень РЙ 53) УД Дата опубликования описания 4.80 Шамота, В. И. Шнайдерман и В. 3. ШуВптТРОЛЯ ВЛАГОСТОЙКОСТИ МИКРОПРОВОДО В СТЕКЛЯННОЙ ИЗОЛЯЦИИ4) СПОСО качествеу с кислот-у осущест.я к технологии дов, в частности вгостойкости мщ:- изоляции,роля влагостойющийся в том. тельное врее влаги, послеление изоляции т о влагостойкаче ольэуют пои жилой знаку котоовода. ируетс ч Недостатками известного способа являются длительная выдержка при контроле (до нескольких суток), необходимостьприменения сложного климатического оборудования, занимающего значительную "плошадь, а также значительная энергоемкость, связанная с необходимостьюдлительного обеспечения параметров климатического оборудования,Пель изобретения - повышение производительности и упрощение методов контроля,Изобретение относитспроизводства микропрово к способам контроля вл ропроводов в стекляннойИзвестен способ конт кости проводов, эаключа что образец провода дли мя выдерживают в камер чего проверяют сопротив и по его изменению судя кости провода 11 Это достигается тем, чтосреды используют водную среностью рН = 4,5-8,5; выдержквляют в течение 3-5 мин, аконтрольного параметра исптенциал между водной средоймикропровода, по величине ирого судят о влагостойкости иПредложенный способ иллюс ертежом,Устройство включает жилу микропровода 1, изоляцию микропровода 2, вспомогательный электрод 3, сосуд с водной средой 4, измерительный прибор 5.Из теории электрохимических процессов в системе твердая фвзв-электролитизвестно, что на межфазной границе возникает контактная разность потенциалов,величина которой зависит от строениядвойного электрического слоя, природыконтактирующих материалов, интенсивности ионообмена между электролитом иполупроницаемой мембраной, отделяющейэлектрод от электролита, специфической3 7265адсорбции ионов на поверхности мембраны и строения границы между мембраной и электродом. Мембраной в рассматриваемом нами случае является стекло видное покрытие, элехтролитом - воднаясреда с кислотностью рН=4,5-8,5, электродом - металлическая компонента исследуемой слоистсй структуры (жила .михропровода ). В конечном итоге эффект влияния влаги сводится к возникновению внешней разности потенциаловЬОот зарядов двойного электрического слояи изменения под действием электрического поля Е = ф ЬО внутренней энергетической структуры в объеме стекловиднойпленки и, в особенности, в переходных. слоях стекла, прилежащих к металлу. Находящиеся в стекле подвижные носителизаряда (катионы, электроны, дырки) объединяются в объемный пространственныйзаряд и мигрируют под действием приложенной извне разности потенциалов либок поверхности металла, либо к поверхности стекла, Подобная миграция прйводитк появлению токов утечки, шунтирующихцепей и к изменению электрическихсвойств изоляции, Соответственно изменяются при этом электрические параметры композиции в целом,ЭОПроведенные исследования показали,что для каждого типономинала микропровода в стеклянной изоляции существует 01значение поверхности потенциала, по величине и знаку которого можно судить о влагостойкости микропровода, Исследования проводились путем .сравнения измеренных значений поверхностного потенциала с влагостойкостью того же провода, определенного по известной методике.формула изобретенияСпособ контроля влагостойкости микропроводов в стехлянной изоляции, заключающийся в размещении провода в водосодержащей среде, выдержке провода в указанной среде и определении измененийконтрапьных параметров провода послевыдержки, о тл и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения производительности и упрощения методов контроляу вкачестве среды используют водную среду с кислотностью рН = 4,5 - 8,8,выдержку осуществляют в течение 3-5 мич,а в качестве контрольного параМетра используют йотенциал между водной средойи жилой михропровода, по величине и знаку хоторого судят о влагостойкости провода,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. ГССТ 22261-76 п. 1.9.1, с, О. Ц 1 ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 1130 Я, Москва, Ж 35, Раушская наб., д, 4/5