Спектральный способ определения концентрации веществ

(23) ПриоритетОпубликовано 25,01,80. Бюллетень Я дДата опубликования описания 30.01.80по делан иэпбретений н открцткй(54) СПЕКТРАЛЬНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАттИИ ВЕШЕСТВлитических пар. Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при атомно-абсорбционных измерениях.Известен способ определения концентрации химических элементов методом атомной абсорбции, в котором, кроме резонансной линии, используется для учета неселективного поглощения вторая линия (нерезонансная), расположенная вблизи аналитической 11.На резонансной линии измеряется оптическая плотность пламени, которая определяется атомным и неатомным поглощением используемой резонансной линии. Неатомное (неселективное) поглощение измеряется на нерезонансной линии и искомая величина находится как разность двух измерений.Такой способ измерения атомного поглощения может быть применен к ограниченному числу элементов, так как большинство элементов не имеет таких анаНаиболее близок к преплагаемомуизобретению спектральный способ определения концентрации веществ с учетомнеселективного поглощения при проведении атомно-абсорбцнопного анализа, вклю.5чающий измерение оптической плотностианалитической ячейки, определение коэффициента атомного поглощения на единицу концентрации и расчет по полученнымданным кОнцентрации Определяемого ве- тОщества 21. В этом способе используют.свет от двух источнпков (спектральнойлампы, излучяошей резонансную линиюопределяемого элемента, и дополнитнтьной лампы, излучающей непрерывный т 5спектр в области резонансной линии), который попеременно с чомошьто модулятора и зеркала пропускается через пламя,Недостатком этого способа является 26 неудовлетворительная точность анализа,связанная с трудностью совмещения изображений светящего тела спектральнойлампы и источника сплопшого излученияв одной плоскости аналитической зоны3 71 пламени, Зто обусловлено тем, что светящие теда этих ламп разди,ны по форме. а формируется их изображение практически одними и теми же оптическими элементами осветительной системы, Вследствие этого измерение поглощения при просвечивании пламени различными источниками света производится в разных аналитических зонах, что ведет к понижению точности определения концентрации вещества при наличии оптической помехи.. )1 ель изобретения - повышение точности анализа.Это достигается тем, что оптическую плотность аналитической ячейки определяют на резонансной линии анализируемого элемента при двух значениях ее ширины, на которых коэффициенты атомного поглощения отличаются в 2-10 раз, причем коэффициенты атомного поглощения определяют при двух значениях ширины резонансной линии, а затем рассчитывают концентрацию по формуле-2с= -А;,й Спектральный способ определения концеятрации веществ с учетом неселективного поглощения при проведении атомно-абсорйионного анализа,вклГочающий измерение оптической плотности аналитическойячейки,определение коэффициента атомногопогдошения на единицу концентрации ирасчет по полученным данным концентрации определяемого вещества, о т л и -ч а ю ш и й с я тем, что, с целью повышения точности анализа, оптическуюплотность аналитической ячейки определяют на резонансной линии анализируемого эдемента при двух значениях ее ширины, при которых коэффициент атомногопоглощения отличаются в 2-10 раз, при-,чем коэффициенты атомного поглощения40 определяют при двух значениях ширинырезонансной линии, а затем рассчитываютконцентрацию по формуле0 -ЗС=где Г),Э - оптическая плотность аналигдетической ячейки для первогои второго значения ширинырезонансной линии;,О,О - коэффициенты поглощения при-о двух значениях ширины резонансной линии.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Прайс В, Аналитическая атомно 55абсорбциэнная спектроскопия, - д; р,- 1 О; Ми1976, е. 157.2. Патент Австралии263585,кд, 00.4, 1967 (прототип). ЩГ о 2ЭГ эта2 Сзт М - - -" -Ц а ---С ЭТгде Г.Г,Э - оптическая плотность анадитической ячейки для первогои второго значения ширинЫрезонансной линии:Д д - коэффициенты поглощения приГ йдвух значениях ширины резонансной линии,Примером использования предлагаемого изобретения служит определение концентрами цинка с помощью однолучевого атомно-абсорбционного анализатора в искусственном растворе, содержащем , кроме цинка ГГрГГГлесь еатрия ( 1 ю)со здаюшего неседективную помеху.В качестве просвечивающего источника используется спектральная лампа с одним полым катодом, излучающая спектр цинка. В режиме работы лампы 8 мА и 35 мЛ измеряюг коэффициент поглошяния,Ц и ф . Пля этого измеряют интенсивность резонансной линии 3, при введении в атомизатор воды (растворителя) и 3 при введении в атомизатор эта.ЭТдонного раствора с известной концентрацией цинка Г. ) эталонный раствор неЭТселективной помехи не создает).Коэффициент поглошения О и 02находят по формулам 1441При введении в атолщзатор исследуемого раствора измеряют 3 у, и 3приработе спектральной лампы и тех жедвух режимах работы.,Оптические плот 5ности пламени Э и 2 находят извыражений)о 1 1 ойа= зХ 4Неизвестную концентрацию СХ определяют из выраженияСЪ- Ч)Предлагаемое изобретение найдет шп 15 рокое применение в тех отраслях народного хозяйства, в частности, в цветнойметаллургии, где требуется высокая точность определения концентрации элементов в объектах сложного состава.20Формула изобретения