Способ магнитной дефектоскопии

экю ИР япа , ен нс те, ь , а-снял ОП И Союз Советскик Социалистических Республик) Дополнительное к авт. свид-ву 51 М. Кл 22) Заявлено 13;05.7 4679/25-28 И 27/82 присоединением заявки М рственный комитетСССРелам изобретенийи открытий осур(71) Заявитель еский тавропольский государственный пединститут 4) СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ с 15 О ропус- аллель 9 аг- линзу Изобретение относится к методам нераэрушающего контроля и может быть использовано в различных отраслях машиностроения для обнаружения дефектов в изделиях из Ферромагнитных материалов.Ближайшим по технической сущности к изобретению является способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительную линзу и по распределению ферромагнитной жидкости в поляризованном луче света судят о наличии дефекта 1)Недостатком способа является то, что контролируемая поверхность иэделия должна быть строго горизонтальнаэто усложняет процесс контроля, не позволяет контролировать наклонные поверхности изделия.Цель изобретения - упрощение процесса контроля и повышение достоверности контроля.Цель достигается тем, что по предлагаемому способу используют линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайней мере одна из которых является оптически прозрачной, с размещенной между пластинами ферромаг- "Й-И-Енитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия,Поляризованный луч пропускают через линзу в прямом и обратном направлениях, а линзу и иэделие одновременно поворачивают относительно плоскости поляризации луча.На Фиг, 1 и 2 приведены соответственно первый и второй варианты схем для осуществления способа.На поверхности контролируемого изделия 1 размещают магниточувствительную линзу в виде двух плоско- параллельных пластин 2 и 3, между ними размещена ферромагнитная жидкость 4, которая может удерживаться за счет сил молекулярного сцепления. Луч света от источника 5 света поляризуется поляризатором 6. Прошедший линзу луч попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8.Способ осуществляется следующим образом. Луч света от источника 5 кают через поляризатор 6 пар но контролируемой поверхност иэделия 1, пластины 2 и 3 ли заключенную между ними Ферро нитную жидкость 4. Прошедший697905 формула изобретения фиЕ. ЯИПИ Заказ 6919/31 Тираж 1073 Подписное илиал ППП Патент, г, Ужгород, ул, Проектная луч попадает на анализатор 7, который в отсутствии линзы устанавливается на гашение света. Луч проектируется на установленный эа анализатором 7 фотоприемник 8,При размещении линзы на контролируемой поверхности поле рассеяниядефекта изменит поляризацию луча,изменится его интенсивность и положение иэоклин.Для более надежной индикации деФекта линзу и изделие одновременноповорачивают относительно луча света,а также поворачивают линзу относитель.но иэделия, обеспечивая контрастноеиэображение.По положению изоклин судят о наличии дефекта, его величине и расположении,Для случая контроля иэделия сложной конфигурации пластина 3 (фиг.2)выполнена в виде зеркала. Луч света,пройдя поляризатор 6, падает на полупрозрачную пластину 10.Отразившись частично от пластины10, луч попадает на жидкостную магниточувствительную линзу и, отразившись от ее зеркала, вновь проходитполупрозрачную пластину 10, попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8.Предлагаемый способ позволяетзначительно упростить процесс контроля, не снижая его точности и надежности1. Способ магнитной дефектоскопии,заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительнуюлинзу и по распределению ферромагнитной жидкости в поляризованномлуче света судят о наличии дефекта,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью упрощения процесса контроля,используют линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайнеймере одна иэ которых является оптически прозрачной, с размещенной между пластинами ферромагнитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия.2 Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, поляризованный луч пропускают через линзув прямом и обратном направлениях.3. Способ по пп.1 и 2, о т л ич а ю щ и й с я тем, что линзу иизделие одновременно поворачиваютотносительно плоскости поляризациилуча,Источники информацииюпринятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР9 393665, кл. С 01 И 27/82, 1971