Способ измерения наклонов морской поверхности

Номер патента: 679798

Автор: Народницкий

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 030278 (21) 2577128/181)М. Кл присоедииением заявки Мо 6 01 С 23 0 ударствемиыЯ комитет ссср делам итобреений 23) Приорите открыт 3) УДК 527.623(5 4СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАКЛОНОВ ИОРСКПОВЕРХНОСТИ 0 Изобретение относится к области океанографии и может быть использовано при дистанционных измерениях характеристик морской поверхностиИзвестен способ измерения наклонов морской поверхности, при котором облучают одним вертикально направленным лучом поверхность морской волны (ультразвуковыми колебаниями), принимают отраженные от исследуемой поверхности сигналы в трех или более точках, сравнивая их с спорным, определяют время распространения ультразвуковых колебаний и пройденных ими расстояний до трех и более точек и определяют по ним исходный наклон 1) Недостатком данного способа является узкий частотный диапазонизме ряемых величин.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является способ измерения наклонов морской поверхности, основанный на вертикальном зондировании морской поверхности импульсными сигналами, приеме рассеянных сигналов в обратном направлении и измерении их интенсивности 2,Недостатком данного способа является сложность измерения наклонов коротковолновой части спектра морской поверхности,Целью изобретения является упрощение измерения наклонов коротковол новой части спектра морской поверхностиДля этого па предлагаемому способу измерения наклонов морской поверх ности одновременно с интенсивностью обратно рассеянных сигналов измеряют их длительность, определяют зависимость интенсивности от длительности и по приращению длительности, соответствующей уменьшению интенсивнос ти от максимальной до уровня В от,5 носительно максимальной, определяют величину среднеквадратичного наклона коротковолновой части спектра морской поверхностиНа фиг. 1 приведена блок-схема устройства, реализующего способ;на фиг, 2 - профиль морской поверхности, на которую падает луч ве тикальноориентированной антенны ( -угол между зондирующим лучом и нормалью к средней плоскости облученного участка размера 1.); на Фиг. 3 - зависи67978 Формула изобретения аж 866 Подписно/35 К Зака лиал ППППатентф, г.ужгород, ул, Проектная,мость интенсивности обратно рассеян- ных сигналов ( Х обр) от модуля наклона облученного участка поверхности (ф 6)Способ может быть реализован слепукнаим образом.С помоцпю приемно-излучающей системы ), включающей излучатель и совмещенный с ним приемник, формируют зондирующие сигналы, посылают их в вертикальном направлении на морскую/ поверхность А и принимают рассеянные поверхностью сигналы. Принятые сигналы подают на измерительинтенсивности и измеритель 3 длительности, Информацию об интенсивности и длительности каждого из сигналов с этих измерителей подают .,на анализатор 4. Он регистрирует приращение длительности, при которой происходит уменьшение интенсивности до уровня е ф относительно максимальной. Полученную величину приращения длительностидТ преобразуют масштабным устройством 5 в соответствующую этому уменьшению интенсивности величину модуля наклона (1 ув ) облегченного участка, равную среднеквадратичному наклону коротковолновой части спектра волнения, по формуле где ).; - скорость распространения сигналов в среде;4 - размер облученного участка. Использование предложенного способа позволяет получить информацию о коротковолновой части спектра волнения при наличии только одного приемника, т.е. позволит упростить реализацию способа измерения среднеквадра тичного наклона коротковолновой части спектра морской поверхности,Способ измерения наклонов морской10 поверхности, основанный на вертикальном зондировании морской поверхностиимпульсными сигналами, приеме рассеянных сигналов в обратном направлениии измерении их интенсивности, о тличающийся тем, что, сцелью упрощения измерения наклоновкоротковолновой части спектра морскойповерхности, одновременно с интенсивностью обратно рассеянных сигналовизмеряют их длительность, определяютзависимость интенсивности от длительности и по приращению длительности,соот вет ствующей уменьшению интен сивности от максимальной до уровня е Мотносительно максимальной, определяют величину среднеквадратичного наклона коротковолновой части спектраморской поверхности,Источники информации, принятые вовнимание при экспертизеЗО1, Авторское свидетельство СССРР 330341, кл. С 01 С 23/00, 24,02,72,2. Автооское свидетельство СССРР 543826, кл . О 0 1 С 23/00, 25.0 177,

Смотреть

Заявка

2577128, 03.02.1978

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2539

НАРОДНИЦКИЙ ГЕННАДИЙ ЮРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01C 23/00

Метки: морской, наклонов, поверхности

Опубликовано: 15.08.1979

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-679798-sposob-izmereniya-naklonov-morskojj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения наклонов морской поверхности</a>

Похожие патенты