Способ измерения деформаций многослойных образцов

Номер патента: 937987

Авторы: Геращенко, Логинов

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 05,11.80 (21) 3000795/25-28 с присоединением заявки РЙ Ркударотакнкый комктет СССР ао делам кзабретенкй и открытий. Дата опубликования описания 23,06.82(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ МНОГОСЛОЙНЫХ ОБРАЗЦОВ Изобретение относится к измерительной технике, а именно к рентгенографическим способам определения деформациймногослойных образцов из оптически непрозрачных материалов.Известен способ измерений деформаций образцов из оптически непрозрачногоматериала, заключающийся в том, чтона поверхности разъема исследуемого образца образуют кинавки, укладывают вних проволочную сетку, отличающуюсяпо своим физико химическим свойствамот материала образца 11 .Недостатком известного способа является искажение результатов измерения деформаций вследствие сопротивлениядеформированию каркаса координатнойсетки,Наиболее близким к изобретению является способ измерения деформаций многослойных образцов из оптически непроэрачного материала, заключающийся в том,что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепроницаемый материал,ренгтгенографируют образец до нагружения и после нагружения, сравниваютснимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца.Сетку получают путем введения краскив штриховые углубления одной из поверхностей разьема, которые наносят на заточном станке 21,Недостатком известного способа является искажение результатов измерениядеформаций вследствие выполнения штриховых углублений, которые являются концентраторами напряжений и уменьшаютпрочностные характеристики исследуемыхобъектов, а также вследствие разруше15ния илиотслоения ренчгенонепроницаемого материала при больших деформациях,при. циклических нагрузках и при высокихтемпературах,Цель изобретения - повышение точноо 20ти измерений деформаций.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу измерения деформаций многослойных образцов из опти937987 фния деформаций за счет исключения указанных недостатков. чески непрозрачного материала, заключающийся в том, что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепро. нипаемый материал, рентгенографируют образец до нагружения и после нагруже- з ния, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца, нанесение рентгенонепроницаемого мате-. риала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуеО мого образца.Способ осуществляется следующим образом.В процессе изготовления многослойного образца нанесение рентгенонепрони цаемого материала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуемого образца, например вакуумированием. для этого в вакуумную камеру помещают разобранный образец 2 О с напиленными частицами рентгенонепро кидаемого вещества и создают вакуум. Во время процесса вакуумирования очищаются опоры образца и удаляется из них воздух. Затем выключают установку и сообщают вакуумную камеру с атмооферой. При этом воздух, устремляясь в поры, увлекает частицы рентгенонепроницаемого вещества. Эти частицы заполняют объем пор и прочно фиксируются в них. После этого очищают соединяемые поверхности слоев и производят сборку образца, соединяя его слои, , Рентгенографируют образеп до нагругения и после нагружения, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образпа.,Пля рентгенографировннкя применяют рентгеновскую пленку е высокой разрушшо щей способнос тью например РТ 5 4 ОИспользование предлагаемого способа обеспечивает повыщение точности измереПредлагаемый способ позволяет точно измерить деформации объектов, имеющих малые абсолютные размеры, так как измерения ведутся на уровне межмолекулярных пор. Точное измерение деформаций при испытаниях позволяет более достоверно рассчитывать элементы реальной конструк пии, например при проектировании и изготовлении летательных аппаратов, сосудов, транспортных средств и других сооружьний, в которых применяются многослойные конструкции. Формула изобре тен ия Способ измерения деформаций многослойных образпов из оптически непрозрачного материала, заключающийся в том,что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепронкпаемый материал,рентгенографируют образец до нагруженияи после нагружены, сравнивают снимкии по результатам сравнения определяютдеформацию образпа, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с пелыо повьппенияточности измерений, нанесение рентгенонепронипаемого материала осуществляют путем введения его в поры каждогослоя материала исследуемого образца,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР% 287385 ф кл. 601 В 5/301 1969.2, Авторское свидетельство СССРМо 520511, кл, 6 01 В 15/06, 1972прототип).Составитель Е. Щелина Редактор ЦДушненкова Техред АБабинец Корректор У. ПономаренкоЗаказ 4439/58 Тираж 614 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретенийи. открытий.

Смотреть

Заявка

3000795, 05.11.1980

РОСТОВСКОЕ ВЫСШЕЕ ВОЕННОЕ КОМАНДНОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. ГЛАВНОГО МАРШАЛА АРТИЛЛЕРИИ НЕДЕЛИНА М. И

ГЕРАЩЕНКО МИХАИЛ ДЕНИСОВИЧ, ЛОГИНОВ ЕВГЕНИЙ АРКАДЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/30

Метки: деформаций, многослойных, образцов

Опубликовано: 23.06.1982

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-937987-sposob-izmereniya-deformacijj-mnogoslojjnykh-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций многослойных образцов</a>

Похожие патенты