Устройство облучения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 658999
Авторы: Николаенко, Тюфяков
Текст
Союз СоветскихСоцивпистическихРеспубпик нц 658999(53) УД( 539,1. ,03(088.8) дв делам нзооретеиий и открытийДата опубликования описания 28,02.80(54) УСТРОЙСТВО ОБЛУЧЕНИЯ Изобретение относится к аппаратуредля нейтроппо-активационпого анализаэлементного состава вещества и можетбыть использовано в геологии, горпообогатительной промышленности, цветной и5черно й металлургии.Известны устройства для активацееон- .ного анализа с использованием радиоизотопных нейтронных источников и генераторов нейтронов Щ. Анализ проводит-,ся по реакциям на быстрых и тепловыхнейтронах.Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому является устройство облучения для актнвациошюго анализа, содержащее изотопный исто цеппнейтронов, расположенный в замедлителенейтронов, и канал для размещения анализируемого вещества 121,Для повышения чувствительности анализа образец целесообразно приблизитьк источнику нейтронов, Геометрия облучения не позволяет обеспечить,.наилучшие,условия одновременного облучения образцов быстрыми и тепловьее,ее. ееейтроееамее., так как осееовееач масса пзлучающего вещества в исто липее зна ееететеьееоудалена от обее,еаемого образца.Пель еезебретентеп - повышение чувстВеетельееости ее точееостп а 1 ейеЕчза (аее па быстрых, .так и па тец.:.еопь 1 х нейтропах,Поставленная цель достеп псе=я тем, что в устройстве облучения, содержащем изотопееыйе источниг. нсйтроееов, ряспоееоженный в замедлителе нейтронов, и канал для размещения анализируемого вещества,еестотих выполнен в виде полого цилиндра, усеченного плоскостью,проходящей через его ось, а канал для размещепия анализируемого вещества расположеее соосно с источееикоье.Предлагаемая конструкция устройства облучения имеет существенные преимущества перед прототкпом по плотности и однородности потока быстрых и тепловых нейтронов (в совокупности). Эффективное расстояние от излучающей области источника до образца оказывается су658999 щественпо меньше, что дает вынгрьпц в плотности потока быстрых нейтронов более 5 О 6 (например, для канада диаллетрол 28 мм и источника с объемом активной части ХО см). Равноудаленность, излучающих элементов источника от оси образца обеспечивает однородный поток быстрых нейтронов, Геометрия облучения в предлагаемой конструкции позволяет также эффективно использовать поток тепловых нейтронов, который в области размещения образца близок к максимальному.На чертеже изображена конструкция предлагаемого устройства,На чертеже приняты следующие обозначения: 1 - транспортный канал р 2 - замедлительный блок, 3 - источник нейтронов., 4 - образец.Перемещаемое по транспортному кана. лу 1 в область источника 3 нейтронов анализируемое вещество подвергаетсч облучещпо смешанным потоком быстрых и замедленных нейтронов. Примером эффективного использования указанных условий облучения может служить решение задачи одновременного определения фтора по реакции на быстрых нейтронах, ОФ19 Г о,сс) и индия по реакциина тепловых нейтронах 1 Х 53 (ч,У ) 3 к сСг -Ве) источником. 4Предлагаемое устройство может бытьиспольювано как для анализа образцов,так и для непрерывного анализа вещества(например, в виде раствора или пульпы)в движении. Формула изобретени я 10 Устройство облучения для активационного анализа, содержащее изотопный источник нейтронов, расположенный в замедлителе нейтронов, и канал для размещения анализируемого вещества, о т л и ч ающ ееся тем,что, с цельюповышения чувствительности и точности анализа как на быстрых, так и на тепловыхнейтронах, источник выполнен в виде полого цилиндра, усечешого плоскостью, про ходящей через его ось, причем канал дляразмещения анализируемого веществарасположен соосно с источником. Источники информапии,принятые во внимание при экспертизе1, Кирьянов Г, И. и др, "Исследование влияния конфигурации мишеней генератора на распределение плотности потока нейтронов, ВНИИРТ-З, М,2, Авторское свидетельство СССР % 342518, кл, 6 01 И 23/22, 1972.
СмотретьЗаявка
2464771, 21.03.1977
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-3430
НИКОЛАЕНКО О. К, ТЮФЯКОВ Н. Д
МПК / Метки
МПК: G21H 5/00
Метки: облучения
Опубликовано: 25.02.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-658999-ustrojjstvo-oblucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство облучения</a>
Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества
Номер патента: 1689819
Опубликовано: 07.11.1991
Авторы: Варлачев, Солодовников, Цибульников
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, вещества, рентгенофлуоресцентного
...и потому Ь с и о с,а вектора перпендикулярен плоскости этой окружности,Устройство работает следующим образом,После того, как пробу помещают в прободержатель, она принимает форму прободержателя. Гамма-кванты направленного источника 1 падают на рассеиватель 2 вдоль вектора а, На рассеивателе они рассеиваются и генерируют ХРИ его атомов, От рассеивателя гамма-кванты не могут напря-. мую попасть на детектор из-за наличия экрана 6, Поэтому на детектор они попадают только после рассеивания на атомах пробы, помещенной в прободержателе 3, Один из возможных путей гамма-квантов от рассеивателя до детектора показан векторами Ь и ь, Однако излучение от источника не может попасть на детектор, Это связано с тем, что после рассеивания на...
Способ и устройство для атомноабсорбционного анализа вещества
Номер патента: 1068731
Опубликовано: 23.01.1984
Авторы: Брагин, Карабегов, Месропов, Хуршудян, Цикаридзе
МПК: G01J 3/42
Метки: анализа, атомноабсорбционного, вещества
...ч а ю щ е е с я тем, что,с целью, уменьшения погрешности измерений, в устройство введено устройство регулирования длительности импульса питания, входы которого подключены к выходам устройства сравнения исинхронизирующего устройства, авыход - к входам блока питания источника излучения сплошного спектраи цифрового измерительного устройства. ства соединены с блоком питания источника резонансного излучения и коммутатора, введено устройство регулировалия длительности импульса питания, входы которого подключены к выходам устройства сравнения, и синхронизирующего устройства, а выход -к выходам блока питания источникаизлучения сплошного спектра и цифрового измерительного устройства. 5На фиг. 1 поканаза структурнаясхема ААС, реалиэирующего...
Способ рентгенорадиометрического анализа вещества
Номер патента: 1383173
Опубликовано: 23.03.1988
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, вещества, рентгенорадиометрического
...В интервале концентрационного вырожденияаналитического графика облучениепроводят под углом, близким к 90,1 з.п, ф-лы, 1383173ет линейность в более широком диапазоне содержаний,При проведении анализа вещества неизвестного состава облучение осуществляют под углом 45 к поверхОности вещества. Зарегистрировав.интенсивность ХРИ олова и фона, по аналитическому графику определяют концентрацию олова. Если содержание олова попадает в интервал концентрационного вырождения аналитического графика, то дополнительно облучаютввещество под углом90 и по второму аналитическому графику находят концентрацию олова.Способ позволяет повысить точность анализа и увеличить диапазон определения анализируемых элементов.формула изобретения1. Способ...
Способ количественного рентгеноспектрального анализа вещества
Номер патента: 1518746
Опубликовано: 30.10.1989
МПК: G01N 23/223
Метки: анализа, вещества, количественного, рентгеноспектрального
...платины Ь для проб наУрентгеновском спектрометре РИфирмы "Филипс". Измерения на этом спектрометре позволяют автоматически учитывать фон. С помощью ЭВМ, встроенной в спектрометр, рассчитывают коэффициенты уравнения (1).Для приведенного примера уравнение (1) имеет видСсз= 0 + Оэ 00012 ТсКонцентрацию платины в анализируемом материале рассчитывают по формуле (2) . 3. отходы ДНП5. Ре О где 11 - вес синтетической пробы, г;Я - вес добавки анализируемогоДмматериала;1 - интенсивность линии элемен.Д 5та в синтетической пробе сдобавкой анализируемого материала.Синтетические пробы без добавок: анализируемого материала используются 10 в дальнейшем при анализе других материалов на содержание того же элемента. Поэтому для каждого нового материала...
Способ термического анализа вещества
Номер патента: 569923
Опубликовано: 25.08.1977
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, вещества, термического
...исспедуемого вещества, а ввод и. прием акустических колебаний осуществлять через промежуточные среды.Поясним изобретение теоретическим выводом расчетных формул.Пусть исследуемое веещство длины( нагревается. Если некоторыйсигнал (напри мер, "гребень" упругой волны) вошел в, атот участок в момент времени 2 ( а и момент в"емениГф Г вышеп из него, то можно записать. предполагая что функция С(/.) интефируема,55 получаем где С - скорость распространения упругихкопебаний. 4Пустьтеперь некоторый /второй сигналвошел в участок в момент 2 фй ф С Ч ьи вышел из него в момент 8 Г = 2 Фд 2тогда аналогично У1 д -.тХС(Г)СИ"=(Г)-с( ) Ъ7,й %Будем считать, что размеры образцаизменились незначительно за промежутоквремени между двумя сигналами, тогдаможно...
Предыдущий патент: Сплав на основе меди
Следующий патент: Изолирующий регенеративный распиратор
Случайный патент: Способ получения аминоарилакридинов