Устройство для термокомпенсации
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 636681
Авторы: Каравайцев, Федоров
Текст
ОП ИСАНИЕ ии 636681 Союз Советских Социалистических Респубпик.77 (21) 2496639/ С 12 В 7/О Государственный комитет Совата таинистроа СССР оо делам нзоорвтаннй н открытий) УДК 621-555; :621. 1 (088.8) 43) Опублнковано 05, 12,78,Бюллетен 4 о) Дата опубликования описания 25 2.78(72) Авторы нзобретени А. К. федоров и Е. Ф. Каравайде 73) Заявите УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕРМ ПЕНСАД присоединением заявки23) Приоритет Изобретение относится к приборостроению, в частности к разделу компенсации.Устройство для термокомпенсации можетбыть применено в узлах крепления изделий,например оптических, не допускающих пережатия, вызываемого резкими колебаниямитемпературы в режимах с различными температурными коэффициентами линейного расширения.Известны устройства для термокомпенсации преимущественно оптических изделий,содержащие компенсирующий элемент, рас.положенный межлу корпусом и оптическимизлелиемГ 11,Недостатки этих устройств - высокаятрудоемкость изготовления, сложность конструкцик и большие габариты,Цель изобретенияупрогцение конструкции и повышение надежности - достигается тем, что в устройстве для термокомпенсации иреимугцесч веино оптических изделий, содержащем компенсирующий элемент,расположенный между корпусом и оптическим изделием, комиеисирукиций элемент выполнен в внле тонкостенного упругого кольцас чередующимися выступами на внешней ивнутренней иоверхиосгях, причем соседние выступы однои поверхности симметричны относительно выступа другой поверхности.На чертеже изображен общий вил уст. ройства для термокомиенсации в разрезе.Компенсирующий элемент 1, расположенный между корпусом 2 и предохраняемым изделием 3, выполнен в виде упругого тонкостенного кольца с выступами 4 и 5 на внешней и внутренней поверхностях.Радиальные усилия, образующиеся при неодинаковом изменении размеров корпуса и оптического изделия, имеющих радналь; ные температурные коэффициенты линейного расширения, вызывают ралиальные перемещения выступов, например 4, элемента 1, которые в свою очередь вызывают вынужденные прогибы промежутков. В результате прогибов перемешаются противолежащие выступы 5 элемента 1, но уже в противополож. ном радиальном направлении, и образуется микрозазор.Таким образом, устройство лля термо. компенсации преобразует усилие в радиальном направлении от температурных перепадов в микрозазоры, а величина микрозазо. ров или усилий между корпусом, компенсирующим элементом и оптическим изделием63683 Формула аэобретенил Составитель О. КуарТехред О. гуговаяТираж 663 Редактор Б. Федото Заказ 6958/42 НИИПИ Госуда рственнделамосква,Пате го комитета Советаизобретений и открЖ 35, Рах нн кая на т, г. Уж город, ул3035, Мал ПГ зависит от первоначально выбранных посадок, подбора температурного коэффициенталинейного расширения деталей и жесткостиком пенси ру ощего элемента. Устройство для термокомпенсации преимущественно оптических изделий, содержащее компенсируоций элемент, расположенный между корпусом и оптическим изделием,отличии)щеесл тем, что, с целью упрощения конструкции и иовыпения надежности, компенсируопий элемент выполнен в виде тонкостенного упругого кольца с чередуощими.ся выступами на внешней и внутренней поверхностях, тричем соседние выступы одной поверхности симметричны относительно выступа другой поверхности.Источники информации, принятые во внимание прн экспертизе:в . Кругер М. Я. Справочник конструктора оптико-механических приборов. Машгиз, М.Л., 963, с. 358, фиг, 249. яв неваКорректор С. ШекмаПодписноеМинистров СССРьо ийб, д. 4/5Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2496639, 15.06.1977
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5537
ФЕДОРОВ АРКАДИЙ КОНСТАНТИНОВИЧ, КАРАВАЙЦЕВ ЕВГЕНИЙ ФЕДОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G12B 7/00
Метки: термокомпенсации
Опубликовано: 05.12.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-636681-ustrojjstvo-dlya-termokompensacii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для термокомпенсации</a>
Предыдущий патент: Постоянное запоминающее устройство
Следующий патент: Гибкий кабель
Случайный патент: Способ определения концентрации точечных дефектов с известным зарядом в сегнетоэлектрических кристаллах