Способ определения долговечности свч-диодов

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Своз СоветсииаСоциалистическихреспублик(53) М. Кл. Сг 01 Й 31/26 с присоединением заявки 36 -Государственный комитетСовета Министров СССРпо дедам изобретенийи открытий(23) Приоритет(43) Опубликовано 250778. Бюллетень Рй 27 (45) Дата опубликования описания 090678(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ СВЧ-ДИОДОВ рительно определяют коэффициент форсирования мощности по результатамкратковременных воздействий на приборэлектрической мощностью ступенчатовозрастающего значения, длительностьступени определяется постоянной времени прибора, а разница .в амплитудесоседних ступеней не превышает 20 1 эначения яоминальной мощности, приэтом долговечность определяют поФормулетн=ттр фгде ть,р - коэфФициент Форсирова- )5ния электрической мощности п е );1 Р в , время проведения испытаний в форсированном Ре жиме; ти - время (долговечность)проведения испытаний вр нормальном режимерф -Ч"относительное приращение электрической мощ"риности 1 Изобретение относится к электрон-ной технике и может быть примененодля контроля параметров полупроводниковых приборовИзвестен способ испытания полупро"водниковых приборов на долговечностьпри котором испытание проводится прйтемпературе окружающей среды (корпуса диода) 25+10"С в электрическихрежимах, установленных. в ЧТУ, и спериодическими замерами контролируемых параметров-критериев годностичерез О, 500, 1000, 2000, 3000, 5000и далее через 5000 часов с соблюдением плана-контроля (11,Известен способ определения долговечности СВЧ-диодов путем подачи наприборы непрерывной электрическоймощности, превышающей номинальную,при температуре корпуса 25110 вС ивыдержки ее до наступления отказазаданного количества приборов (2.Недостатками такого способа являются низкая достоверность результатаи значительная длительность измерений.Цель изобретения - сокращение длительности испытаний.Это достигается тем, что предваР -рассеиваемая электричесикая мощность при номинальном режиме616596 Формула изобретения ЦНИИПИ Заказ 4061/43 Тираж 1112 Подписное Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Ц - постоянная форсированиярассчитанная по результатам ступенчатых испытаний 1Р- мощность в форсированном режиме, устанавливаемая в диапазоне от1 и дО Рк(Ри РФ - Рри); где Р,- критическое значениерассеиваемой мощности,определяемое по результатам ступенчатых.испытаний, равное рассеиваемой мощности той,ступени, на которой зафиксирован первый отказ- основание натуральногологарифма.Сущность предлагаемого способа состоит в том,что длительность испытаний в Форсированном режиме по отношению к длительности испытаний в нормальном режиме 1 и уменьшается в р, раз. Данная величина назы" вается коэффициентом Форсирования. Между величинами Р,Ф,Р, Р, иследующие математические соотно- шенияь РуР 1 н Р РДля установленной рассеиваемой электрической мощности 1 по конк.ретному типу СВЧ-диодов, определив Ь и п,р, а также проведя испытание в течение времени Т,р в данном режиме при температуре корпуса диодов 25110 С, спомощью выражений (1) и (2) оценивают долговечность 1 Последовательность оценкИ долговечности (1) следующая.На одной партии конкретного типа СВЧ-диодов при постоянной температуре корпуса диода, равной 25+10 фС, и ступенчато увеличивающейся рассейваемой мощности проводят ступенчатые испытания, Перед каждой ступенью испытаний измеряют параметры"критерии годности диодов. Эти параметры заносят в протокол. Длительность ступени должна обеспечивать установление теплового режима прибора. На первую ступень подают мощность, равную ее нормальному значению. Испытания продолжают до первого отказа.Затем по приведенным выше формулам определяют коэффициент форсирования и проводят при форсированной мощности испытания до получения заданного количества отказов. Время до наступления заданного количества отказов соответствует долговечностиприбора. Способ определения долговечности 5 СВЧ-диодов путем подачи на приборынепрерывной электрической мощности,превышающей номинальную, при температуре корпуса 25+10 С и выдержкиее до наступления отказа заданного 10 количества приборов, о т л и ч а ющ и й с ятем, что, с целью сокращения длительности испытаний, предварительно определяют коэффициентфорсирования мощности порезультатам 15 кратковременных воздействий на прибор электрической мощностью ступенчато возрастающего значения, длительность ступени определяется постояннойвремени прибора, а разница в амплитуде соседних ступеней не превышает20 значения номинальной мощности,при этом долговечность определяютпо формулеф н пч Р где , - коэффициент Форсирования электрической мощности =)Ъ)Т1,Р - время проведения испытаний в форсированном 30режиме;- долговечность диодовакр= в - 1 - относительное приращеНРиние электрической мощности)35 Р - рассеиваемая мощностьпри номинальном режиме 1Ь - постоянная форсирования, рассчитанная порезультатам ступенчатых 40 испытаний;Р - мощность в ФорсированфРном режиме, устанавливаемая в диапазоне от Рдо Р Р (РфРгтрк)где Р,- критическое значение рассеи.ваемой мощности, определяемое по результатам ступейчатых испытаний равное рассеиваемой мощности той ступени, на. которой зафиксирован первый 50, отказ е - основание натуральногологарифма.Источники информации, принятые. вовнимание при экспертизе:1. Гост 18349-73.Диоды полупровод-.85 никовые, сверхвысокочастотные.2, Авторское свидетельство СССР9 490047, кл, Ь 01 Р. 31/26, 31.03.76.