Способ измерения размера дефекта

Номер патента: 584243

Авторы: Навроцкий, Огрызков

ZIP архив

Текст

р 1) 584243 Союз Советских Социалистических Республик,0.1 влен с присоединением заявки М Государственный комитет Совета Министров СССР5) Дага опубликования описания 12.12,7) СПОСО ЕРЕНИЯ РАЗМЕРА ДЕФЕКТ области на этих частотах и по разности этих отношений судят о размере дефекта,Согласно предлагаемому способу искатель устанавливают непосредственно па изделие и сначала измеряют амплитуду сигнала, проходящего вне зоны дефекта, Затем перемещают искатель в дефектную зону и определяют минимальную амплитуду проходящего через пес сигнала.Вышеописанные операции проводят на двух частотах и для каждой частоты рассчитьпистся отношение амплитуд прошедших сигналов, по разнице этих отношений определяют рдзмер дефекта,При данном способе значительно повышдется точность измерения, так как флуктуация амплитуды сигнала за счет изменения чистоты поверхности и анизотропии матерпдлд в различных точках не оказывает влияния, так как оценка диаметра ядра производится по относительным величинам.Использование предлагаемого способа позволяет значительно повысить качество контроля электрозаклепочной и точечной сварки,Це контр допол на дрнимаоблас е точности 25 ет того, чтоие сигналы ошение мидефектной здефектной 30 ия - повышени стигается за сч меряют прошедш е, выбирают от туды сигналауде сигнала в б ль изобрете оля. Это д нительно и угой часто льной ампл ти к ампли Способ измерения размера дефекта, например, ядра заклепки, заключающийся в том, что в контролируемое изделие вводят ультраИзобретение относится к области неразрушающего контроля. Способ может быть использован при измерении размеров ядра электрозаклепок и сварных точек с помощью ультразвуковых колебаний,5Известен способ контроля изделия, заключающийся в том, что по амплитуде прошедшего ультразвукового сигнала судят о наличии дефекта 1. Однако данный способ недает возможности точно определить размер 10дефекта,Известен способ измерения размера дефекта, например, ядра заклепки, заключающийсяв том, что в контролируемое изделие вводятультразвуковые колебания определенной частоты, принимают сигналы, прошедшие черезбездефектную и дефектную области, и по отношению амплитуд этих сигналов судят о размере дефектов 2.Недостатками известного способа являются 20низкая точность измерения и длительностьпроцесса контроля, связанная со сложностьюпроцесса настройки при измерении. Формула изобрстени584243 Составитель Г. федоровТехред И, Михайлова Корректоры: Л. Денискинаи Л, Орлова Редактор Т, Юрцикова Заказ 2624/4 Изд.979 Тираж 1109 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Типография, пр. Сапунова, 2 звуковые колебания определенной частоты, принимают сигналы, прошедшие через бездефектную и дефектную области, и по отношению амплитуд этих сигналов судят о размере дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, дополнительно измеряют прошедшие сигналы на другой частоте, выбирают отношение минимальной амплитуды сигнала в дефектной области к амплитуде сигнала в бездефектной области на этих частотах и по разности этих отношений судят о размере дефекта.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Шрейбер Д, С. Ультразвуковая дефектоскопия, М., изд, Металлургия, 1965, с.79 - 84.2, Гуревич А. К Ермолов И. Н. Ультразвуковой контроль сварных швов, изд. Техника,10 1972, с, 360 - 362,

Смотреть

Заявка

2096701, 16.01.1975

СЕВЕРО-ЗАПАДНЫЙ ЗАОЧНЫЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКМЙ ИНСТИТУТ

НАВРОЦКИЙ ДМИТРИЙ ИВАНОВИЧ, ОГРЫЗКОВ РОСТИСЛАВ СЕРГЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04

Метки: дефекта, размера

Опубликовано: 15.12.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-584243-sposob-izmereniya-razmera-defekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения размера дефекта</a>

Похожие патенты