Способ измерения диэлектрических свойств
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 578629
Автор: Матис
Текст
11 Ц 78629 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Йоаз Советских Социалистическихис присоединением зая Гос(23) Приоритет Совета Министров С оллетень40 621.317,335(5 по делам изобретений и открытий) Заявител ститут механики полимеро(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСВОЙСТВ 2 честве эталонного диэлектрика используют жидкость.На чертеже приведены зависимость 1 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора гг между электродами и контролируемой поверхностью (диэлектрическая проницаемость е 1=10) при наличии воздушного пространства между ними (диэлектрическая проницаемость е.= 1) и зависимость 2 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора Й при заполнении пространства между ними эталонным диэлектриком с пронпцаемостью аз=5.Под ннимаетс 15 ормированнои величинои емкости по=-0 - С й=: 20 где емкос значен - емкос т, е, мого м - емкос мым м ним и осуще анство ым ма и /г рол очно стг 25 С/6=0 жду Г 1 уоину изменямежду мым дн,а вкаСпособ Пр остр О ролпр ех 22) Заявлено 05.10.70 (2 43) Опубликовано 30.10.77.45) Дата опубликования о Изобретение относится к области электро- измерительной техники и предназначено для неразрушающего контроля диэлектрических материалов.По основному авт. св.216807 известен способ измерения диэлектрических свойств, заключающийся в том, что измеряют комплексное сопротивление измерительного конденсатора при разных глубинах проникновения электрического поля в исследуемый материал и по нему судят о диэлектрических свойствах материала 1.Однако в известном способе для получения разной глубины проникновения электрического поля в исследуемый материал используют отдельные измерительные конденсаторы, Известный способ не обеспечивает необходимой точности измерений ввиду того, что использование отдельных измерительных конденсаторов приводит к изменению условий измерения - расположения контролируемого участка, воздушного зазора и т. д. Цель и р измерения. Это достигается за счет того, что проникновения электрического поля ют путем заполнения пространства обкладками конденсатора и исследуе электриком эталонным диэлектрикоъзоб етения - повышение ть конденсатора при данном ип /г;ть конденсатора пр =с, при отсутствии конт ируеатериала;ть конденсатора с исслед еатериалом без зазора ме электродами.ствляют следующим образом.между электродами и конттериалом заполняют эталон)К, Р Изд.8 дарственного по делам 13035, МоскваТираж 1109а Совета Министров ССн 1 и открытий.ушская наб., д. 4/5 отписн 1 н 1 ография, пр. Сапунова, 2 пым диэлектриком - газообразным, жидким или твердым с отличающейся от воздуха диэлектрической проницаемостью. Например, в пространство между электродами и контролируемым диэлектрическим материалом вводят пластину из другого диэлектрического материала. Глубина проникновения поля в контролируемый материал при этом уменьцается по сравнению с воздушным пространством, Чем больше диэлектрическая проницаемость эталонного диэлектрика, тем меньше глубина проникновения поля, Таким образом, геометрия измерительного конденсатора остается постоянной. При помощи предлагаемого способа возможно плавное изменение глубины проникновения поля, например, в случае использования жидкого эталонного диэлектрика, диэлектрическую проницаемость последнего можно менять плавно путем изменения соотношения состава двухкомпопентной жидкости. 4Применение предлагаемого способа позволяет пооводить Все операции измерения безперестанозкп измеряемо; о конденсатора, чтоувеличивает очность измерсния.Формула изобретенияСпосоо измерения диэлектрическихсзой тв по авт, св.216807, о т л и ч а ющн й с я тем, что, с целью повышения точно 1 О сти измерения, глубину проникновения элекрпческого поля изменяют путем заполненияпространства между обкладками конденсатора и исследуемым диэлектриком эталоннымдиэлектриком,15 2. Способ по п. 1, отличающийся тем,что в качестве эталонного диэлектрика используют жидкость,Источники информации,,принятые во внимание при экспертизе20 1. Авторское свидетельство СССР216807,кл. 6 01 К 31/11, 1966.
СмотретьЗаявка
1483375, 05.10.1970
ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ ПОЛИМЕРОВ АН ЛАТВИЙСКОЙ ССР
МАТИС ИМАНТ ГУСТОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/12
Метки: диэлектрических, свойств
Опубликовано: 30.10.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-578629-sposob-izmereniya-diehlektricheskikh-svojjstv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения диэлектрических свойств</a>
Способ определения индукции магнитного поля в зазоре магнитопровода
Номер патента: 1688211
Опубликовано: 30.10.1991
Авторы: Смирнов, Фойда, Чигирин
МПК: G01R 33/07
Метки: зазоре, индукции, магнитного, магнитопровода, поля
...поля; измеряемое с индукцией В и дополнительное с индукцией Вц, создаваемое индукционной катушкой 3, намотанной на датчик 1 Холла, при 30 протекании тока чере".катушку 3 от источника питания.Выходной сигнал датчика 1 Холла, пропорциональный сумме величин В+Вк, поступает на преобразователь 5 на 35 пряжение - код, Аналого-цифровое преобразование в преобразователе 5 происходит по сигналам, поступающим на вход преобразователя 5 с выхода блока 14 управления. Аналоговый сигнал датчика 1 Холла преобразуется в число импуьсов, которые поступают с преобразователя 5 на счетный вход реверсивного счетчика б, считающего в прямом направлении 45 Б=Б 1,К(В+В ),где Б - чувствительность датчикаХолла;1 - ток питания датчика Холла;иК - коэффициент...
Конденсатор свечи зажигания
Номер патента: 1836763
Опубликовано: 23.08.1993
Автор: Фридрих
МПК: H01T 13/04
Метки: зажигания, конденсатор, свечи
...задачу создания высокоемкостного конденсатора небольшого размера путем осуществляемого пайкой токопроводного соединения без потери емкости между металлической оболочкой, диэлектриком и металлическим внутренним полым элементом.Конденсатор свечи зажигания пояснен более подробно на примере его выполнения чертежом, на котором показано:фиг.1 - конденсатор свечи зажигания в частичном разрезе;фиг.2 - этот же конденсатор во взаимодействии со свечей зажигания.На фиг.1 показана форма выполнения конденсатора свечи зажигания, у которого частично металлизированный на поверхности диэлектрик 1 из керамики с диэлектрической проницаемостью эпсилон г, равной,Лисина Подписноеениям и открытиям при ГКНТ СССРкая наб. 4/5 каз 3025 ТиражВНИИПИ...
Устройство для автоматической сортировки пластин диэлектрика по отношению диэлектрической постоянной к толщине
Номер патента: 84625
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Петровский
МПК: H01G 4/06
Метки: автоматической, диэлектрика, диэлектрической, отношению, пластин, постоянной, сортировки, толщине
...на ходовой части микрометрического винта, механически связаны одна с другой и могут перемещаться в направлении1перпендикулярном по отношению к неподвикным пластинам, а такжеприменением в бункера кулачка, пода 1 ощего командный импульс дляблокировки цзмерцтельцои системы,На чертеже изображена схема описываемого устройства.Устройство состоит цз измерительной системы, сбрасывающего приспособления, подвижного бункера для рассортированных пластин ивспомогатель;ых приспособлений,Испытуе кс пластина 1 диэлектрика через загрузочцу 1 о щель 2 поступает ца е ионный лоток . При опущенном упоре 4 пластина 1 скаТехред Т, П. Курилко Редактор И. М Майзенберг Корректор А. фомина Обьем 0,26 изд. л.Цена 5 коп. формат бум. 70 Х 08/6 Тираж 200 ЦБТИ при...
Емкостной трансформаторный мост для измерения перемещений
Номер патента: 765643
Опубликовано: 23.09.1980
Авторы: Войченко, Гриневич, Сурду
МПК: G01B 7/00
Метки: емкостной, мост, перемещений, трансформаторный
...вторсгс уц равляемого делителя напряжения вдключец к выходу фазсчувствительноо выпрямителя а опорный вход второго управляемого ле. лителя напряжения подключен к нерегулируемой обмотке трансформатора напряжения.На чертеже црелставленз блок-схема устройства.Оно содержит трансформатор 1 напряжения с регулируемой и нерегулируемой вторичными обмотками 2 и 3, первый компаратор 4 токов с лифференциальными, дополнительной и указательной обмотками 5, 6, 7, 8, второй компаратор 9 токов с дифференциальными, лополцительной и вторичной обмотками 10, 11, 12 и 13, дифференциальный емокстной преобразователь 14 с потенциальным электролом 15, полключенным к нерегулируемой обмотке 3 трансформатора нацряжения 1, и дифференциальными токовыми электродами 6,...
Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления
Номер патента: 1176266
Опубликовано: 30.08.1985
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектриков, диэлектрической, листовых, проницаемости
...состоит из блока питания СВЧ-генератора 1, СВЧ-генератора 2, 15 поляризатора 3, первого уголкового поворота 4, диэлектрической призмы 5, второго уголкового поворота 6, разделителя 7 поляризации отраженной волны, первого и второго преобразователей 20 8 и 9 сигналов, измерителя 10 отношений двух напряжений, экстрематора 11, генератора 12 тактовых импульсов, счетчика 13, индикатора 14, шагового двигателя 15, измерительного столика 25 16 и исследуемого листового диэлектрика 17. Перед началом измерений контролируемый листовой диэлектрик 17 помещают на основание диэлектрической призмы 5 путем поднятия изме- З 0 рительного столика 16.Устройство для определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков работает следующим обра"...
Предыдущий патент: Устройство для контроля разобщенных цепей электрического монтажа
Следующий патент: Квантовый магнитометр
Случайный патент: Электролитический способ получения изображения