Способ исследования многокомпонентных систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советскик Соцмалмстмцесаа РеспубликОп ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯН АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЛЬСТВУ(1) 577493 вт. св 1) М, Кл, 6 01 Ч 3/О 72 (21) 1761652/2явкисударстеенный комнтетсвета Мнннстров СССРо делам нзооретеннйн отнрытнй З 0.77 брллетень39(71) Заявите 5 ПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ МНОГОКОМПОНЕНТНЫСИСТЕМ Известен способких и физических свсый ца измерении ч сопел ойств астоть мичесвания ещ а, основанний и сдвиозбуждаемых колеб волн, в охожден вне ния аз электролагнитнь чности Это ения игенератором, после следуемое вещество ристик с исходными я черезих харак и ср 111 тотах лл следуем о ном йзме слоя срав ы ее ецта излу шаюшей спьной частоастоты и значениект взаимодейст данных частое дпя ясель лпоцентов систе рактеризуюших эффе ия с веществом для всех к елич вия изпучен тах. Далее ходят оптимальц топшиц слоев емых коучаемой ичицы орые р опреиет оывс поцецтов вел системы кот але, Затем омой систе азлешают в цют, тшпциць равцительцом рабочел каслоев изуча(61) Дополнительное (22) Заявлено 20.03 с присоединением а (23) Приоритет (43) Опубликовано 2 Известен спосою рентгеновского абсорбаиоццого анализа вещества, заключающийся в просвечивании исследуемого вещества двумя потоками излучений с энергиями, величины которых расположены по разные стороны от значения скачка поглощения определяемого алемента по ослаблению атих потоков излучения причем исследуемую среду просвечивают тик, что длина пути для квантов излучения большей энергии превышает длину пути для квантов излучения меньшей энергии, а соотноцк.ци этих дпиц выбирают так, что др ослабл пце указанных потоков излучения всеми алелецтали вепюства, кроме определяе;ого одинаково 2Недостатком известных способов являет ся то, что в цих це учитывается изменение щ оотношения компонентов системы в про+ е измерения., Целью изобретения является повыш измерения,остигается тем, что величину погломеряют одновременно на разных чаоя неодинаковых по толщине слоев исй системы в основном и сравнительрительцых каналах, причем толщину цительного канала берут такой, чтоношение к тсдщине слоя основного авнялось отношению поглошающей способности мешающего компо ния на основной частоте к пог собцости иапучения ца сравнитеСначала определяют характе577493 определяемой концентрации,Составитель Терьоваехред (. Ацдрейчук Корректор С. Шекмар едакто) М. Рогова 3 а к; 1,367 7/34 1 ираж 717 П одписное ОИИИ Государствеццого комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5филиалатецт"г. Ужгород, ул. Проектная, 4 каиле из условия равенства отношений длин слоев в сравнцтелт,ном и рабочем каналах и эффектов взаимодействия на рабочей и сравнительной частот сохеИзл 1 ерение проводят одповиел 1 енно ца рабочец и сравнительной частотах. 1 з величины эффекта, полученного в рабочем канале, выштоют величину эффекта, полученного в сравнительном канале, и по полученной разности судят о значении исследуемого свойства или 10 ф ормула изобретения 15Способ исследования многокомпонентныхсистел 1, основанный на поглощении вешествоьэлектромагнитного излучения, о т л и ч аю ш и й с я тем, что, с целью повышенияточности изл 1 ерения, величину по лощения измеряют одновременно на разных частотах дчянеодинаковых по толщине слоев исследуемойсистемы в основном и сравнительном измерительных каналах, причем толщину слоя сравнительного канала берут такойэ чтобы ее отношение к толщине слоя основного каналаоавняпось отношению поглошающей способности мешающего компонента излучения на я: -новной частоте к поглошающей способностиизлучения на сравнительной частоте,Источники информации, принятые во внимание при экспертизе;д., Патент фРГ М 129154, кл.,42 1 3/09,1969.2. Заводская лаооратория", ХХУШ М 1,35, 1962,
СмотретьЗаявка
1761652, 20.03.1972
ВОЙСКОВАЯ ЧАСТЬ 25840
КРУЧИНИН НИКОЛАЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ПОЛЯКОВ АЛЕКСЕЙ ИЛЬИЧ
МПК / Метки
МПК: G01V 3/00
Метки: исследования, многокомпонентных, систем
Опубликовано: 25.10.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-577493-sposob-issledovaniya-mnogokomponentnykh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования многокомпонентных систем</a>
Предыдущий патент: Устройство слежения за произвольной фазой сигнала при акустическом каротаже
Следующий патент: Устройство для измерения угла наклона проекции эллипса поляризации переменного магнитного поля
Случайный патент: Электродная масса для самообжигающихся электродов рудовосстановительных электропечей