Спектрометр заряженных частиц
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
4 А ГЫТДЖА.х+двауц",чр тр 3 рО П И С А Н И Е (1 о 550018 Союз Советских Социалистических Республик(21) 2189146 2 с присоединен аявк Госудаоствеиимй кемите 3),Приорите Яо делам изобоотоиий и стиоыти Й(088.8) Дата опубликования описания 15,12.78 Авторы зобретеи(7 1 ) З,а яви 54) СПЕКТРОМЕТР ЗАРЯЖЕНИЫХ ЧАСТИЦ Изобретениедля регистрациистнц малых энерстранстве, имеющпределение.Известен спепо энергиям ичастиц осуществтростатическогоспектрометр негстический аналзрения при сохрческого разреше тносится к устройствам отоков заряженных чай в космическом проих широкое угловое расотбор енных элекТакой энерполя ргетиктрометр, в направления ляется с панализато позволяет п из в широк анении выс ния. котором м заряж омощью ра 11. роводить ом угле окого энзаряженных частиц Ф, попадаю входное окно в пределах угла Ю Наиболее близким к предлагаемому 15 изобретению по техническому выполнению является спектрометр заряженных частиц, содержащий набор электростатических анализаторов с электродами 21. Этот спектрометр позволяет производить отбор за ряженных частиц по энергиям в смеяных диапазонах углов. Однако из-за незначительных по величине углов отбора в направлениях, лежащих в плоскостях, перпендикулярных к плоскостям входных окон и 25 направляющих каждого анализатора, суммарный геометрический коэффициент всех электростатических анализаторов оказывается небольшим, что определяет малую чувствительность измерений.30 Цель изобретения - увеличение чувствительности и точности измерений потоков заряженных частиц при сохранении небольших габаритов и веса спектрометра.Это достигается тем, что в предлагаемом спектрометре заряженных частиц электроды электростатического анализатора имеют форму усеченной поверхности тора и образованы совокупностью секторов различной высоты. Количество секторов электростатического анализатора определяется диапазоном измеряемых углов. При неограниченном увеличении числа секторов по- поверхность входного окна из ступенчатой превращается в волнообразную.Предлагаемый спектрометр заряженных частиц представлен на чертеже.В состав спектрометра входят: электростатический анализатор 1, детектор 2, регистратор 3 и источник 4 питания, Электростатический анализатор состоит из электродов б и б, имеющих форму усеченной поверхности тора, образованной секторами 7 различной высоты. Между электродами находится входное окно 8.Спектрометр работает следующим образом.Потощих во550018 Формула изобретения 77Ф Составитель А. ШадринТ Колодцева Техред О. Тюрина Корректор С. файн Реда Заказ 852/1275 Изд.747 Тираж 666 Подписно НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская набд 4/5ип. Харьк, фил, пред, Патент при выполнении условий энергетическогоотбора пропускается только теми секторами 7, ориентация которых совпадает с направлением падающего потока. Секторы,которые ориентированы в смежные углы 5Ю, пропускают частицы таких же энергийтолько со смежных направлений. В ререзультате при сохранении высокого энергетического разрешения анализатор пропускает заряженные частицы в широком 1 Одиапазоне углов Ло = 160,,Предложенный опектрометр заряженных частиц за счет увеличения углов отбора в направлениях, перпендикулярныхплоскостям образующих и направляющихэлектродов анализатора, позволяет путемувеличения геометрического коэффициентаповысить чувствительность измерений вполтора раза при сохранении габаритов ивеса устройства,20 Спектрометр заряженных частиц, содер. жащий электростатические анализаторы с электродами, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения чувствительности и точности измерений потоков заряженных частиц, электроды электростатического анализатора имеют форму усеченной поверхности тора, образованной совокупностью смежных секторов различной высоты. Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе; 1, Патент ФРГ1.913.906 кл. 21 д18/02, 23.04,70. 2, Авторское свидетельство СССР256887 кл. 21 д 18/01 20.05,67.
СмотретьЗаявка
2189146, 14.11.1975
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2502
КОВАЛЕНКО В. Г, ПОЛЕНОВ Б. В
МПК / Метки
МПК: G01T 1/36
Метки: заряженных, спектрометр, частиц
Опубликовано: 30.11.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-550018-spektrometr-zaryazhennykh-chastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Спектрометр заряженных частиц</a>
Способ измерения формы внутренней поверхности
Номер патента: 256883
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Глазков, Мальто, Сосидко, Точицкий
МПК: G01B 5/213
Метки: внутренней, поверхности, формы
...относительному перемещению диска, опирающегося на дно цилиндра и перемещающегося перпендикулярно секущей плоскости.На чертеже представлена схема замера экранов по данному способу,Экран 1 кинескопа устанавливают н щадку 2 и ориентируют с помощью уп так, чтобы центр сферы совпал с осью измерительного прцбо,.а. Затем измерительную чашу 4 прижимают к сферической поверхности экрана 1, торец которой представляет собой коль цо, касающееся сферы минимум в трех точках.В том случае, если радиус, проведенный в центральной точке внутренней сферы, перпендикулярен торцу экрана, последний будет па.раллелен торцу чаши. При отклонении радцу са от перпендикулярности к торцу экрана плоскость торца чаши 4 благодаря сферическому шарниру 5 повернется на...
Способ измерения формы поверхности крупногабаритных деталей вращения и устройство для его осуществления
Номер патента: 1404807
Опубликовано: 23.06.1988
Метки: вращения, крупногабаритных, поверхности, формы
...торцов детали. По шкалам 9 рычагов 4 фиксируют размеры а у одного торца и аг у другого торца. Затем переводят рычаги во второе (диаметрально противоположное) положение, показанное на фиг. 2 пунктирными линиями, перемещают вдоль рычагов каретки 7 с датчиками 8 и устанавливают вертикальные нити перекрестий касательными к поверхностям торцов в диаметрально противоположных точках, По шкалам 9 рычагов фиксируют размеры Ь у одного торца и Ьг у второго торца детали. По результатам измерений определяют диаметры торцов детали д=а+Ь и А=аг+Ьг и величины смещения 6 и 6 г центра торцов относительно оси вращения соответствующего рычага по одной координате (горизонтали) 6= =а - Ь и бг=аг - Ьг. Затем устанавливают поворотные рычаги 4...
Устройство для измерения формы пучка заряженных частиц.
Номер патента: 271668
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Вишн, Объединенный, Синаев
МПК: G01T 1/17, G01T 1/34, H01J 47/14
Метки: заряженных, пучка, формы, частиц
...электродов искровой камеры соединена с соответствующими устройствами регистрации, связанными через арифметический регистратор с многоканальным анализатором.Информация с проволочной камеры подается в анализатор, в котором производится ее накопление. Каждой проволочке камеры соотвстствует свой канал анализатора, При прохождении частицы через камеру в анализаторе происходит добавление единицы в соотвегствующем канале, Данные, накопленные в анализаторе, дают точное представление о форме пучка и могут храниться долгое время в памяти анализатора в отличие от осциллографа. В процессе измерений форма пучка мо жет наблюдаться на экране электроннолучевоитрубки, входящей в состав анализатора, а после измерений информацию можно вывести на...
Спектрометр заряженных частиц
Номер патента: 409577
Опубликовано: 05.10.1974
МПК: G01T 7/00
Метки: заряженных, спектрометр, частиц
...включают в себядополнительные участки пластин также изолированные от электродов основного анализатора,Спектрометр работает следующим образом.,Синхроимпульсы с задающего генераторапоступают на узел предварительного пересчета. После пересчета в 2 раз импульсыс узла предварительного пересчета подаются на счетное устройство, управляющее спомощью цифро-аналогового преобразователя источником питания анализатора, Этотисточник подключен к основным электродаманализатора и через ключевой коммутаторможет быть подсоединен к вспомогательнымэлектродам.Последовательная во времени работаключевого коммутатора осущес.вляется спомощью узла вспомогательного пересчета,который управляет дешифратором, связанным через цепочку ЯЯ -триггеров с ключевым...
Спектрометр заряженных частиц
Номер патента: 375006
Опубликовано: 05.10.1974
Авторы: Богданов, Вайсберг, Поленов, Хазанов, Шахов
МПК: H01J 39/34
Метки: заряженных, спектрометр, частиц
...дискриминаторов тока5, многоканального регистратора сигналов6, генератора управляющих импульсов 7,счетного устройства 8, цифроаналоговогопреобразователя с резисторами и ключевы-5ми каскадами 9, источника питания анали-заторсб 10, ключей 11 и шунтирующих разиаторов 12. В качестве анализатора может быть использован, например, электро-:статический анализатор, а в качестве де- :Ютектора - сцинтилляционный или пропорци-ональный счетчики, или полупроводниковыйдетектор,Узлы 1-10 предлагаемого спектрометрв: работает аналогично этим узлам известИного спектрометра.В устройство дополнительно введеныключи 11, связанные с выходами счетногоустройства, и цепочка резисторов 12, шунтнрующих резистор связи 4. Величин,сигналов с детектора и...
Предыдущий патент: Способ получения резин на основе сополимеров трифторхлоэтилена и фтористого винилидена
Следующий патент: Аппарат для короткофокусной гамматерапии
Случайный патент: Устройство для уничтожения сорняков