Способ получения изолиний рельефа объекта на фотоснимке
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 545864
Авторы: Белоус, Молявко, Муталлимов
Текст
О П И С А Н И Е ,) в 45 в 64ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистинеских Республик)М Кп С 11/04 рисоединением заявкиасударственныи комитетСовета Министров СССРаа делам изобретенийи открытий 3) П "иоритет -3) Опубликовано 05,0 ллетень5аиия 18.03,77) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОЛИНИЙ РЕЛЪЕФ ОБЪЕКТА НА фОТССНИМКЕ10 особу растровые рет путем их проектиточек,По предложенномуетки наносят на объеования из двух разнь На фиг, 1 приведе особ получения изол а, поясняющаярельефа объекта; наини сп Изобретение относится к области фотограмметрии и может быть использовано для получения изолиний-профилей сечения рельефа поверхности объемных моделей, строительных конструкций, архитектурных элементов, памятников и скульптур, а также при исследовании деформаций технических конструкций и узлов.Известен способ получения изолиний рельефа объекта на фотоснимке, основанный на использовании муарового эффекта, путем непосредственного нанесения на исследуемый объект периодических растровых решеток и его фотографирование через другой растр 11 . Недостатком известного способа является сложность, а в ряде случаев и невозможность нанесения на объект растровых решеток, что приводит к усложнению продесса получения изолиний рельефа,на фиг, 2 - форма проектируемэй растровойрешетки,По предложенному способу идентичныерастровые решетки проектируют на исследуемый объект 1 посредством идентичных проектов 2 и 3, оптические оси объективов кэторых параллельны друг другу, а сами эниустановлены на расстоянии В друг эт друга.Поверхности однэтипной формы муара наисследуемом объекте, образованные путемпересечения пучков проектирующих лучей,идущих от проектов 2 и 3, располагаютсяперпендикулярно оптическим осям проекторов 2 и 3 на отстоянии 5 друг от друга,определяемых пэ формуле де 4 - отстояние поверхности этпроекторов;Р - шаг растра;7 - фокусное расстояние прэекра.оны муара образуются на поверхностиедуемого объекта и регистрируются пу3тем их фотографирования съемочной камерой4.формула из обретенияСпособ получения изолиний рельефа объекта на фотоснимке путем нанесения растровых решеток на исследуемый объект и его фотографирование, о т л и ч а ю ш и й с я тем, щ что, с целью упрошения процесса полученияизолиний рельефа, растровые решетки наносят на объект путем их проектирования издвух разных точек. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе;1, Дюрелли А., Паркс В, Анализ деформа ций с использованием муара, Москва, изд. Яир," 1974 г,игСоставитель А. МихайловРедактор О, филиппова Техред Н. Андрейчук Корректор В. ЗоринаЗаказ 251/3 Тираж 879 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 филиал ППП "Патентф, г, Ужгород, ул, Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2306066, 30.12.1975
КИЕВСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-СТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
МОЛЯВКО МИХАИЛ АЛЕКСЕЕВИЧ, МУТАЛЛИМОВ АГА-АЛИ МУТАЛЛИМОВИЧ, БЕЛОУС ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 11/04
Метки: изолиний, объекта, рельефа, фотоснимке
Опубликовано: 05.02.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-545864-sposob-polucheniya-izolinijj-relefa-obekta-na-fotosnimke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ получения изолиний рельефа объекта на фотоснимке</a>
Способ определения рельефа объекта
Номер патента: 1503455
Опубликовано: 15.11.1990
МПК: G01C 11/24
...и возмс жцо11 иции сеток образуяг г эзонтясечения наблюдаемого тели прямох рактер уют топогр 1 ."ркнос г(Фюг, 2. 1 ля лояучеция набою ееточной оценки р пьефо и нерхнс; тюеобходилс применять ,о оуснупроецирук)щую оптику, и ск,.,кч точность положения горцзо г еи завсот соотощеция размерон об.;акт;.Фокусного 1 асстоця, ас.к циегоризонта юей опреденето расстояниями между лпцпями сзтуирссход -лост юнетоного юучса,Преда немЙ е"соб опи. де:рельефа поннелят юпосре тн цц;в процессе съемки получ;.ь к ртнутопограЬп позер снести би од,рит.льной Фотограмметрической обработки снимков. Он может применяться пригзготовлеции моделей пространственныхА ек ов, при аююализе деформацийпов:рхностей при различных воздей"ст цях. Оц непссредствецно позволяет...
“устройство автоматической наводки на резкость системы “объектив микроскопа объект”
Номер патента: 1826007
Опубликовано: 07.07.1993
Автор: Зайцев
МПК: G01B 9/02, G01M 11/00
Метки: автоматической, микроскопа, наводки, объект, объектив, резкость, системы
...Отраженный от поверхности образца 3 и зеркала 23, расположенного пер , пендикулярно оптической осиинформационного луча, направляется светоделительным кубиком 18 в светоделительный кубик 13, где на его внутренней грани разделяется на два взаимно. перпендику лярных луча. Опорный луч, пройдя фазовую пластинку 15, направляется уголковым .отражателем 16 в светоделительный кубик 13, где он также разделяется на два взаимно перпендикулярных лучз, совпадающих с лучами, полученными при делении отраженного информационного луча. Пройдя поляроиды 19 и 20, полученные таким образом лучи рекомбинируют. Фотоприемники 21 и 22 преобразуют интенсивности падающего на них света в электрические синусоидальные сигналы. Введение фазовых пластин 14 и 15 и...
“способ определения рельефа поверхности объекта
Номер патента: 642607
Опубликовано: 15.01.1979
МПК: G01C 11/06
Метки: объекта, поверхности, рельефа
...другой размещают меж ду объектом и фотоматериалом, параллельно плоскости фотоматериала, приЧем расчро выполнены рентгеноконтрастными, а фотографирование производят в рентгеновских лучах.20 На фиг, 1 показана геометрия съемки исследуемого объекта описываемым способом; на фиг, 2 - изображение рельефа изучаемой поверхно 1:ти.В способе дпя опредепеция репьефа поверхности объекта 1, например, внутренней поверхности литейной формы, ца поверхность 2 наносится растр 3, например сетчатой формы (рабочий растр). Объект 1 устанавливается на рентгеновскухо кассету 4 с фоточувствитепьной ппенкой 5. Между объектом 1 и кассетой 4 находится опорный растр 6, форма и размеры элементов которого иден тощ с рабочим растром 3. Опорный растр 6 распопожен...
Способ измерения рельефа объектов с шероховатой поверхностью
Номер патента: 1744458
Опубликовано: 30.06.1992
Авторы: Ермоленко, Недужко, Ушенко
МПК: G01B 11/30
Метки: объектов, поверхностью, рельефа, шероховатой
...его использования за счет возможности измерения рельефа объектов, размеры микронеровностей которых сопоставимы с длиной волны падающего излучения.Это достигается тем, что задают плоскость колебаний лазерного пучка под уг лом 45 к плоскости падения, формирование когерентного изображения поверхности объекта производят в двух взаимно перпендикулярных плоскостях регистрации. ортогональных направлению облучения, сканируют полученнце изображения. Выделяют зоны корреляции, измеряют распределение азимутов поляризации световых колебаний зон корреляции когерентных изображений и по полученным данным рассчитывают рельеф объекта с шероховатой поверхностью. На чертеже приведена схема устройства, реализующего предложенный способ для отражающих...
Способ определения рельефа объекта, перемещаемого конвейером
Номер патента: 1803726
Опубликовано: 23.03.1993
Автор: Котцов
МПК: G01B 11/24
Метки: конвейером, объекта, перемещаемого, рельефа
...излучения от источника 3, который промодулирован решеткой 2 и создает изображение периодических линий на поверхности объекта 11 перемещаемого конвейером. Направление этих линий ориентируют перпендикулярно направлению перемещения разворотом решетки 2. Причем объектив 1 , проецирует световой пучок в направлении перпендикулярном плоскости транспортера конвейера, а объектив 4 принимает излучение в направлении перпендикулярном той же плоскости и формирует оптическое изображение в своей фокальной плоскости, которое модулируется решеткой 6 развернутой параллельно решетке 2. Непосредственно размещенный за решеткой 6 матричный фотоприемник 5 преобразует оптическое излучение в электрические заряды накапливаемые на элементах матриц ФПЗС 5.Генератор...
Предыдущий патент: Датчик угла наклона
Следующий патент: Коммутатор
Случайный патент: Стёклокрйсталлйческая эмлль