Способ градуировки измерительной схемы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБР ЕТЕ Н И Я К АВ 1 ОРСК ОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУоц 535527 Союз Советских Социалистических Республик(45) Дата опубликования описания 23.11,76 1,Кл.2 6 01 Р 31 осударственный комите Совета Министров СССпо делам изобретенийи открытий) Заявитель краинскии филиал Всесоюзного научно-исследовательского института стеклопластиков и стекловолокна54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНО СХЕМЫ,к способм электрибыть использовавности поверхностС,.Уосев емкость объекта амплитуда имну пределения кажу ных разрядов Л ьности схемы с измерения;льса генератора.щейся интенсивно- Я,. или зависимости о стрелочным при 25 Длясти част чувствит бором С,У,астр:1 Я) Изобретение относитсяческих измерений и сможетно при измерении интенсиных частичных разрядов.Известна схема измерения интенсивности частичных разрядов, градуировку которой производят путем подачи внешних импульсов с известными парамепрами на объект исследования 11.Наиболее близким:к изобретению является способ, по которому градуировка схемы измерения сводится к получению зависимости чувствительности измерительного прибора от измеряемой величины 2.Однако указанные способы не позволяют объективно и достаточно точно оценить интенсивность частичных разрядов, возникающих на поверхности увлажненных изоляторов, так как .величина сигнала, передаваемого в) внешнюю цепь при ловерхностных частичных разрядах, зависит от состояния поверхности объекта измерения, которое, в процессе испытания может, резко изменяться, вызывая соответствующие изменения градуированных соотношений. Известные способы градуировки схем измерения интенсивности частичных разрядов не позволяют учесть эти изменения.Предлагаемый способ позволяет повысить точность при измерении интенсивности поверхностных частичных разрядов. Это достигается тем,том состоян измерении; верхностном 5 Градуир осуществля Паралле чают актив сопротивлен О лятора, и п,деляют зав тнвления от осциллограф импульса на 5 помощи гене висимость лографом о Косц = 7 Я) где 0что градупровку производят с уче ия поверхности изолятора ,при последнее контролируют по по у сопротивлению.овку по описываемому способу ют следующим образом.льна объекту измерения подклюные сопротивления, имитирующие ие увлажнения поверхности изори переменном напряжении опреисимость поверхностного сопроамплитуды импульса на экране а Я = Я, где 1 - амплитуда экране осциллографа. Затем при ратора импульсов определяют заувствительности схемы с осцилт поверхностного сопротивления"А"оси: Р (х) или 1 стр:(Б) Составитель Е. РубцоваТехред А. Камышникова Корректор В. Гутман Редактор А. Пейсоченко Заказ 1018/1569 Изд.1783 Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Тип. Харьк. фил. пред. Патент где а - отклонение стрелочного приборадля определения среднего тока, разрядов,Указанные зависимости находят при раз.личных значениях Уср. С помощью полученных градуировочных кривых измерение интенсивности поверхностных частичных разрядов проводят в следую. щей последовательности. При напряжениях, недостаточных для образования подсушенного участка, находят величину поверхностного сопротивления по градуировочной ,кривой Р = (1) и постоянную чувствительности регистрирующего при- бора После проведенной градуировки, сняв показания ,прибора при испытательном напряжении, определяют количественные характеристики поверхностных частичных разрядов Способ градуировки измерительной схемы, регистрирующей частичные разряды, о т л и. ч а ю щи й с я тем, что, с целью, повышения точности при измерении интенсивности поверхностных частичных разрядов, градуировку производят при включении параллельно объекту испытания активных сопротивлений, имитирующих поверхностное сопротивление последнего, определяемое непосредственно при измерении.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. Д. Вайда Исследование,повреждения изоляции, Энергия, М., 19 б 8, стр. 323.2. Д. М. Казарновский и Б. М. Тареез Испытания электроизоляционных материалов, Энергия, М., 19 б 9, стр. 172 в 1.
СмотретьЗаявка
1972645, 30.11.1973
УКРАИНСКИЙ ФИЛИАЛ ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА СТЕКЛОПЛАСТИКОВ И СТЕКЛОВОЛОКНА
КИРИЛЕНКО ВСЕВОЛОД МИХАЙЛОВИЧ, САДКОВ НИКОЛАЙ ФИЛИППОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 31/12
Метки: градуировки, измерительной, схемы
Опубликовано: 15.11.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-535527-sposob-graduirovki-izmeritelnojj-skhemy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ градуировки измерительной схемы</a>
Предыдущий патент: Способ контроля якоря коллекторной электрической машины
Следующий патент: Устройство для контроля электрических статических параметров полупроводникового стабилизатора напряжения
Случайный патент: Способ получения водорастворимых антигенов