Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 406175
Текст
Гасударственный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий, Дата опубликования о Авторыизобретения ВПТБ А. Зайцев, А. ф, Калачихин Твердов Заявитель СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ АППАРАТУРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИ ЧАСТИЧНЫХ РАЗРЯДОВПредлагаемый способ относится к области высоковольтной и изоляционной техники и служит для градуировки аппаратуры, применяемой при количественных измерениях интенсивности частичных разрядов в изоляции высоковольтных вводов конденсаторного типа.При количественных измерениях интенсивности частичных разрядов в изоляции по величине кажущегося заряда д градуировка измерительной аппаратуры осуществляется путем введения в схему испытаний градуировочного заряда д, имитирующего кажущийся заряд.Известен способ градуировки, при котором стандартный генератор прямоугольных импульсов, амплитуда которых равна У, подключают параллельно емкости испытуемой изоляции С, через малую емкость С, причем С,С,. При этом в схему вводится градуировочный заряд д=Уг СДля объектов с сосредоточенной емкостью при такой градуировке кажущийся и градуировочный заряды близки по величине.При измерении частичных разрядов во вводах, имеющих изоляцию, разделенную проводящими или полупроводящими обкладками на и слоев величина кажущегося заряда д не соответствует величине градуировочного заряда д, Оценить величину кажущегося заряда в этом случае можно лишь расчетно из соотношения О=а Отак как емкость слояС=гг С .При подключении градуировочного генератора через малую емкость параллельно испы 5 туемому объему Свозникает ошибка измерений, зависящая от отношения Сх/С, и увеличивающаяся с уменьшением этого отношения,Приемлемые значения погрешности получаются при С,/С, существенно больше десяти. Для10 объектов с небольшой емкостью (например,высоковольтных вводов) выполнение условияС,/С,10 может оказаться затруднительным,так как величина емкости С, оказывается настолько малой, что существенно сказывается1 влияние паразитных емкостей, особенно в испытательных установках на высокие напряжения, имеющих значительные размеры.Кроме того, применяемая градуировка практически может проводиться лишь при отсут 20 ствии па объекте высокого испытательного напряжения. После градуировки перед приложением высокого напряжения градуировочнаясхема разбирается. Контролировать работуизмерительного тракта во время проведения25 испытаний, которые могут быть весьма длительными, невозможно,Предлагаемый способ градуировки свободенот перечисленных выше недостатков. В целяхуменьшения погрешностей измерений при ре 3 О гистрации частичных разрядов в изоляции вы406175 охи ьХС Составитель Б. Кол Техред Е. БориКорректор М. Лей Редактор В Заказ 863/ льдм Поди иснСР Тираж 755Совета Министровоткрытийнаб., д. 4/5 Изд,сударстве по делаМосква,269ного комитетам изобретенийЖ, Раушска ИИПИ Типография, пр, Сапунова,соковольтных вводов, при градуировке аппаратуры градуировочный генератор подключают через малую емкость СгСхс к измерительной обкладке ввода, к которой подсоединяют также дополнительную емкость, причем в этом случае градуировку аппаратуры можно проводить во время испытаний высоким напряжением, приложенным к вводу.На чертеже представлена схема осуществления предлагаемого способа градуировки,Генератор прямоугольных импульсов Р подключается через градуировочную малую емкость С, к измерительной обкладке ввода, служащей обычно для измерения тангенса угла диэлектрических потерь или напряжения.Параллельно емкости последней обкладки ввода С 1 включена добавочная емкость С, величина которой выбирается таким образом, чтобы емкость на землю последней обкладки была равна емкости промежуточных обкладок ввода. При градуировке в результате изменения напряжения на выходе генератора Г показания измерительного прибора, подключенного к схеме градуировки через конденсатор Са, изменяются пропорционально заряду чг= г Сг Вводимый при этом в измерительную схему градуировочный заряд д, сответствует кажущемуся заряду О, =д, а ошибка, определяемая отношением С,/Ссущественно уменьшится, так как емкость слоя Смного больше (в и раз) емкости ввода С,Градуировка аппаратуры может быть проведена как перед подачей на ввод высокого напряжения, так и в ходе проведения высоковольтных испытаний ввода. В целях обеспечения безопасности обслуживания генераторапрямоугольных импульсов в схеме предусмот 10 рено шунтирующее сопротивление Й. Для защиты выхода генератора от попадания высокого напряжения при пробое градуировочногоконденсатора С, параллельно выходу генератора установлен разрядник Р,15 Предмет изобретения Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов в изоляции высо ковольтных вводов конденсаторного типа сизмерительной обкладкой, основанный на создании на вводе электрического заряда, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности градуировки и обеспечения возмож ности градуировать аппаратуру в ходе высоковольтных испытаний без выключения испытательного напряжения, заряд создают ца указанной измерительной обкладке, к которой одновременно подключают дополнительную ЗО емкость,
СмотретьЗаявка
1708742
МПК / Метки
МПК: G01R 31/12
Метки: аппаратуры, градуировки, разрядов, частичных
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-406175-sposob-graduirovki-apparatury-dlya-izmereniya-chastichnykh-razryadov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов</a>
Предыдущий патент: П т б fjj, . “f _f1it
Следующий патент: В п т б
Случайный патент: Способ лечения депрессий