Способ выбора рабочей точки при измерении неэлектрических параметров

Номер патента: 533822

Авторы: Коростелов, Кривоносов

ZIP архив

Текст

11 ц 533822 Союз СоветскихСоциалистических Республик 1) Дополнительное к авт, св(22) Заявлено 09.08.74 (2с присоединением за (23) ПриоритетОпубликовано 30,10.76. Б Дата опубликования опи 053448 1(51) М. Кл. 5,/00 ки Ме Государственный комитет Совета Министров СССР ллетень Мония 04.11.7(088.8) ло делам изобретени открытии(72) Лвторы изобретент оростелев и И. И. Кривоно 71) Заявите) СПОСОБ ВЫБОРА РАБОЧЕЙ ТОЧКИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ НЕЭЛЕКТРИЧ ЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ реобрибмеет еделении ей велине обеспе ения пр Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники.Известен способ выбора рабочей точки при измерении неэлектрических параметров, например, деформации, с помощью преобразователя, имеющего постоянную частоту источника питания, заключающийся в опрзависимости погрешности от влияющ чины.Однако такой способ чивает достаточной точности измер и колебаниях влияющей величины.С целью повышения точности измерения, по предлагаемому способу зависимости погрешностей от влияющей величины снимают при разных значениях частоты источника питания, определяют экстремальные значения погрешностей от влияющей величины и устанавливают в источнике питания частоту, соответствующую минимальной погрешности от влияющей величины.На фиг, 1 приведены характеристики выходного сигнала при фиксированном значении пеэлектрического параметра и разных значениях влияющей величины; на фиг. 2 - зависимости темг;ературных погрешностей выходного параметра от частоты питающего напряжения.Преобразователь подключают к источнику переменного напряжения, а выходной сигнал п разователя измеряют регистрирующим п ором. Источник переменного напряжения и возможность менять частоту и амплитуду сигнала питания, Плавно меняя частоту питающего напряжения, снимают характеристику выходного сигнала при фиксированном значении неэлектрического параметра и разных значениях влияющей величины.По данным, приведенным на фиг. 1, строят 10 зависимости температурных погрешностей выходного параметра, равных разности зпа гений выходных сигналов при разных значениях влияющей величины и одинаковой частоте источника питания от частоты питаюшего напряжения, и в соответствии с мггпимальпымгг значениями погрешностей находят по графикам, показанным на фиг. 2, и устанавливают в источнике питания соответствующую частоту, что соответствует выбору рабочей точки 20 измерения (деформацпи).Из приведенных на фиг. 2 графиков следует, что для данного преобразователя, работающего в области температур измеряемой среды 293 в 10 К, оптимальная частота, кото рая должна оыть установлена В псточнигсе титания, равна 3 кгц.Лналогично может быть установлена оптимальная частота питающего напряжения для других температурных диапазонов работы па раметрических преобразователей.ПодписиССР Тираж 864вета Министроткрытийя наб., д. 4/5 Заказ 2309/8 Изд.1712 ЦНИИПИ Государственног по делам из 113035, Москва, Жкомитетабретений -35, Рауш Типография, пр. Сапунова, 2 Способ выбора рабочей точки при измерении неэлектрических параметров, например, деформации, с помощью преобразователя, имеющего постоянную частоту источника питания, заключающийся в определении зависимости погрешности от влияющей величины, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения, зависимости погрешностей от влияющей величины снимают при разных значениях частоты источника пи.тания, определяют экстремальные значения 5 погрешностей от влияющей величины и устанавливают в источнике питания частоту, соответствующую минимальной погрешности от влияющей величины.

Смотреть

Заявка

2053448, 09.08.1974

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2504

КОРОСТЕЛОВ ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КРИВОНОСОВ ИГОРЬ ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01D 5/00

Метки: выбора, измерении, неэлектрических, параметров, рабочей, точки

Опубликовано: 30.10.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-533822-sposob-vybora-rabochejj-tochki-pri-izmerenii-neehlektricheskikh-parametrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выбора рабочей точки при измерении неэлектрических параметров</a>

Похожие патенты