Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 530239
Авторы: Никульшин, Трахтенберг
Текст
(51) М. Кл,с присоединением заявки Мо С 01 Й 27/82 ГидастВ 8 иаыч яит 87 Дата 1,ффщ по дгяам кзсбрютивнЙ. (23) Приоритет ИЗ) Опубликовано 30.09.76,Бюллетень М 36(45) Дата опубликования описания 01.02,77(71) Заявитель 64) ИСПЫТАТЕЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ВИХРЕТОКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА С ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫМ ПЕРВИЧНЫМ ПРЕОЬРАЗОБАТЕЛЕМ Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при дефектоскопии материалов иизделий вихретэковым методом,Известны испытательные образцы дпя настройки вихретэковых дефектоскопов, содержащие бездефектя эе эпектрэпрэв эдящее изделие (или егэ имитатор), в котором выпэпненискусственный дефект в виде углубления заданных размеээв и формы в тепе изделия,Известные образцы слэжяы в изготовлении и имеют плохую воспроизвэдимость, поскольку труднэ выпэлнить в тепе изделия углубление заданных малых размеров и фэр мы,образец состоящий изэлектропрэвэдящего основания и механически сэединеняэгэ с ним имитатора дефекта,выпэляеяя гэ ввиде твердого тела из элек тропрэводящего и/ипи магнитного материала.Этот образец также сложен в изготовлении, поскольку предъявляются высокие требэвания к постоянству чдельнои электрическойпроводимости, размерам и форме основания 25 и к отсутствию в нем естественных дефектов (раковин, трещинпэр, включений),Последний аналог является ближайшим по техническому существу к данному изэбретению,Упрощение технологии изготовления нспытатепьнэгэ образца дпя дефектоскэяа с дифференциальным первичным преобразователем достигается тем, что основание выполнено из яемагяитяэгэ диэлектрика.На чертеже пэказаяа конструкция испытательного образца для дефектэскэпа с проходным дифференциальным первичным преобразователемИспыта - =льный образец содержит основание, выполненное из стержней 1 и 2, имеющих между собой резьбовэе соединение, и имитатор 3 дефекта, расположенный между стержнями. Основание выполнено из механически прочного немагнитногэ диэлектрика, например текстолита, Форма и размеры основания выбираются такими, чтобы осуществлялось сканирование по его поверхности первичным преобразователем дефектьскопа, Имитатор дефекта может быть выг,ЗО 2 Зс.; электрика,Составитель И, КесоянРедактор О, Юркова Техред А демьянова Корректор С, Бсадижар Заказ 5219/648 Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113 О 35, Москва, Ж, Раущская набд. 45Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 полнея в виде твердого тела из различных материалов, взаимодействующих с электромагнитным полем; меди, латуни, феррита и др. Механическое соединение имитатора 3 дефекта с Основанием может осуществляться различным эбразом: с помощью клея, резьбового соединения и т.д. Изготавливают предлагаемый испытательный образец следующим образом,Из механически прочногэ немагнитногэдиэлектрика изготавливают основание, свободно проходящее через проходное Отверстиепервичного преобразователяЗатем Выбира -ют материал, форму и размеры имитатора г,дефекта, прикрепляют его к основанию и снимают изменение выходного напряжения преобразователя дефектоскэпа при прохождениичерез него испытательногэ образца. Послеэтого, изменяя материал, размеры и фэрму р)имитатора дефекта, добиваются того, чтобыизменение выходного напряжения преэбразэвателя дефектоскопа было бы идентичнымпри прохождении через него предлагаемогоиспытательного образца и образца с дефек- Я л1 ОМ В Вгг УГЛУ(ЛЕУтяст Р Теп ИЗГЕЧНЯ атем уточняют размеры имитатора девекта,Выполненного В Виде ТВ 8 рдОГО телар и изГОтаВлиВают Всю партию испытательных ОоОазцэя при этом леГко дэстиГается ид 8 нТИЧНОСТЬ ВСЕИ ПаРТИИПоедлагаемый испытательный Образецпрост в изгэтовлении, имеет хорощу.:о воспэоизводимэсть и повышенную механическуюстойкость, Особенно по сравнение с образцами, изготовленными из твердых и хрупкихматериалов, например карбидов. Ф Ормула изобретения Испытательный образец для вихретоковгГэ дефектоскэпа с дифференциальным первичным преобразователем, содержащий основание и соединенный с ним имитатор дефекта, Выпэлненный В Виде твердого тела из электропоовэдящего и/или магнитного материала, отличающийсч тем,чтэ,с целью упрощения технологии изготовления, н эв ание выполнено из нем агнитн ого ди
СмотретьЗаявка
2030889, 03.06.1974
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1857
НИКУЛЬШИН ВИКТОР СЕРГЕЕВИЧ, ТРАХТЕНБЕРГ ЛЕВ ИСААКОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: вихретокового, дефектоскопа, дифференциальным, испытательный, образец, первичным, преобразователем
Опубликовано: 30.09.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-530239-ispytatelnyjj-obrazec-dlya-vikhretokovogo-defektoskopa-s-differencialnym-pervichnym-preobrazovatelem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения дефектов волокон и проводов
Следующий патент: Электромагнитное устройство для многопараметрового контроля ферромагнитных изделий
Случайный патент: Способ комбинированного использования