Способ исследования адсорбции
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
П Совхоз Советски оциалистическ Республик) Дополнительное к авт. св ) Заявлено 26.06.73 121) 19 явки Х с при ен Государственный комнте СССР оо аелом нзобретеннй н открытнй(54 ОБ ИССЛЕДОВАНИЯ АДСОРБЦИ позволяет судить о ха. Кроме того, способ нрактере адсорбции.Цель изобретенияадсорбции и упрощенПоставленная цель Изобретхарактера ля ова- реви деление характера е способа.остигается тем, чтоуют полупроводник , например, р - и - типа) с тонкой к д от 5 бразца исполь ную структурили и - р - и честве ип ен стноает ение относится к способам конт адсорбции и может быть исполь но для исследования актов химического пращения,Известен способ определения характерасорбции по поверхностной проводимости,способ не однозначен, так как одно и тозначение поверхностной проводимости соотвует двум различным значениям поверхноэлектростатического потенциала, что вызывнеобходимость дополнительных исследовани Так известен способ исследования адсорбции молекул из жидкой или газообразной фа. зы на поверхности диэлектрика, заключающий. ся в том, что на подложку наносят пленку диэлектрика, вводят в соприкосновение с исследуемой средой, подают линейно-поляризованный свет, который, отражаясь, приобретает эллиптическую поляризацию и, сравнивая сиг. нал с сигналом, полученным в вакууме, судят об адсорбции.Недостатком способа является необходимость громоздких и сложных вычислений. кои диэлектрика, на которую после соприкосновения с исследуемой средой подают напржение и регистрируют изменение тока во времени, по характеру которого (уменьшение,увеличение) судят о характере адсорбции,Способ поясняется чертежом,На полупроводниковую ц в и в рв стр1 нанесена тонкая (30.70 А) пленка 2 диэлекрика, При адсорбции на пленке диэлектрикамолекул из жидкой или газообразной фазыповерхность диэлектрика заряжается вследствие электронного взаимодействия адсорбиро.ванных молекул с объемом полупроводникачерез пленку диэлектрика. Заряд, находящийся на поверхности, влияет на проводимостьр-и - р - структуры, Это объясняется тем, что6008/5 Подписно Тираж 109 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная ф .1при заряжении поЪер 5 йости, яуойсходи так называемый "приповерхностный" изгиб энер.гетическпх зон в обьеме полупроводника.Изгиб зон приводит к образованию инверсноп. ного слоя либо в р-области, либо в п.области в зависимости от знака заряда на поверхности.При отрщательном заряжении поверхности, когда молекулы являются акцепторами, образование инверсионного слоя п.типа в р-областях приводит к уменьшению тока через р - и - р структуру, что эквивалентно эффекту уширения базы" в транзисторах. При положителыгом эаряжении поверхности, когда молекулы являются донорами, инверсионный слой р.типа "закорачивает" узкую область п.типа, что при. водит к увеличению тока.В случае и - р-г структуры можно судить по увеличению тока об акцепторном характереадсорбцин, а но уменьшению тока - о донор. ном характере адсорбции./Предложенный способ значительно эффективнее известных, так как позволяет получить информацию о характере адсорбции непосредственно из эксперимента. Кроме того, способ25 4 4позволяет получить информацию об адсорбциииз жидкой и газообразной фаз для классакаталитически активных веществ, что являетсяважным для подбора эффективных катализато.ров, а также для понимания электромагнитнойприроды элементарного акта химического прев.ращения. Формула изобретенияСпособ исследования адсорбции молекул из жидкой или газообразной фазы на поверхности диэлектрика, включающий в себя введение образца, состоящего из пленки.диэлектрика, . нанесенной на.подложку, в соприкосновение с исследуемой средой, регистрацию сигнала и сравнение его с сигналом, полученным в вв. кууме, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью определения характера адсорбции и упрощения способа, в качестве образца используют полупроводниковую трехслойную структуру, например, р-и-р - типа с тонкой плен. кой диэлектрика, на которую после соприкоо новения с исследуемой средой подают напря. жение и регистрируют изменение тока во времени,по которому судят о характере адсорбций,
СмотретьЗаявка
1947233, 26.06.1973
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2763
ЛИДОРЕНКО Н. С, БУРОВ В. А, ЕГОРОВ Б. Н, МУЧНИК Г. Ф, РУБАШОВ И. Б
МПК / Метки
МПК: G01N 27/00
Метки: адсорбции, исследования
Опубликовано: 05.10.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-524414-sposob-issledovaniya-adsorbcii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования адсорбции</a>
Предыдущий патент: Полупроводниковый прибор
Следующий патент: Способ обработки сварных соединений
Случайный патент: Устройство для модуляции светового потока