Оптическая система эндоскопа

Номер патента: 1317338

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Волков, Донец, Скирда, Соболь, Суббота-Мельник, Шарапа

МПК: G01N 21/59

Метки: коэффициентов, оптических, пропускания, систем, спектральных, элементов

...и отражается от второго автоколлимационного зеркала 10, проходитсветоделитель 3 и поступает черезмонохроматор 13 на Аотоприемник 14.Блок 16 временного разделения лучей осуществляет поочередную подачу(на Аотоприемник 14) потоков излучения из измерительного и контрольногоканалов. Фотоприемник 14 вырабатывает периодическую последовательностьэлектрических сигналов, соответствующих монохроматизированным монохроматором 13 потокам излучения измерительного и контрольного каналов.Разделенные по временному признаку электрические сигналы с Фотоприемника 14 усиливаются усилителем 19,обрабатываются. раздельно демодуляторами 20 и 21, стробируемых сигналомс Аотодиода 25. Демодулятором 20 осу ществляется выделение и...

Номер патента: 1765803

Опубликовано: 30.09.1992

Авторы: Гвоздев, Кирилловский, Петрученко, Прохоренко

МПК: G01B 11/24, G04B 9/02

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей, систем

...которогоэлектрически связан с выходом фотоэле,рической матрицы, а выход- с механизмами 15подвижек, обеспечивает воэможность автоматизации настройки интерферометра засчет обработки сигнала, полученного на фотоэлектрической матрице при попадании нанее отраженного испытуемой системой в 20режиме автоколлимации изображения точечного источника света, блоком управления, который вырабатывает управляющиесигналы для приводов в зависимости от отклонения изображения точечного источника света от центра матрицы, что ведет такжек повышению производительности и достоверности контроля за счет ликвидации недетерминированных ручных операций, икроме того, обеспечивает повышение производительности при любой случайнойразъюстировке схемы контроля,На фиг, 1...

Номер патента: 586414

Опубликовано: 30.12.1977

Авторы: Бакланов, Сажин, Субботин

МПК: G02B 23/00

Метки: объектива, оптического, перемещения, элемента, эндоскопа

...5, закрепленные на поршне с помощью винтов 6, проходящих через продольные прорези 7 в окулярной секции 3, В дистальном конце 8 эндоскопа установлены неподвижный 9 и подвижный 10 компоненты объектива, пространство между которыми сообщается с атмосферой с помощью проточек 11 и отверстий 12, выполненных соответственно в оправе подвижного компонента 10 и в корпусе дистального конца 8, Кольца 13 и 14 ограничивают перемещение компонента 10 и, как и оправа этого компонента, могут быть выполнены из намагничиваемого материала.Когда компонент 10 упирается в кольцо 13 обеспечивается максимальный угол зрения для оптической системы эндоскопа. При перемещении поршня 1 в направлении к линзам окуляра уменьшается давление в полости между поршнем 1 и...

Номер патента: 1425505

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Контиевский, Назмеев, Новожилов, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01M 11/02

Метки: геометрии, оптических, поверхностей, систем

...выполнена в виде круглого отверстия иустановлена в фокусе объектива 5.Устройство 6 для вьделения контролируемых зон состоит иэ оптическихклиньев, установленных перед испытуемой деталью 7 вдоль прямой, перпендикулярной оптической оси коллиматора.Главные сечения клиньев параллельны 30друг другу и перпендикулярны укаэанной прямой; клинья расположены сим.метрично относительно оси коллиматораи выполнены с преломляющимися углами,величины которых пропорциональны расстоянию клиньев от оптической осиколлиматора.Измерительная система 8 представляет собой микроскоп с окулярмикрометром, В поле .зрения измерительной системы (фиг. 2 и 3) точками обозначены изображения диафрагмы, сформированные зонами испытуемой детали, вьделенными устройством...

Номер патента: 1580159

Опубликовано: 23.07.1990

Автор: Феоктистов

МПК: G01B 9/04

Метки: измерительный, качества, микроскоп, оптических, систем

...пластинка 3перпендикулярна оптической оси 00микроскопа, боковой сдвиг между интерферирующими фронтами равен нулю. 55Интерференционная картина имеетвид концентрических колец, число которых зависит от толщины пластинки 3, и не дает информации об искажениях волнового фронта. Конфигурация интерференционной картины подобна конфигурации контролируемой детали или зрачка контролируемой системы. Для получения информации об искажениях волнового Фронта необходимо ввести боковой сдвиг между интерферирующими фронтами. Боковой сдвиг вводится поворотом пластинки 3 вокруг оси, совмещенной с плоскостью шкалы 4. Угол поворота пластинки 3 составляет несколько градусов от исходного положения. Направление сдвига устанавливается поворотом пластинки 3 вокруг...