Способ бесконтактного измерения физических параметров сред в. с. скрипалева

Номер патента: 504920

Автор: Скрипалев

ZIP архив

Текст

сгг) 50492 О Сакгз Советских Социалистических Республик2072704/1822) Зтг 5 гвлего 15,1 с присоединением заявкиГосударственный когиитет Совета Министров СССР по делам изобретенийи открытийпубликоваио 76. Ь глетеиьгя описания 04.05,7 ата опубликов 1) Авторизобретения1) Заявители В. С. С Московский ордена Трудового и сплавов и Всесоюзный научно-и институт Цверипалеврасного Знамениследовательский гметавтоматика ститут стали(54) СПОСИЗИЧЕСКИХ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯРАМЕТРОВ СРЕД В. С. СКРИПАЛЕВА 2 Изобретение относится к ультразвуковым способам бесконтактного определения физических параметров сред и может быть использовано в металлургии для измерений толщины тонколистового материала в потоке, например при прокатке металлической фольги.Известен способ бесконтактного измерения параметров сред, например толщины, путем излучения в направлении контролируемого материала импульсов ультразвуковых колебаний, четверть длины волны которых устанавливают больше толщины контролируемого материала, в полупространстве излучения.Излучение ультразвуковых колебаний с одной стороны, а прием - с другой стороны контролируемого материала приводят к сужению области применения, так как измерения могут проводиться после заправки контролируемого материала в прокатный стан, а неконтролируемые передние и задние концы полосы выходят из полей допусков и обрезаются в отходы, достигающие 1 Ос)го от выхода годного материала.Цель изобретения - обеспечение измерения толщины в процессе заправки контролируемого материала в прокатный стан и повышение точности измерений,Это достигается тем, что измерение параметров контролируемого материала осуществляют в полупространстве излучения, ограниченном контролируемым материалом, а величшгу контролируемого параметра определяютпо выпрямленному току излучения, изменяющемуся в зависимости от суммарного сопро 5 пгвлеггия излученшо контролируемого материала и указанного полупрострапства излучегшя.На чертеже показана схема устройства дляреализации предлагаемого спосооа.10 Устройство содержит задагощгггг генератор1, соединенный через сопротивление 2 (пассивное плечо) аттенюатора 3 с излучателем 4ультразвуковых колебаний, который излучаетультразвуковые колебания в сторону контро 15 лируемого материала 5. Кроме того, устройство имеет преобразователь б и показывающийприбор 7,Задающим генераторомвырабатываютпрямоугольные импульсы напряжения и через20 сопротивление 2 направляют их на возбуждение излучателя 4, при помощи которого гзлучают ультразвуковые колебания в звукопроводную среду с контролируемым материалом.Четверть длины волны ультразвуковых коле 25 баний устанавливают намного больше максимальной толщины контролируемого материала, Ультразвуковые колебания создают у границы контролируемого материала чередую.щиеся зоны повышенного давления и разреЗ 0 жения. При оговоренном соотношении длинь,504920 мого материала с определенным статизмом независимо от возмущающих воздействий.Использование по предлагаемому способу одностороннего излучения ультразвуковых колебаний и определение толщины контролируемого материала по изменению электрического тока излучателя ультразвуковых колебаний расширяет область применения толщинометрии в фазах прокатки, Появляется возможность контролировать передний и задний концы прокатываемого металла, обычно обрезаемые в отходы. Способ бесконтактного измерения физических параметров сред, например толщины проката, путем излучения ультразвуковых колебаний, основанный на измерении параметров контролируемого материала в полупространстве излучения, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения измерения толщины в процессе заправки контролируемого материала в прокатный стан, величину параметра определяют по выпрямленному току излучения, изменяющемуся в зависимости от суммарного сопротивления излучению контролируемого материала и указанного полупространства излучения, при импульсном режиме излучения. Составитель Н, фомичев Редактор И. Грузова Техред Е. Подурушинаорректоры; Е. Хмелева и И. Позняковская Подписиров СССР Изд. И 1156 ПИ Государственного комитет по делам изобретений 113035. Москва, Ж.35, РауЗаказ 835 у 6 Тираж 864 Совета Мин открытий сная наб., д.4/5 ипография, пр. Сапунова,волны ультразвуковых колебаний и толщины контролируемого материала последний начинает вести себя как упругая оболочка, совершающая вынужденные колебания с частотой заполнения ультразвуковых импульсов, т. е.с 5 частотой колебания, обращенной к контролируемому материалу поверхности излучателя ультразвуковых колебаний, Таким образом, колеблющиеся слой воздуха и контролируемый материал являются связанной нагрузкой 10 излучателя ультразвуковых колебаний, эквивалентное сопротивление которой определяет ток через него. Величина этого эквивалентного сопротивления нагрузки зависит от упругих постоянных контролируемого материала и 15 его толщины. Для определения последней изменяющийся ток излучателя ультразвуковых колебаний преобразуют в постоянное напряжение, а при помощи показывающего прибора определяют толщину контролируемого ма териала.При изменении толщины контролируемого материала постоянным напряжением преобразователя 6 воздействуют на активное плечо 8 аттенюатора 3 и изменяющимся сигналом ат тенюатора корректируют возбуждение излучателя ультразвуковых колебаний, Коррекцию проводят в сторону уменьшения погрешности при воздействии возмущений. Таким образом, описанный контур обратной связи 30 следит за изменением толщины контролируеФормула изобретения

Смотреть

Заявка

2072704, 15.11.1974

МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ, ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ "ЦВЕТМЕТАВТОМАТИКА"

СКРИПАЛЕВ ВЛАДИМИР СТЕПАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 17/02

Метки: бесконтактного, параметров, скрипалева, сред, физических

Опубликовано: 28.02.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-504920-sposob-beskontaktnogo-izmereniya-fizicheskikh-parametrov-sred-v-s-skripaleva.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ бесконтактного измерения физических параметров сред в. с. скрипалева</a>

Похожие патенты