Способ настройки измерительных устройств

Номер патента: 491021

Автор: Мельничук

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено с присоединением заявки23) Приоритет Ввудеротееииый комитет Овеете Мииистеов СССР 1.717(088 8) 05 11 75 Бюллетень Уа 4 вания описания 02.03,76 публикова(53 ое лелем изебретеиий и откРытий(71) Заявитель Кра В, А, Мельничукорский научно-исследовательский и проектно-технологическиинститут машиностроения 4) СПОСОБ НАСТРОЙКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ УСТРОЙСТ твенно при первой К уставках зада ановленных коэф скомого Ка. способом могут ельные устройства,ами температурны телями температуры иента К температобъек в - а клоне а соответс ри второй иям уст Кот и лагаемымизмерит мпенсатор с измерикоэффиц лЕ= - К Каакс и тчика от- фициентов Кмакс иПред строень ные ко ностей чиками правки быть на- снабженх погреши задатурной пое 1,у измерении турных услоИзобретение относих измерений, а именнотемпературных погрешизмерениях.Известны способы настройки измерительных 5 устройств, снабженных компенсаторами температурных погрешностей с измерителями температуры и задатчиками поправочного коэффициента, заключающиеся в том, что несколько раз измеряют размер контролируемо го объекта при различных температурных режимах и регулируют уставку задатчика до достижения минимума температурной погрешности.Недостатком известных способов является 15 значительная трудоемкость, поскольку для удовлетворительной компенсации погрешностей изменения температурных режимов и измерения необходимо выполнять многократно, последовательно приближаясь к искомому 20 значению поправочного коэффициента, способ требует высокой квалификации работающего.Предлагаемый способ настройки упрощается за счет того, что контролируемый объект измеряют четырежды; при двух произвольных 25 температурных условиях Т, и Та и двух предельных уставках задатчика Кмакс и Кмпк а искомое значение поправочного коэффициента Кл находят из условия пропорциональности измеренных разностей А - В размеров 30 гд Л - величина поправки;Л 1 - измеренная величина отклонения поверхностной температуры детали от установочной температуры.В связи с недостаточно полными сведениями о распределении температур по сечению детали искомый коэффициент Ктемпературной поправки до начала настройки неизвестен,Способ настройки измерительных устройств заключается в следующем,При некоторых температурных условиях Т, измеряют с помощью настраиваемого устройства размер контролируемого объекта, сначала при уставке задатчика Как, и получают при этом результат измерения А, а затем при уставке задатчика Ки получают результат измерения а.Затем выполняют вторую парпри отличных от первых темпера491021 А в Ь - а Ка - Кмии 6 - а Кл - Киви Составитель В. РомановТсхред В, Рыбакова 1(орректор Е. Рожкова Редактор И. Бродскаи Подписное Заказ 219/2 Изд. Мз 150 Тираж 782 ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типографии, пр. Сапунова, 2 виях Т,. и получают вторую пару результатов измерения В и Ь.Искомой уставкой задатчика следует считать такую, при которой результаты измерений не будут зависеть от температурного режима.Гсли считать справедливым предложение о лиисй 11 ом характере зависимости величины искомой поправки от измеренной температуры, то искомую уставку задатчика можно найти из условия пропорциональности измеренных разностей размеров объекта А - В и 6 вотклонениям установленных коэффициентов К;е и К,пп, от искомового К: Предмет изобретения Способ настройки измерительных устройств,снабженных компенсаторами температурных погрешностей с измерителями температуры и задатчиками поправочного коэффициента, заключающийся в том, что контролируемый объект измеряют несколько раз и регулируют уставку задатчика, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения способа, объект измеряют четырежды: при двух произвольных температурных условиях и двух предельных уставках задатчика Квне и Кдди а искомое 10 значение К, поправочного коэффициента находят из условия пропорциональности измеренных разностей А - В и О - а размеров объекта соответственно при первой К и второй Ки уставках задатчика отклонениям 15 Установленных коэффициентов Кх 1 акс и Кппот искомого Кд

Смотреть

Заявка

1955719, 08.08.1973

КРАМАТОРСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНО ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ МАШИНОСТРОЕНИЯ

МЕЛЬНИЧУК ВИТАЛИЙ АРТЕМОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/08, G01B 7/06

Метки: измерительных, настройки, устройств

Опубликовано: 05.11.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-491021-sposob-nastrojjki-izmeritelnykh-ustrojjstv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ настройки измерительных устройств</a>

Похожие патенты