Способ измерения уровня жидкого металла в кристаллизаторе
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
юО П И С А Н И Е пц 486225ИЗОБРЕТЕНИЯ Соав Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 18.02.74 (21) 1999389/18-10 присоединением заявк Государственный комитет Совета 1 йинистров СССР(23) ПриоритетОпубликовано 30.09.75. БюллетеньДата опубликования описания 09.01.76(088,8) ло делам изобретений и открытий 72) Авторы изобретен(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ЖИДКОГО МЕТАЛЛА В КРИСТАЛЛИЗАТОРЕи име б и изображен спо металла.то измеряют ин внутренней сте ура которой ок металла, темп об На чертеже схематическ измерения уровня жидкогог:пособ состоит в том, ч сивность тепловой энергии кристаллизатора, температ 2 о 0"С, и зеркала жидкого еннки оло раИзобретение относится к области измерения уровня жидкого металла путем определения температуры стенок и металла оптическим сцосооом.Известные устройства для измерения уровня жидкого металла в кристаллизаторах на установках непрерывной разливки стали путем измерения температуры стенок кристаллизатора и металла с помощью термопар, располагасмых в зоне измерения с определенным 1 шагом на внутренней стенке водоохлаждаемого кристаллизатора, недостаточно точны и надежны.Цель изобретения - повышение точност надежности измерения уровня жидкого талла в кристаллизаторе.Это достигается тем, что по предлагаемому способу приемник тепловой энергии направляют на внутреннюю стенку кристаллизатора, и в момент резкого изменения интенсивности 2 излучения при переходе границы раздела двух сред стенка - металл по углу поворота термоприемника судят об измеряемом параметре. тура которого около 1550 С, с помощью приемника тепловой эерпш с длшшофокусной оптической системой. Для этого приемник 1 тепловой энерпш цяцрявлцот на верхнюю полость внутренней стенки 2 кристаллизатора, измеряют интенсивность теплового излучения стенки крцсталлпзятора, которая незначительна и свидетельствует об отсутствии жидкого металла в данном месте крпсталлизатора, а угол наклона приемника в всртикальцой плоскости относительно горизонтальной оси измеряют прибором, механически связанным с приемциком, и принимают за начало отсчета уровня в кристаллпзаторе. Далее поворачивают приемник излучения в сторону зеркала металла 3 и измеряют интенсивность теплового излучения внутренней стенки кристаллпзатора до момента резкого возрастания интенсивности теплового излучения, которая соответствует определенному углу поворота и направлению приемника теплового излучения на линию пересечения стенки кристаллизатора и зеркала металла, т, е, приемник воспринимает тепловое излучение и оси стенки кристаллцзатора ц от зеркала металла.По углу поворота приемника отцосительно горизонтальной оси, измеряемого прибором, судят об уровне жидкого металла в крцсталлпзаторс.486225 П р ед м ет изобретения Составитель В. Маркелов Редактор Т. Рыбалова Техред 3, Тараненко Корректор Т. ФисенкоПодписно: ипография, пр. Сапунова, 2 Способ измерения уровня жидкого металла в кристаллизаторе путем измерения температуры стенок кристаллизатора и металла, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и надежности, приемник тепловой каз 3259/8 Изд.1827 ЦНИИПИ Государственног по делам из Москва, Жэнергии направляют на внутреннюю стенку кристаллизатора, и в момент резкого изменения интенсивности излучения при переходе границы раздела двух срсд стенка в мета по углу поворота термоприемника судят об измеряемом параметре,Тирани 782комитета Совета Министров ССретений и открытийРаугпская наб., д. 415
СмотретьЗаявка
1999389, 18.02.1974
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8772
ХАРЛАНОВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ПОПОВ АНАТОЛИЙ ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01F 23/292
Метки: жидкого, кристаллизаторе, металла, уровня
Опубликовано: 30.09.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-486225-sposob-izmereniya-urovnya-zhidkogo-metalla-v-kristallizatore.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения уровня жидкого металла в кристаллизаторе</a>
Предыдущий патент: Датчик уровня жидкости
Следующий патент: Способ количественной регистрации ик-свч излучения
Случайный патент: Устройство для записи сигналограммы в виде равноотстоящих магнитных меток