Способ количественной регистрации ик-свч излучения

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1111 486226 Союз Советских Соыналистнческих Республик(22) Заявлено 19,10,72 1837 явки Ъ при игением сударственный комитет вета Министров СССР 23) Приорите бликовано 30.09.75. Бюллетень М 3 а опубликования описания 09,01.76(54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОИ РЕГИСТРА И К-С ВЧ-ИЗЛ УЧ ЕН ИЯ методам регист учения и може я ст уктч ы по Изобретение относится крации электромапн 1 итнопо излт использоваться для измерени р р лей излучения ИК-лазеров,Известен способ регистрации ИК-СВЧ-излучения путем фотометрирования фотопленки с изображением поля люминесценции облученного ИК-СВЧ-излучением тонкого экрана из л 1 оминофора с тепловым тушением, находящегося в термостате и равномерно облученнопо ультрафиолетовым излучением.Цель изобретен)ия - усооорение процесса и увеличение точности определения распределения мощности ИК-СВЧ-излучения.Это достигается терм, что по предлагаемому способу инфра 1 красным излучением эталонного источника, в качестве которого используют светодиод, оканируют по экрану, одновременно изменяя напряжение на светодиоде до совпадения яркостей люминофорного экрана и опор 1 ного светодиода, излучающего в видииой области спектра, а исследуемое излучение регистрируют по напряжению на эталонном инфракрасном светодиоде.Введение дополнителыного устройства регистрации позволяет калибровать люминесцентный экран и получать информацию о распределении мощности излучения в процессе реггистрации,Способ отличается от известного тем, что излучение эталовного инфракрасного светодиода сканируется по люминесцентному экрану, одновременно сравииваепся яркость этой люминесценции с яркостью калиброванного светодиода сравнения (видгюго излучения). При этом ультрафиолетовое излучение, вызывающее свечение люминесцентного экрана, регулируют так, что при максимальном рабочем напряжении на эталонном ин фракрасном светод 1 годе яркость люмИнесценции экрана и яркость светодиода сравнения совпадают. Далее на экран подают исследуемое ИК-СВЧ-излученпе и последовательно в каждой заданной точечке эоораиа доспигают 15 сОвпадения яркости экрана и яркости светодиода сравнения путем изменения иа инфракрасном светодиоде напряокения, по величине которого и судят о мощноеи ИК-СВЧ- излучения в задаиной точке экрана.20 Напряжение на инфракрасном светодиодерегистрируется на приборе, отградуированном в логарифмической шкале мощности излучения.Способ позволяет получить данные о рас пределении иптеисивности за несколыко секунд вместо нескольких часов для полей ИК-СВЧ-излучения достаточно простой аимметрии (круговое пятно, интерференциоиные полосы и т. д). При этом направление 00 сканирования выбирают в соответствии с486226 чают постоинньгм ультрафиолетовым и исследуемым ИК-СВЧ-излучением, о тл и ч а ющ и й с я тем, что, с целью ускорения процесса и увеличения точности определения распределения мощности ИК-СВЧ-излуче.ния по заданному направлению, соопветствующему симметрии задачи, инфракрасным излучением эталонного источника, в качестве которого использу 1 от светодиод, сканируют 10 по экрану, одповременно изменяя напряжение на светодиоде до совпадения яркостей люминофорного экрана и опорного светодиода, из,тучающето в видимой облаети спектра, а исследуемое излучение регистрируют 1 по 15 напряькению на эталонном инфракрасномсветодиоде. Составитель Ю. Воронов Техред 3. Тараненко Редактор Е. Караулова Корректор О, Тюрина Заказ 3255/13 Изд.1866 ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и Москва, К, РаушскаяТипография, пр. Сапунова, 2 симметрией картины распределения поля излучения, наблюдаемопо визуально иа л 1 оминесцентном экране.Способ позволяет значительно повысить точность измерений, так как вместо определекгия мощности излучения по величине почернения фотопленк 1 и при,регистрации теплового тушения люминофора ис 1 пользуется сравнение люминесцвнции со стабильным источником (светодиодом). Предмет изобретенияСпособ количественной регистрации ИКСВЧ-излучения с помощью размещенного в термостате экрана из люминофора с тепловым тушением, который одновременно облуТираж 740 ПодписноеСовета Министров СССРоткрытийнаб., д. 4/5