Способ контроля площади поверхности

Номер патента: 484390

Автор: Захватов

ZIP архив

Текст

11 11 484390 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз Советских Социалистических Ресеублик(23) ПриоритетОпубликовано 15.09,75Дата опубликования аявкиГосударствеииый комитет Совета Министров СССР(71) Заявитель СОВ КОНТРОЛЯ ПЛО ПОВЕРХНОСТИ 54 2 Предмет изоб тен и я поверхности пуконтролируемой алонной при их ции в растворах я в том, что изрической цепи с ок электрической Изобретение относится к измерительнои техничке.Известен способ контроля площади поверхности путем сопоставления площади контролируемой поверхности с площадью эталонной при их электрохимической поляризации в растворах электролитов, заключающийся в том, что измеряют отдельно ток электрической цели с эталонной поверхностью и ток электрической цепи с контролируемой поверхностью или общий ток этих цепей, а площадь контролируемой поверхности определяют как функцию от токов электрических цепей и площади эталонной поверхности. Известный способ обладает недостаточной чувствительностью, обусловленной неравномерным распределением силовых линий по контролируемой поверхности и диффузионными явлениями в электролите,С целью повышения точности контроль по предлагаемому способу осуществляют при плотностях тока 0,1 - 0,01 а/дм для раствороввысокой рассеивающей способностью, например для растворов нейтральных солей, и при плотностях тока 0,01 - 0,001 а/дм для растворов с низкой рассеивающей способностью, например при использовании растворов, содержащих легковосстанавливающиеся или лепкоокисляющиеся ионы,Способ контроля площади поверхности путем сопоставления площади контролируемои поверхности с эталонной поверхностью в гальванической ванне при использовании электролита с высокой рассеивающей способностью, в которой погружают определяемую поверхность вместе с эталонной, завешиваемых в качестве катодов и анодов. Измеряя при плотностях така 0,1 - 0,01 а/дм ток определяемой поверхности или ток всей ванны, определяют 1 О площадь поверхности из прямо пропорциональной зависимости между током и площадью с учетом площади эталонной поверхности.В случае применения растворов с низкой 15 рассеивающей способностью измеряют токпри плотностях 0,01 - 0,001 а/дм" и из той же зависимости определяют интересующую площадь. Экспериментальные данные подтверждают достаточно высокую точность описывае мото способа,Спосоо контроля площади 25 тем сопоставления площадиповерхности с площадью эт электрохимичеокой поляриза электролитов, заключающийс меряют отдельно ток элект 30 эталонной поверхностью и тЗаказ 3063/14 Изд.1794 Тираж 782 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4,5Типография, пр. Сапнова, 2 цепи с контролируемой поверхностью или общий ток этих целей, а площадь контролируемой поверхности определяют как фуп 1 ецию от токов электрических цепей и площади эталонной поверхности, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, контроль осуществляют при плотностях тока 0,1 - 0,01 а/дм для растворов с высокой рассеивающей способностью, например для растворов нейтральных солей, и при,плотностях тока 0,01 - 0,001 а/дм для растворов с низкой рассеива 1 ощсй опособностью например при использова пии растворов, содержащих легковосстанавливающиеся или легкоокисляющиеся ионы,

Смотреть

Заявка

1926714, 03.05.1973

КАЗАНСКИЙ ИНЖЕНЕРНО-СТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ

ЗАХВАТОВ ГЕРМАН ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 19/30

Метки: площади, поверхности

Опубликовано: 15.09.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-484390-sposob-kontrolya-ploshhadi-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля площади поверхности</a>

Похожие патенты