Матрица для определения критического радиуса изгиба

Номер патента: 475192

Автор: Шелков

ZIP архив

Текст

(ц) 47 И 92 Союз Советских Социалистических Республик(51) М. Кл. В 21 д 26/08 присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретенийи открытий(54) МАТРИЦА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОГО РАДИУСА ИЗГИБАедмет изобретения Изобретение относится к области обработки металлов импульсными нагрузками и может быть использовано преимущественно для определения критических изгибных деформаций деталей, имеющих ребра жесткости типа монолитных панелей.Известна матрица для определения критического радиуса изгиба при беспрессовой штамповке, выполненная с рабочей поверхностью, обеспечивающей переменную степень деформации образца.Однако эта матрица не обеспечивает возможности получения прямолинейных образцов, например, для механических испытаний с обеспечением одинаковой степенидеформации по длине образца, а также возможности определения достоверности результата испытаний, которая могла бы быть подтверждена, например, сравнительной картиной одновременной деформации неокольких ребер, находящихся в одинаковых деформационных условиях,Целью изобретения является повышение эффективности испытаний штампуемого образца.Это достигается тем, что рабочая поверхность матрицы выполнена в виде незамкнутого цилиндра с направляющей переменной кривизны, изменяющейся от минимальной до максимальной из излучаемого интервала. На чертеже схематично показана матрицас направляющей переменной кривизны, составленной, например, из сопрягающихся дуг увеличивающегося радиуса 1 Я(Я,(Я 3(Я 4).5 Кривизна, достигаемая испытываемым образцом, фиксируется матрицей, кривизна которой в любом месте известна, а точность определения критического радиуса изгиба заготовки, при котором происходят, например, о дотери устойчивости ребер заготовки, высокая.При этом не требуется наблюдения за образцом в процессе деформации и достаточно проведения осмотра образца после деформации. Матрица для определения критического радиуса изгиба при беспрессовой штамповке с рабочей поверхностью, обеспечивающей пере менную степень деформации, о т л и ч а ю щ а яс я тем, что, с целью повышения эффективности испытаний штампуемого образца, рабочая поверхность матрицы выполнена в виде незамкнутого цилиндра с направляющей пере менной кривизны, изменяющейся от минимальной до максимальной из изучаемого интервала, и, например, составленной из сопрягающихся дуг.475192 Составитель 1 О. ПерфиловТехред Т. Миронова Редактор О. 1 Оркова Корректор Е. Рогайлина Типография. по. Сапунова, 2 Заказ 2219 9 Изд. М 1559 Тираж 966 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж-З 5, Раушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

1877303, 01.02.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5671

ШЕЛКОВ ВИТАЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: B21D 26/08

Метки: изгиба, критического, матрица, радиуса

Опубликовано: 30.06.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-475192-matrica-dlya-opredeleniya-kriticheskogo-radiusa-izgiba.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Матрица для определения критического радиуса изгиба</a>

Похожие патенты