Способ измерения диаметров отверстий

Номер патента: 461298

Авторы: Зарецкий, Любомиров, Панин, Сегалович, Шеметило

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ т 1 ц 46298 Союз Советских Социалистмцескмх Республик(32) ПриоритетОпубликовано 25,0 суд ове под ственныи камите Министров СССР ам изооретенийоткоытнЙ(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ ОТВЕРСТ Изобретение относится к технике линейных измерений,Известны способы измерения диаметров отверстий на измерительных компараторах с помощью сферических измерительных наконечников, установленных на гибких держателях (проволочках), заключающиеся в том, что определяют точки касания измерительных наконечников с контролируемым объектом, настраивают компаратор по образцовой мере при заданном положении сферических измерительных наконечников, затем перемещают наконечники до касания с границами контролируемого объекта, измеряют путь, пройденный измерительными наконечниками, и по величине пройденного пути судят о разности измеренного и настроечного размеров. Однако погрешность аттестации образцовой меры входит в погрешность измерения.Предложенный способ отличается тем, что настройку компенсатора выполняют при взаимном касании сферических измерительных наконечников точками касания с контролируемым объектом. Способ отличается также и тем, что для обеспечения взаимного касания сферических измерительных наконечников при настройке один из наконечников выводят из плоскости измерения, обходят им второй измерительный наконечник, восстанавливают положение измерительного наконечника на линии измерения, после чего приводят измерительные наконечники во взаимодействие.На фиг, 1 изображена настройка компаратора; на фиг, 2 - измерение диаметра от.5 Всрстий.Сферические измерительные наконечникии 2 закреплены на гибких держателях 3 и 4 (проволочках) . Координата, характеризующая положение измерительного наконечника, мо жет быть отсчитана с помощью компаратора(на чертеже схематически представлен шкалой 5). Для настройки компаратора определяют точки касания измерительных наконечников с контролируемым объектом, затем сфе рические измерительные наконечники 1 и 2приводят во взаимодействие точками касания с контролируемым объектом. Измерительный наконечник 1 (см, фиг. 1) расположен слева, а измерительный наконечник 2 - справа. Для того, чтобы привести измерительные наконечники в такое положение, один из них, например наконечник 2, выводят из плоскости чертежа, обходят им измерительный наконечник 1 и снова вводят его в плоскость измерения, после чего настраивают компаратор на нуль.После выполнения настройки наконечником 2 обходят наконечник 1, раздвигают измерительные наконечники 1 и 2 до касания с границами контролируемого объекта и отмечают 30 пути 1, и 4, пройденные каждым из наконеч461298 Фиг.1 Составитель В. РомановРедактор Т. Шагова Техред Е, Борисова Корректор Н. Стельмах Заказ 843/17 Изд.429 Тираж 782 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 ников. Измерительный наконечник 1 (см. фиг. 2) находится справа, а измерительный наконечник 2 - слева, Касание измерительных наконечников между собой и с границами контролируемого объекта отмечается с помощью электронного индикатора касания, величины путей 1, и 1 з - при помощи счета интерференционных полос,Диаметр контролируемого отверстия принимают равным- 11+ 1 гПредмет изобретения1. Способ измерения диаметров отверстий на измерительных компараторах с помощью сферических измерительных наконечников, установленных на гибких держателях (проволочках), заключающийся в том, что определяют точки касания измерительных наконечни. ков с контролируемым объектом, настраивают компаратор при заданном положении последних, затем перемещают измерительные наконечники до касания с границами контролируемого объекта, измеряют путь, пройден ный измерительными наконечниками, и по величине этого пути судят о разности измеренного и настроечного размеров, отличающи й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, настройку компаратора выпол няют при взаимном касании сферических измерительных наконечников точками касания с контролируемым объектом.2. Способ по п. 1, отличающийся тем,что при настройке компаратора один из из мерительных наконечников выводят из плоскости измерения, обходят им второй наконечник, восстанавливают положение измерительного наконечника на линии измерения, после чего приводят измерительные наконечники во 20 взаимодействие.

Смотреть

Заявка

1875377, 08.01.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4885

СЕГАЛОВИЧ ЛЕВ ВЛАДИМИРОВИЧ, ШЕМЕТИЛО ГАЛИНА ФЕДОРОВНА, ЗАРЕЦКИЙ ЭЙЗЕР КЕЛЬМАНОВИЧ, ПАНИН ГЕЛИЙ ИВАНОВИЧ, ЛЮБОМИРОВ СТАНИСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 5/12

Метки: диаметров, отверстий

Опубликовано: 25.02.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-461298-sposob-izmereniya-diametrov-otverstijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения диаметров отверстий</a>

Похожие патенты