Способ определения глубины дефекта при радиографии изделий

(11) 458744 Союз Советских Социалистических Республик(32) Приоритет Государственный комите Совета Министров ССС летень М 4 публиковано 30,01.75. Бю 20.179,152 088,8) по делам иэобретеи и открытий Дата опубликования описания 19.03.7 72) Авторы изобретения абибулц В. Ф, Трубин, А. М. Т ов и(71) Заявит ДЕФЕКТ 4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛ ПРИ РАДИОГРАФИИ И И кта, лцоо кана Изобретение относится к,неразрушающцм методам контроля качества материалов и изделий и может использоваться для определения глубины дефекта црц радцографпи изделий.,Известны способы определения глубинны дефекта в материале или изделии, основанные на сраьненци интенсивности почернения,радиографпческой пленки в участке, соответствующем месту расположения дефекта, с интенсивностью почернения радиографической аленки дефектометра путем вцзуальной оценки или фотометрцц. Однако если размер дефекта составляет доли миллиметра, а неправильная его форма не позволяет использовать метод фотометрцрованця цз-за неоднородной плотности изображения его на радиографцческой пленке, применение известных способов становится затруднительным, а иногда невозможным.Целью изобретения является повышение объективности и точности определения глубины дефекта, получение возможности измерения дефекта, имеющего неправильную форму и малый размер (менее 1 мм).Для этого по предлагаемому способу радиографирование производят многократно,с последовательно уменьшающимися экспозициямц до исчезновеня изображения на радиографическои пленке либо дефе вки дефектометра.В результате подбирается такая экспозиция, когда вследствие нелинейного характера5 области недодержек характеристической кривой коэффициент контрастности изображениялибо канавок дефектометра, либо дефекта нарентгенограмме равен нулю ц изображениелибо канавки дефектометра, либо дефектао (в зависимости от их величины в направлении пучка),сливается с,фоном (исчезает).Таким образом, если на выбранной рентгенограмие сохранилось толькино изображениеканавок дефектометра, можно заключить, что5 размер дефекта в направлении пучка меньшеглубины канавки дефектометра, и наоборот,В частном случае, прц,равенстве размеровдефекта ц канавок дефектометра исчезаютоба изображения.0 Определение размера дефекта в направлении пучка, например, в металле тонкостенногоцилиндра производится следующим образом.На дефектный участок цилиндра со стороны, противоположной источнику излучения,5 устанавливают, кассету с рентгеновской пленкой,Внутрь цилиндра рядом с дефектным участком укладывают свинцовую пластину толщиной около 2 мм, а сверху кассету с рентгеновКорректор В. Брыксина Редактор Е. Караулова Заказ 608/6 Изд.068 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, и р. С зпунов а, 2 ской пленкой и дефектометр, представляющий металлическую пластинку толщиной, равной толщине материала просвечиваемого участка, с нанесенной на ней прямоугольной канавкой с определенной глубиной. Внутрь цилиндра под дефектным участком и дефектометром устанавливают источник излучения. После этого п 1 роизводят серию операций просвечивания, каждый раз с другими кассетами. Первая экспозиция выбирается в два раза меньшей, чем экспозиция стандартного режима просвечивания, Затем экспозиции выбираются в два раза меньше последующих. Количество просвечиваний, как правило, не превышает 4 - 5 раз.Экспонированные пленки должны обязательно подвергаться одновременной обработке(проявление, фиксирование, промывка, сушка).Предмет изобретения 5 Способ определения глубины дефекта,прирадиотрафии изделий, основанный на совместном радиографировании изделия и дефектометра, с последующим сравнением плотности почернения изображения дефекта и канавок 10 дефектометра на,радиографической пленке,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с,целью повышения точности определения глубины дефектов малого размера и неправильной формы, радиографирование производят многократно с 15 последовательно уменьшающимися экспозициями до исчезновения изображения на радио- графической пленке либо дефекта, либо канавки дефектометра.