Способ количественного анализа металлов и их сплавов

Номер патента: 45441

Автор: Введенский

ZIP архив

Текст

1) х; = ат, е, выбранный отрезок линии примеси одинаково интенсивен с одним из отрезков линии основного эле. иента. В этом случае логарифм интенсивности линии примеси: 1) 1 д 7 = а + (а, - а, );2) а. ( х ( а,.т. е. х; лежит по интенсивности в интер. вале между двумя отрезками линии ос. новного элемента а,.и аВ этом случае наблюдают попеременно а. , х; и а, стараясь определить, к какому из двух отрезков линии основного элемента ближе данный отрезок линии примеси.Если этот вопрос решить трудно, то заключают, что х; лежит в середине интервала между а,и а, и результат записывают в форме оценки;а, ,5 х;, 5 аЕсли х; определенно ближе к а; - , чем к а, то результат оценки может быть записан так: а ,Зх;,7 а,. в обратном случае:а.,7 х;,За,Для любой оценки а, ,тх;,па,логарифм интенсивности линии примесивычисляется по формуле:1 д 1= а, +-,"-,(а,- а )+(а, - а, ). Способ количественного анализа металлов и их сплавов, основанный насравнении интенсивности спектральныхлиний путем применения ступенчатого фильтра, отличавшийся тем, что для уточнения и облегчения анализа интен. сивность спектральных линий опреде- ляют по способу фотометрического интерполирования Эдуарда Пиккеринга. Рекомендуется вычислить заранеетаблицу значений 1 а 1 для всех оценок: в каждой паре и, получив оценку, сразуЪь3 ф Гий;,Течзтдый Труд". Зак. бб 44 - 4-- = с 2-- ,брать 1 д 1 из таблицы, В каждой парепроизводится несколько оценок междуразличными ступеньками и из них берется среднее значение 1 а 7,Имея набор образцов сплава с различными содержаниями элемента примеси, производят в спектре каждогообразца определение 1 ц 7 и строятгра-дуировочную кривую, откладывая по осиабсцисс 1 д У, а по оси ординат - процентное содержание элемента примеси. Кривая строится один раз и служит для всехдальнейших анализов, поэтому при еепостроении нужно иметь возможно больше данных.Спектр электрической искры или дугимежду электродами из исследуемогосплава фотографируется спектрографом,снабженным платиновым ступенчатымослабителем на кварцевой пластинке,предварительно проградуированным,Ступенчатый ослабитель должен да.вать градацию интенсивности междукаждыми двумя последовательными ступеньками в 1,52,5 раза (что соответствует изменению логарифма интенсивности на 0,17 - 0,40), Фотографированиеспектров ведется всегда при одних итех же условиях разряда (сила токарасстояние между электродами и т, д.).П редмет изобретения.

Смотреть

Заявка

158332, 03.12.1934

Введенский Л. Е

МПК / Метки

МПК: G01J 3/32

Метки: анализа, количественного, металлов, сплавов

Опубликовано: 31.12.1935

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-45441-sposob-kolichestvennogo-analiza-metallov-i-ikh-splavov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ количественного анализа металлов и их сплавов</a>

Похожие патенты