Способ диогностики оптически плотной плазмы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 438920
Авторы: Гаврюшенко, Халбошин
Текст
. ф 1 фмспдка МИ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУи 1 438920 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 09.08.72 (21) 1819078/26-25с присоединением заявки У 51) М. Кл. б 01 п 27/2 Приоритет осударственный комите Совета Министров СССР по делам изобретений Опубликовано 05.08.74. Бюлл 53) УДК 533,07:62.38пь2 ткрыти опубликования описания 21,1.7(72) Авторы изобретения врюшенко и А. П, Халбош(71) Заявител 54) СПО ИАГНОСТИКИ ОПТИЧЕСКИ ПЛОТНОЙ ПЛАЗМЫ етения дмет из Способ диагн плазмы путем со тического и зонд лич ающийся ния диапазона д измеряют спектр оптически плотнои о использования оптодов измерений, о т, с целью расширеисследуемои плазмы, методом температуостикивместногвого метем, чтовленийальным Изобретение относится к способам диагностики плазмы.Известен способ измерения температуры плазмы путем введения в нее электрического зонда, регистрации его вольтамперных характеристик и обработки последних с целью определения температуры по различным теориям электрических зондов.Недостатком этого способа является возможность получения в плотной плазме дугового разряда, разрушающего зонд до окончания процесса регистрации всех вольтамперных характеристик. Поэтому применение способа ограничено,Кроме того, зондовые теории не учитывают некоторые факторы; размеры и материал зонда, природу плазмы, характеристики измерительной цепи.Изобретение позволяет расширить диапазон исследуемых давлений плазмы в сторону верхней границы.Сущность предложенного способа диагностики состоит в следующем. Выбирается опорная область, например внешняя поверхность положительного столба дугового разряда. На нее наводится спектральный прибор, с помощью которого определяется температура поверхностного слоя опорной области. Так как с увеличением давления плазмы уменьшается длина свободного пробега фотона (становится меньше характерных размеров опорноп области), то спектральный прибор позволит определить температуру в поверхностном слое опорной области толщиной не более длины 5 свободного пробега фотона данной частоты.Далее вводят в опорную и исследуемые области плазмы электрический зонд, фиксируют его плавающие потенциалы. Затем определяют искомую температуру как произведение О температуры опорной области на отношениеизвестных из теории электрических зондов функций, которые определяют температуру плазмы заданного давления через плавающий потенциал, Указанное отношение не зависит 5 от материала зонда, природы плазмы, так какопределяемые этими факторами множители к функциям неизменны и сокращаются, будучи подставленными в отношение, Предложенной комбинацией двух методик можно измерить О пространственное распределение температурыв оптически непрозрачной плотной плазме.438920 Составитель А. Палло Редактор Т. Орловская Техред 3. Тараненко Корректор 3. Тарасова Заказ 3711/13 Изд.126 Тираж 651 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раущская наб д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 ру плазмы во внешней области, линейный размер которой в направлении наблюдения меньше длины свободного пробега фотона данной частоты, регистрируют пространственное распределение плавающего потенциала в плазмеи судят о распределении ее температуры посоотношению плавающего потенциала и температуры в указанной внешней области.
СмотретьЗаявка
1819078, 09.08.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1857
ГАВРЮШЕНКО БОРИС СЕМЕНОВИЧ, ХАЛБОШИН АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/26
Метки: диогностики, оптически, плазмы, плотной
Опубликовано: 05.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-438920-sposob-diognostiki-opticheski-plotnojj-plazmy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ диогностики оптически плотной плазмы</a>
Предыдущий патент: Емкостный датчик
Следующий патент: Устройство для измерения объемного заряда, концентрации и спектра атмосферных ионов
Случайный патент: Способ регулирования процесса полимеризации