Устройство для измерения динамических параметров микросхем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 432431
Автор: Васильев
Текст
Сова Советскик Социалистических Ресаублиирисоедииением заявки -Государственныи комите Совета Министров СССР оо делам изобретений 32) Приоритет -53) УДК 621 317 799(088.8) бликовано 15,06.74. Бюллетень Ле 22 и открытии Дата опубликования описания 22.07.75(72) Автор изобретения А. Васильев 71) Заявит 54) УУТРОЙУТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМо отзис(а - тзис 11, -1 о 1 озис 1зис 1 а - 1 Изобретение относится к области ралиопзмерительных устройств.Известны устройства для измерения дина. мических параметров микросхем, которые состоят из ряда микросхем, образующих кольце вой генератор, испытываемой микросхемы ИС и двух ключей.С целью обеспечения возможности измерения времени переключения в предлагаемое устройство введен дискриминатор напряжения, 10 выход которого соединен с входом второго ключа, к одному из входов дискриминатора подключен выход испытуемой схемы, а к другому входу - регулируемый источник опорного напряжения.15На фиг. 1 приведена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - диаграммы напряжений на входе и выходе испытываемой схемы.Устройство состоит из схемы совпадения 1, схем, образующих кольцевой генератор 2, схемы 8, возбуждающей испытываемую схему, испытываемой схемы 4, двух ключей 5 и б и дискриминатора напряжения 7. Схемы 1, 2, 3 и 4 соединены госледовательно. Ключ 5 вклю чен между выходом схемы 3 и первым входом схемы 1. Один вход дискриминатора 7 подключен к выходу испытываемой схемы 4, а другой - к источнику изменяемого опорного НаиряжЕНИя (1 оо. КЛ 1 ОЧ б ВКЛЮЧЕН МЕжду ВЫ ходом дискриминатора 7 и вторым входомсхемы 1. Дискриминатор 7 переключается в момент достижения сигналом на его входе уровня заданного опорного напряжения, полярность выходных импульсов дискриминатора 7 (лля рассматриваемого случая неинвертирующсй ИС) совпадает с полярностью входных импульсов. Устройство вырабатывает импульсы, период повторения которых зависит от положения ключей 5 и б. При подаче на вход лискриминатора опорного напряжения (/,= Гг11 ополучают значения 1 зи (1 и 1 зис (/па при подаче (1 = С, - значения 1 11 а и 1 з (1о 1 1 о зис - исо 1 1 о(см. фиг. 2), гле 1 зп и 1 зи - время залержки испытываемой схемы при переключении из состояния О в состояние 1 и из 1 в О соответственно, Но, как видно из фиг. 2, разность времен задержек, измеренных ио отношению к одному и тому же уровню на вхолном импульсе, дает время переключения схемы, т. е. где 1 и - время ", переключения испытываемой схемы, определяемое из равенствТ. Морозова Редак Корректо ман аз 259/748 ЦНИИзд.1713И Государственного комит по делам изобрете 1 Москва, Ж, Рауш Тираж 678та Совета Министй и открытийкая наб., д, 4/5 ПодписноСССР Тнп. Харьк. фнл. пред. Патент. о 1=ТзК - ТДьо1 дис - Т 26- Т 30 - Т 2 У 2+ Т 202,где ТЕ/, и Тй 3, - период повторения кольца при подаче на вход дискриминатора 7 Ров = С/, и У, =У, соответственно, причем Т, соответствует замыканию ключей б и б, а Т 2 - замыканию ключа б.Таким образом, введение дискриминатора, опорное напряжение на выходе которого может изменяться, позволяет проводить измерение 1,и 1о 1 оИзмерение задержек базис и 1 аис в данг 1 гоном решении проводится так же, как и в известном устройстве. Ероме того, при использовании дискриминатора, полярность выходных импульсов которого противоположна полярности входных импульсов, можно проводить измерение параметров инвертирующих схем. Предмет изобретения Устройство для измерения динамическихпараметров микросхем на основе кольцевого генератора, содержащее схему совпадения, к выходу которой подключена цепь из госле О довательно соединенных микросхем, причемвыход последней микросхемы соединен с испытываемой микросхемой и через ключ - к одному из входов схемы совпадения, к другому входу которой подключен выход второго клю ча, отлссчающееся тем, что, с целью ооеспечения возможности измерения времени переключения, в него введен дискриминатор напряжения, выход которого соединен с входом второго ключа, к одному пз входов дискри минатора подключен выход испытуемой схемы, а ко второму входу - регулируемый источник опорного напряжения.
СмотретьЗаявка
1813075, 24.07.1972
Е. А. Васильев
МПК / Метки
МПК: G01R 31/303
Метки: динамических, микросхем, параметров
Опубликовано: 15.06.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-432431-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-dinamicheskikh-parametrov-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения динамических параметров микросхем</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения расстояниядо л1еста повреждения на отключеннойлинии распределительной сети12
Следующий патент: Устройство для линеаризациихарактеристик измерительных преобразователей
Случайный патент: Емкостный влагомер с датчиком двустороннего контакта для измерения влажности листовыхматериалов