Способ измерения зарядов статическогоэлектричества на поверхности образцадиэлектрика
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
пц 423058 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистицеских Реслублик(22) Заявлено 03.11.71 (21) 171211618-10 1)М. К,г 19 12 с присоединением заявки Ъ осударственный комит Совета Министров ССС ло делам изобретенийи открытий 32) Приоритет публиковано 05.04.74, Бюллетень13 ата опубликования описания 09.09,74 д 3) ДК 621 317 7(088.8) 2) Авторы изобретения Н. Шихов и Г, В. Медведев 71) Заявитель 4) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДОВ СТАТИЧЕСКО ЭЛЕКТРИЧЕСТВА НА ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦА ДИЭЛ ЕКТРИ КАоа функциональная схе ующего описываемьп Изобретение может быть использовано в устройствах измерения зарядов статического электричества на поверхности диэлектрических изделий произвольной формы.Известны способы измерения зарядов статического электричества на поверхности диэлектриков, основанные на измерении электростатической индукции. При этом наэлектризованное изделие из диэлектрика помещают между обкладками плоского конденсатора и измеряют наведенный на его обкладках заряд. Недостатком таких способов является увеличение погрешности измерения в случае отличия формы диэлектрического изделия от плоской, причем для образцов произвольной формы погрешность измерения может достигать 100%. Предложенный способ отличается от известных тем, что производят обдув наэлектризованного изделия ионизированным воздухом до полной нейтрализации на нем поверхностного заряда, измеряют скорость движения воздуха, определяют степень его ионизации до и после образца и вычисляют величину измеряемого заряда по полученным данным,Эти отличия уменьшают погрешность измерения величины зарядов статического электричества на поверхности диэлектрических изделий сложной формы,На чертеже приведенма устройства, реализспособ.Диэлектрический образец 1 помещается в 5 измерительную камеру 2 между обкладкамиконденсатора 3. По наводимому на обкладках этого конденсатора заряду судят об отсутствии или наличии зарядов статического электричества на поверхности диэлектрика.10 Образец обдувают ионизированным воздухомот специального источника 4, скорость движения которого измеряется прибором 5. С помощью размещенных в камере пар электродов 6 и 7 измеряют степень ионизации воз духа до и после обдува образца.Величина скорости движения воздуха выбирается предварительно в камере без образца из условия минимального отличия степени ионизации воздуха, определяемой с по мощью электродов б, от определяемой с помощью электродов 7. Обдув продолжают до полной нейтрализации зарядов на поверхности диэлектрика. Каждая пара электродов 3, 6, 7 должна быть выполнена в виде замк нутой линии для исключения потерь ионизпрованного воздуха. Предмет нзооретення Способ измерения зарядов статическоголектричества на поверхности образца ди.423058 Составитель В. Латышев Корректор О. Тюрина Редактор Е. Братчикова Текрсд А. Камышиикова Заказ 2224(17 Изд. Ъе 2 Тираж 678 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий й 1 осква, Ж, Раушская наб., д. 45Типография, пр, Сапунова, 2 электрика, основанный на измерении электростатической индукции, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, производят обдув образца диэлектрика ионизированным воздухом до полной нейтрализации на нем поверхностного заряда статического электричества, измеряют скорость движения воздуха, определяют степень ионизации воздуха до и после исследуемого образца и по полученным данным рас считывают величину измеряемого заряда.
СмотретьЗаявка
1712116, 03.11.1971
В. Н. Шихов, Г. В. Медведев
МПК / Метки
МПК: G01R 19/12
Метки: зарядов, образцадиэлектрика, поверхности, статическогоэлектричества
Опубликовано: 05.04.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-423058-sposob-izmereniya-zaryadov-staticheskogoehlektrichestva-na-poverkhnosti-obrazcadiehlektrika.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения зарядов статическогоэлектричества на поверхности образцадиэлектрика</a>
Способ отмывки поверхностей образцов от органических загрязнений и устройство для его осуществления
Номер патента: 1058645
Опубликовано: 07.12.1983
Авторы: Васильева, Кузнецов, Малашенкова, Морозов
МПК: B08B 3/00
Метки: загрязнений, образцов, органических, отмывки, поверхностей
...образцов от органических загрязнений, содержащее резервуар-испаритель, раоочую камеру для размещения отмываемого образина, связанный с рабочей камерой с помощью паропровода обратный холодильник, и колонку для очистки моющего агента, снабжено накопителем конденсата,-связанным с холодильником отводной трубкой, соединенным с рабочей. камерой переливной трубкой с перепускным клапаном, а рабочая камера размещена над испарителем и связана с ним с помощью клапанаколпачка, при этом входная трубка колонки для очистки моющего агента соединена с рабочей камерой, а выходная - с резервуаром испарителем.Способ отмывки поверхностей образцов от органических загрязнений осуществляется следующим образом. ф,В рабочей камере создают поток пара кипящего...
Устройство отмывки поверхностей образцов от загрязнений
Номер патента: 1315036
Опубликовано: 07.06.1987
Авторы: Анфимов, Кирш, Кузнецов
МПК: B08B 3/04
Метки: загрязнений, образцов, отмывки, поверхностей
...резервуар-испаритель 3 через горловину 18 заливают растворитель и с помощью подогрева доводят его до кипения, Пары растворителя по обогре- ваемому паропроводу 8 поступают на обогреваемый фильтр 7 который фильт 36 2рует пары растворителя от микрочастиц. Обогрев паропровода и фильтра производится для перегрева поступающих иэ резервуара-испарителя паров растворителя с целью исключения их конденсации на Фильтрующем элементе фильтра 7. Далее очищенные от микро" частиц пары растворителя проходят через клапан-колпачок 2 и рабочую камеру 1 в обратный холодильник 11, где конденсируются, и конденсат стекает в накопитель 14. После накопле".ния определенного количества конденсата в накопителе 14 происходит автоматический перелив...
Устройство для наблюдения процессов на поверхности образцов
Номер патента: 729692
Опубликовано: 25.04.1980
МПК: H01J 37/26
Метки: наблюдения, образцов, поверхности, процессов
...снабжено Фильтром электронов термоэмиссии, расположенным между упомянутой рабочей поверхностью и детектором вторичных электронов,На чертеже дана схема устройства.Оно состоит из блока нагрева 1,Фильтра-сетки 2 электронов термоэмиссии, детектора 3 вторичных электронов, столика 4, пушки 5 микроскопа,линии 6 откачки внутренней полостиустройства.Фильтр электронов термоэмиссиипредставляет собой латунное кольцодиаметром 80-120 мм (в зависимостиот размеров нагревателя), на которомнатянута латунная сетка с размеромячеек 2-5 мм, Сетка выполнена из латунной проволоки диаметром 0,2-0,5 ммЛатунная сетка через изолятор крепится к панели микроскопа. К сеткеприсоединен электропровод, соединенный с дополнительным регулируемымисточником...
Приспособление для нанесения сеток на поверхность образца
Номер патента: 1601509
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Бикбаев, Реутов, Шатохин
МПК: G01B 5/30
Метки: нанесения, образца, поверхность, сеток
...перемещении каретки 10 понаправляющим 11 с помощью винта 12при повторном отпечатке изменяетсяшаг наносимой сетки на поверхностииэделия, 45Каретка 10 к планке 5 крепитсяжестко винтами (показаны осевыми линиями). Каретка 10 перемещается относительно направляющей 11 совместнос планкой 5 и проволокой 7. Направ- .50ляющая 11 жестко связана с втулкоивинтами. С помощью вала 15 осуществляетсяповорот каретки 10 для нанесениясемейств пересекающихся линий, Вал15 может быть закреплен, например, вштативе. Угол пересечения семействпересекающихся линий Фиксируется с помощью втулки 14 и вала 15, имеющих шкалу в градусах и образующих нониус. Изменение шага сетки и ее сгущение на поверхности изделия в необходимых исследователю местах (например,...
Устройство для снятия реплик с поверхности образцов
Номер патента: 1779974
Опубликовано: 07.12.1992
Авторы: Гурин, Дешин, Климовицкий, Северин
МПК: G01N 1/28
Метки: образцов, поверхности, реплик, снятия
...крепятсядатчик, имеется паэ, позволяющий осуществлять его перемещения в период юстировки устройства.Образец с репликой, источник и приемник света жестко закреплен и связаны световым пучком, При погружении образца с репликой в жидкость (воду) под углом по 1779974следняя, отделяясь от образца в результатедействия сил поверхностного натяжения,располагается горизонтально (на поверхности воды), изменяя при этом значения угловпадения и отражения светового пучка. Сигнал, сформированный при этом приемником, используется для автоматическогоперемещения образца с еще не снятым участком реплики в аналогичное положение ит,д. Жесткость всей конструкции, а также 10плавность перемещения образца с репликой только после снятия предыдущего участка...
Предыдущий патент: Электроизмерительный прибор
Следующий патент: Устройство для контроля постоянного напряжения
Случайный патент: Автоматический многоканальный пирометр спектрального отношения