Способ определения глубины

;,; юрс,ъсо,о -до 1 с 5,1 чссив 3у 1 А 404004 СПИ НИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советсииз Сациапистимеский РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства6 01 п 23/18 (Ь 01 Ь 15/02 Заявлено 17,111.1965 ( 947744/26-25) с присоединением заявкиПриоритет Опубликовано 26.Х.1973. Бюллетень43 Дата опубликования описания 19.111.1974 Государственной комитет Совета Министров СССР оо делом изобретении и откротииК 621.039.84(088,8) Авторизобретения Заявитель О, И, Недавний Томский ордена Трудового Красного Знамен политехнический институтСПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЬ ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТА ПУТЕМ ПРОСВЕЧИВАНИЯ ИЗДЕЛИЯ ИОНИЗИРУЮЩИМ ИЗЛУЧЕНИЕМглубина залегания де ектдефекта,изделием за времярегистрации дефеки 3,коллиматоров,чника излучения до Изобретение относится к интроскопии, а именно к использованию радиоактивных излучений для определения качества материалов и изделий, например для определения глубины залегания дефекта или неоднородности в материале, изделии.Известен способ определения глубины залегания дефекта при помощи двухканального иопизационного дефектоскопа.Однако известный способ не позволяет автоматизировать процесс определения.Целью изобретения является автоматизация процесса определения глубины залегания дефекта,Для этого в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излучения, и при перемещении изделия в направлении, перпендикулярном биссектрисе острого угла, измеряют время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, по величине которого судят о глубине залегания дефекта,На чертеже приведена схема устройства, при помощи которого можно реализовать предложенный способ.В расходящемся пучке излучения источника 1 устанавливают два коллимнрованных детектора 2, 3, оси коллиматоров которых пересекаются в точке расположения источника излучения 1 и составляют угол а.Контролируемое изделие 4 перемещают соскоростью т между источником излучения 1и детекторами 2, 3 в направлении, перпендикулярном биссектрисе угла а.Коллиматоры детекторов вырезают из потока излучения узкие пучки, и детекторы 2, 3регистрируют прохождение (пересечение) де фектом 5 пучков излучения. Сигналы с детекторов 2, 3 подают на блок измерения 6.При различной глубине а залегания дефекта 5 при постоянной скорости Р перемещенияизделия 4 за время 1 между моментами реги страции дефекта 5 первым 2 и вторым 3 детекторами излучения изделие пройдет различные пути 6. где а - глубина залегания25 6 путь, пройденныймежду моментамита и детекторамии - угол между осямс - расстояние от ис 130 изделия.(2) Предмет изобретения Составитель В, Лындин дактор А. Зиньковский Текред Л. Камышникова Корректор 3. ТарасовИзд.187 ПИ Государственного комитета по делам изобретений и Москва, )К-З 5, РаушскаяТираж 755Совета Министров ССоткрытийаб., д, 4/5 Заказ 604/10ЦН дписн ипография, пр, Сапунова, 2 Введя скорость перемещения изделия, полу- чим где 1 - скорость перемещения изделия,1 - время между моментами регистрациидефекта.Способ может быть реализован при использовании большинства существующих дефектоскопов, а процесс определения глубины залегания дефекта автоматизирован известными средствами. Способ определения глубины залегания дефекта путем просвечивания изделия ионизирующим излучением при помощи двухканального ионизационного дефектоскопа, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью автоматизации процесса определения, в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излу чепия, и при переме 1 цении изделия в направ.ленни, перпендикулярном биссектрисе острого угла, измеряют время между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучения, а глубину залегания дефекта 10 определяют по формулеУ 1 аа= с 1 д -- с,2 2 где а - глубина залегания дефекта,15 к - скорость перемещения изделия,1 - время между моментами регистрациидефекта первым и вторым детекторами излучения,а -- угол между осями коллиматоров,20 с - расстояние от источника излучениядо изделия.