Двухволновой цитофотометр с цифровым отсчетом

Номер патента: 1001183

Опубликовано: 28.02.1983

Авторы: Бабаев, Бакакин, Митрофанов, Толчинский

МПК: G11C 29/00

Метки: блоков, памяти, параметров

...5) элемент ИЛИ 63 и элементы ИЛИ 64 - 66.Блок задания эталонных напряжений содержит ( фиг. 6) коммутатор 67 и стабилизаторы 68 - 70 напряжения.Формирователь эталонных кодов содержит фиг. 7) элементы ИЛИ 71 - 73 и элементы И 74 - 82, выполняющие Функции шифратора, количество которых определяется разрядностью числа и количеством кодов, необходимых для работы устройства.На фиг. 7 обозначены входы 83 питания формирователя.Устройство работает следующим образом.Последовательность видов измерения параметров задается счетчиком 6 (Фиг, 1). Переход к следующему виду измерения производится изменением его состояния вследствие прибавле ния единицы, поступающей с формирователя 7 на вход счетчика б, или путем ввода параллельного кода на вход блока...

Номер патента: 1169019

Опубликовано: 23.07.1985

Авторы: Бурик, Кис, Псарев, Тищенко

МПК: G11C 11/00

Метки: блоков, источнику, памяти, питания, подключения

...функциональная схем а устройства для переключения блоков памяти.Схема содержит основные 1 и дополнительные 2 блоки памяти, управляющий вход 3 устройства, шину 4 питания, дополнительный ключ 5, дешифратор 6, элементы И 7 первой группы, элементы И 8 вто-, г, цы 9 первой группы, триггеры 1 О второй группы, ключи 11 первой группы, ключи 12 второй группы, адресные входы 13 и входы 14 устройства.Устройство может работать в трех режимах: с основными блоками 1 памяти; с дополнительными блоками 2 памяти; с замещением отказавших основных 1 на дополнительные 2 блоки памяти (количество замегцецных разрядов 1 - и, где п - количество разрядов) .Прц подготовке к работе питание с шины 4 подастся ца ключи 5, 11 и 12. При наличии сигнала на входе 3...

Номер патента: 1364902

Опубликовано: 07.01.1988

Авторы: Забродский, Ловинский

МПК: G01J 5/00

Метки: излучения, импульсного, источника, максимального, оптического, потока

...от его длительности. Зарегистрированные с помощью устройства выборки и хранения информации преобразованные электрические сигналы от обоих источников 2 и 3 сравнивают с помощью устройства 10 сравнения. При этом осуществляют сравнение амплитуд сигналов, соответствующих амплитудам суммарного сигнала ФПУ 4, В результате сравнения выявляют отклонение между соответствующими амплитудами, После этого изменяют соответствующим образом с помо щью устройства 13 регулирования тока источника поток излучения источника 3, добиваясь отсутствия этого отклонения. С помощью устройства 11 индикации фиксируют отсутствие отклонения между значениями амплитуд преобразованных сигналов, После чего приписывают размеру единицы максимального потока импульса...

Номер патента: 399763

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Комиссаров

МПК: G01N 9/24

Метки: вещества, оптически, плотности, прозрачного

...полос параллельно направлению дисперсии, т. е. когда интерференционпые полосы ориентируются перпендикулярно входной щели спектрографа, будет наблюдаться следующая картина. При равенстве оптических путей трех лучей длл всех длин волн (Л(Х,) =О) вдоль спектра расположатсл трехлучевые интерференцпонные полосы с постоянной интенсивностью вдоль спектра (см, фиг. 2, а). Если между средним и краиними лучами ссгь 1 зазность хода Л(Х) изменяющаяся с длиной волны, т. е. если создан градиент разности хода вдоль спектра, то интенсивность интерференционной полосы будет периодически изменяться вдоль спектра. Причем между главными и побочными полосами будет сдвиг по фазе на половину периода. В результате этого в спектроиптерферепционной картине...

Номер патента: 808983

Опубликовано: 28.02.1981

Авторы: Подгорный, Терлецкая

МПК: G01R 27/26

Метки: веществ, диэлек-трических, параметров

...измерительного контура, сортветствующая его настройке с заполненной исследуемым веществом ячейкой, равна емкости иэмери тельного контура, настроенного спустой ячейкой на.частоте генератора мР.Таким образом, функциональное изменение частоты настройки измерительного контура обеспечиваетнезависимость емкости настроенногоизмерительного контура от проводимости ячейки и, следовательно, независимость результата измеренияемкости ячейки от ее проводимости,чем повышается точность определениядиэлектрической проницаемости веществ, обладающих большими потерями.На чертеже представлена схемапредлагаемого устройства.Устройство состоит из генератора1, модулятора 2, емкостного сопротивления 3 связи, подключенного содной стороны к питающему...