Способ контроля качества неэлектропроводкых покрытий на электропроводной основе

Номер патента: 987004

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Васильев, Гуревич, Каспаров, Коротков, Новицкий, Прозоров, Савватеев, Сокуренко, Филинов, Яковлев

МПК: E01C 5/00

Метки: аэродромного, дорожного, напряженная, плита, покрытия, предварительно, сборного

...отверстий и по элементудля выпрессовки плиты,Плита представляет собой несущуюконструкцию 1, боковые стороны 2которой имеют уклон к нижней поверхности 3, причем размер нижней опорной поверхности 3 превышает размерверхней поверхности 4, а в плите выполнены сквозные монтажные отверстия5, расположенные симметрично по продольной оси несущей конструкции 1.В несущей конструкции 1 торцовые поверхности б выполнены с положительным уклоном к нижней опорной поверхности плиты. Плита изготавливаетсяв жестком силовом поддоне 7, имеющем упоры 8, в которых закрепляется предварительно-напрягаемая арма-.тура 9. К силовому поддону 7 жестко прикреплены продольные 10 и торцовые 11 борта, которые выполненыс отрицательным уклоном к нижней поверхности...

Номер патента: 124507

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Соловьев

МПК: G05F 3/02, H02N 1/00

Метки: высоковольтном, стабилизации, установки, электрической, электроде

...известны.Согласно изобретению, в качестве датчика используется электроннолучевой коммутатор, отклоняющая система которого слУжит для создания компенсирующего поля и осуществления работы датчика в режиме нуль-индикатора,Такое выполнение позволяет повысить точность стабилизации, снизить инерционность стабилизирующего устройства и упростить его конструкцию,На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства В качестве датчика электрического поля, создаваемого высоковольтным электродом 1 установки, используется электронно-лучевой коммутатор 2, работающий в режиме нуль-индикатора, т. е. в режиме, когда отклонение электронного луча, создаваемое измеряемым полем, компен. сируется Е- или Н-полем, создаваемым отклоняющей системой...

Номер патента: 1739395

Опубликовано: 07.06.1992

Авторы: Борисевич, Пекелис, Семенюк

МПК: H01H 9/30

Метки: коммутации, переменного, цепей

...38 и 39 формирователя 5 импульса (фиг.З) соединены соответственно с Явходом и Й-входом триггера 34, выходкоторого соединен с входом элемента 35задержки и прямым входом элемента И 36,Выход элемента 35 задержки соединен синверсным входом элемента И 36, выходкоторого соединен с входом одновибратора37, выход которого является выходом 40формирователя 5 импульса.Используемый в составе блока 9 управления тиристорами диодно-транзисторныйключ 22 реализован в виде транзисторногокаскада по схеме с общим эмиттером, коллектор которого через разделительные диоды соединен с выходами ключа, а эмиттерподключен к источнику отрицательного потенциала. Элемент 35 задержки может бытьреализован в виде электромагнитной линиизадержки.Учить вая...

Номер патента: 1705773

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Головкин, Соловьев, Таджибаев

МПК: G01R 31/02

Метки: генераторного, изоляции, цепей

...действием напряжения 02 второго источника переменного напряжения 8 частотой 12 через низковольтные обмотки измерительного трансформатора напряжения протекает ток 12, величина которого определяется полной проводимостью изоляции нэ частоте б:1 г 02 (О + )2 л 12 С)К (2)Эти токи создают падение напряжения на токовой цепи 17 преобразователя 2 тока в напряжение, которое усиливается масштабным усилителем 18. Таким образом, на выходе преобразователя 2 имеем напряжение частоты 11, пропорциональное току 1, и напряжение частоты 12, пропорциональное току 12. Эти напряжения поступают на входы блоков 9 и 10, вычисления квадрата полной проводимости. При этом селективный фильтр 13 первого блока 9 выделяет соответствующую частоту 11, которая поступает на...

Номер патента: 99753

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Голодолинский

МПК: G01R 13/40, G01R 15/24

Метки: высокого, измерений, производства, цепи, электрических

...схема устройства для измерения тока в цепи высокого напряжения.Пучок света от источника 1, в качестве которого может быть применена ртутная лампа сверхвысокого давления, проходя через поляризатор 2, поляризуется в заданной плоскости. Далее пучок света проходит через ячейку Фарадея, представляющую собой трубку 3 с жидкостью (например, иодистый метилен) или столбик из специального стекла (тяжелый флинт), охватываемые обмоткой 4, по которой протекает исследуемый ток.В ячейке Фарадея пучок света изменяет угол своей поляризации пропорционально мгновенному значению магнитного поля внутри обмотки (эффект Фарадея), создавасмого протекающим по пей исследуемым током, В анализаторе б это изменение угла поляризации превращается в изменение...