Способ стабилизации выходных характеристик вакуумированных диодов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
382172 ОП И Союз Советских Социалистических РеспубликИЗОБРЕТЕ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕ ависимое от авт. свидетельства30419 гг 1 г 45/00 влено 25.1.1971 ( рисоединением заявк оритет митет по дел изобретении и открытипри Совете МинистровСССР 21,362(088. Бюллетеньпубликовано 22,Ч,1 Дата опубликования описания 13.Ч 111.197 Авторыизобретен Б. Копылов С. В, Рябиков, Д, И. Сергеев, И, В, Кази Заявит СОБ СТАБИЛИЗАЦИИ ВЫХОДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ВАКУУМИРОВАННЫХ ДИОДОВ Предмет изобретенг Изобретение относится к области термоэмиссионного преобразования энергии,Для обеспечения стабильности выходных характеристик термоэмиссионного преобр азователя (ТЭП) и увеличения ресурса его рабо= 5 ты необходима достаточная чистота поверхностей электродов после их обезгаживания. В связи с тем, что в реальных ТЭП не представляется возможным повысить температуру анода до величины, при которой происходит 10 распыление его материала, термическая очистка поверхности анода производится недостаточно эффективно. Поэтому стабилизация выходных характеристик ТЭП и увеличение его ресурса связаны со степенью очистки по верхнхэсти анода.,Предлагается способ стабилизации выход,ных характеристик вакуумированного диода (ТЭП), заключающийся в совокупности операций при обезтаживании, включающий тер мическую очистку поверхности катода, электронно-термическую очистку поверхности анода и контроль состояния поверхности анода (ее частоты) по изменению работы выхода Катода после проведения этапа электронно термической очистки анода.Последовательность операций такова: измеряют работу выхода термически очищенной поверхности катода, проводят очередной этап электронно-термической очистки поверхности З 0 анода, по ле чего вновь измеряют работу выхода катода. Наблюдаемая разница значений работы выхода катода позволяет судачить о наличии загрязнений на поверхности анода,. Указанный цикл операций проводят до тех ггор; пока не совпадут величины работ выхода катода, измеренных до и после проведения очередного этапа электронно-термического обезгаживания анода. При этом разница значений работы выхода поверхности катода, очищенной и загрязненной, фиксируется легко, так как имеет место резкое изменение состояния поверхности катода.Предлагаемая совокупность операций позволяет четко определить окончание процесса очистки поверхностей электродов диода, а обработанный таким образом диод имеет стабильные выходные характеристики. Спосоо стабилизации выходных характери стик вакуумированных диодов, например, тер= моэмиссионных преобразователей, путем контролируехоой гмггогоэтапной очистки поверхностей электродов при обезгаживании, от,гичаюигийся тем, что, с целью увеличения ресурса работы диода, проводят термическую очистку поверхности катода, измеряют ее термоэлекКорректор Е. Зимина Редактор Б. Нанкина Заказ 2198/8 Изд1524 Тираж 780 ПодписноеЦНИИГ 1 И Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2 тронную работу выхода, проводят этап электронно-термической очистии поверхности анода, вновь измеряют термоэлекгронную работу выхода поверхности катода, сравнивают значения полученных работ выхода и повторяютцикл до их совпадения.
СмотретьЗаявка
1630419
С. В. биков, Д. И. Сергеев, И. В. Казин, Ю. Б. Копылов
МПК / Метки
МПК: H01J 45/00
Метки: вакуумированных, выходных, диодов, стабилизации, характеристик
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-382172-sposob-stabilizacii-vykhodnykh-kharakteristik-vakuumirovannykh-diodov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ стабилизации выходных характеристик вакуумированных диодов</a>
Транзисторный способ определения работы выхода электронов
Номер патента: 1798737
Опубликовано: 28.02.1993
Автор: Пятыхин
МПК: G01R 29/12
Метки: выхода, работы, транзисторный, электронов
...можно совместить в одном приборе устройство для замера КРП и оптическую систему, позволяющую производить 45 выбор микрообъектов для измерений, как это выполнено в других совмещенных ириборах, микротвердомерах типа ПУТ-З,Техническое обоснование работоспособности предлагаемого способа заключается в следующем, При контакте металла и полупроводника донорного типа базовой области (например, для транзистора типа р-и-р) за счет разности работ выхода происходит ионизация базовой области и, следовательно, изменение тока 1, протекающего через транзистор.Пусть термодинамическая работа выхода металла выше работы выхода полупроводника, Так как уровень Ферми в полупроводнике расположен выше, чем в металле, то поток электронов из полупроводника будет...
Способ определения работы выхода электрона
Номер патента: 1770883
Опубликовано: 23.10.1992
Авторы: Бийсенбаев, Бурсаниди, Дудинов, Кошумбеков, Мукашев, Таурбаев
МПК: G01N 27/62
Метки: выхода, работы, электрона
...от поибилизительного соотношения О.п = С А, где О,п - величина катодного падения потенциала нормального тлеющего разряда: С - константа, характерная для данного газа; А - неизвестная работа выхода электрона. к предлагаемой формуле состоит в том, что в изобретении используется особый вид разряда, инициируемый и поддерживаемый ионной эмиссией с анода, а не электронной эмиссией с катодов, Явление эмиссии ионов с и".верхности анода именуется испусканием ":нодных лучей, В данном случае образование анодных лучей состсит в электропереносе ионов натрия сквозь стекло, При этом катодное падение потенциала, имеющее место при горении разряда между металлическими катодом и анодом, смещается в толщу стекла, формируя линейное распределение...
Способ измерения работы выхода электронов из материалов
Номер патента: 1681209
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Пархоменко, Пенский
МПК: G01N 23/00
Метки: выхода, работы, электронов
...либо поварианту сферического конденсатора, либопо Варианту "цилиндрическое зеркало", регистрируют максимумы пиков упругоотражен;ых электронов от образца и эталона,После этого, зная работу выхода для этало; а, находят работу выхода образца по Форфул е;Боб = Еоб - Еэт + Оэт,ГДЕ Е об - ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЕ ПОЛОЖЕНИЕ МВКСИмума упругоотраженных электронов от исследуемого образца;Еэт - энергетическое положение максимума упругоотраженных электронов от эталонного образца;Иэт - работа выхода электронов эталонного образца;Боб - рабата ВЫХОда ЭЛЕКтрОНОВ ИССЛЕдуемого образца,Облучением исследуемого образца потоком низкоэнергетических электронов добиваются высокой локальности определенияработы выхода, так как пучок электроновможет быть сфокусирован до...
Электронное выходное реле
Номер патента: 177928
Опубликовано: 01.01.1966
Автор: Киевское
МПК: H03K 17/60
Метки: выходное, реле, электронное
...поступлении на вход 7 отрицательного импульса генератор 1 возбуждается и на выходных обмотках трансформаторов 9 и 10 появляются импульсы редх изо тени Электронное136766, содержащее упторы и ключевые схемы,0 что, с целью устранения ле по авт. св. авляющие генераличающееся тем, магнитной связи Известно электро св.136766, в к водниковые триодь стотными импульса торов, Частота эти близка к гранично дов. Указанное ре ального подбора, к щих в одном плече производства устро условиях производ эксплуатации. высокой частоты, которые открывают триоды 3 и 4, Триоды 5 и 6 остаются закрытыми, так как на них с заторможенного генератора 2 не поступают импульсы высокой частоты, К на грузке 11 подключается батарея 12.11 ри изменении полярности...
Способ измерения изменений работы выхода электронов
Номер патента: 316000
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Кочаров
МПК: G01N 27/60
Метки: выхода, изменений, работы, электронов
...физическому возд тродом сравнения которой равна ис выхода. О Способ да электр действий таллическо ными пара5 в контакт ния конта чаю щийся греш ности используюО ненный из Изобретение относится к области физического металловедения, физической химии, электрохимии и другим отраслям, где необходимо измерять изменение работы выхода электронов с поверхности исследуемого материала в нестационарных средах под влиянием различных физических воздействий на этот материал.Известны способы измерения работы выхода электронов, согласно которым измерение контактной разности потенциалов (КРП) осуществляют с помощью электрода сравнения, выполненного из металла с известной работоц выхода, до и после воздействия, и по полученным данным вычисляют...
Предыдущий патент: Геттерно-ионньш насос
Следующий патент: Устройство для автоматической подачи спиралей
Случайный патент: Устройство для измерения уровня осадка в осадительной камере ротора отстойных центрифуг