Способсканирования изделия при вихрхтоковой дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 371502
Текст
371502 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ 1 ЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ идетельстваависимое от а.Ч. Кл. 6 01 п 27/86 Заявлено исое Комитет по делам зобретеиий и открытий при Совете слииистрав СССР1 риорите УДК 620.179.14 (088 Опубликовано 22.11.1973. Бюллетень Ь Дата опубликования описания 12.Ч.19 Автор зобретения С. А. Обручков Всесоюзный научно-исследовательский неразрушающих методов и средств контнститут по разработколя качества материал явител СПОСОБ,СКАНИРОВАНИЯ ИЗДЕЛИЯ ПРИ ВИХРеТОКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП олируемым ующем обс генератора с генератора выходами, пибуждения отосылками выго поля, Фария и фазовый соотношением элементов 4,Предмет изобре и при вихретощийся в том, сполагают в ой зоне элекиндукторов, фазе синусоийся тем, что, контролируенадежности сокочастотны- модулироИзобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и может быль использовано для контроля листов, полос, труб,.штанг и т, д.Известен способ сканирования изделия при вихретоковой дефектоскопии, заключающийся в том, что контролируемое изделие располагают в зоне контроля и возбуждают в этой зоне электромагнитное поле посредством индукторов, которые питают сдвинутыми по фазе 10 синусоидальными сигналами. Однако указанный способ может быть использован лишь для контроля изделий из магнитных материалов, на поверхности которых образуются поля рассеивания от дефектных участков, Кроме того, 15 этот способ не дает необходимой надежности контроля. Цель изобретения - расширение диапазона контролируемых материалов и повышение надежности контроля, Для этого индукторы питают высокочастотными синусо идальными сигналами, модулированными низкой частотой.На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство содержит генератор 1 высокой 25 частоты, многофазный генератор 2 низкой частоты, подключенные к модуляционному устройству 3, к выходу которого подключены элементы 4, 5 и б нагрузки (например, индуктнвноста), расположенные,над коизделием 7.Устройство функционирует слразом.Напряжение высокой частоты1 и напряжение низкой частоты2 подаются на устройство 3 стающими элементы 4, 5 и б воздельных участков изделия 7, псокочастотного электромагнитнома огибающей, частота следовансдвиг последних определяютсяпараметров токов возбуждения5 и б,Способ сканирования изделия ковой дефектоскопии, заключаю что контролируемое изделие р зоне контроля и возбуждают в э тромагнитное поле посредством которые питают сдвинутыми по идальными сигналами, отличающ с целью расширения диапазона мых материалов и повышения контроля, индукторы питают вы ми оинусоидальными сигналами ванными низкой частотой.37502 Составитель А. Духа 1 ин Техред Л. Богданова Корректор Л, Вадылама Редактор Н, Воликова Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 330117 Изд. Ма 1212 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прй Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5
СмотретьЗаявка
1667922
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: вихрхтоковой, дефектоскопии, изделия, способсканирования
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-371502-sposobskanirovaniya-izdeliya-pri-vikhrkhtokovojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способсканирования изделия при вихрхтоковой дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Импульсное индукционное устройство
Следующий патент: Вспсоюзнаяпдтгтмлгуг-г: ffgмп i hll 1 iluf 1 „л111, 1, fi; v; i
Случайный патент: Устройство для поверки и градуировки преобразователей расхода