Ьиблио_а

Республик Зависимо т авт. свидетельства М аявлено 25,Ч 3.1971 ( 1674056/251. Кл. Ст 102 ением заявкис присое иоритет митет по лел обретений и открытий Опубликовано 22.11.1973. Бюллетень1 Дата опубликования описания 5,ЧП.1973 К 88.8) при Совете Министров СССРАвторизобретения А, Данилов Заявител еверо-западный заочный политехнический инстит Й ."т 1 И КРОМЕТ Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для применения в оптических измерительных устройствах, геодезических приборах, измерительных микроскопах, в отсчетных системах станков. Кроме того, оно может быть использовано для контроля перемещений, деформаций и т. д, с высокой точностью размеров.Известен оптический микрометр, содержащий отсчетное устройство и оптический элемент в виде призмы или углового зеркала, обеспечивающих заданный масштаб работы микрометра. Оптический элемент перемещается по прямолинейной направляющей в сходящемся ходе лучей, благодаря чему происходит смещение проходящих через него световых лучей, С помощью отсчетного устройства определяется величина этого смещения.Недостатком известного микрометра является то, что при перемещении оптического элемента по направляющей, кроме смещения лучей в измерительном направлении происходят другие нежелательные смещения и отклонения лучей, влияющие на точность проводимых измерений. Эти смещения обусловлены погрешностями изготовления направляющих, вызывающих повороты оптического элемента микрометра вокруг произвольных осей.Цель изобретения - повышение точности работы микрометра за счет исключения влияния поворотов его оптического элемента.Предлагаемый микрометр отличается от известного тем, что в качестве оптического элемента использована разносторонняя усечен ная пирамида, боковые отражающие граникоторой обращены внутрь пирамиды, а угол при вершине обеспечивает заданный масштаб работы микрометра.Световые лучи, проходя внутри пирамиды, О отражаются последовательно от всех ее граней. Как известно из геометрической оптики, поворот такой пирамиды (триэдра) вокруг произвольной оси не влияет на направление н положение отражающихся от его граней лу чей. Таким образом, исполнение оптическогоэлемента микрометра в виде триэдра исключает влияние технологических погрешностей направляющих, по которым он перемещается.На фиг. 1 изображена конструкция оптиче- О ского элемента микрометра и ход лучей через него; на фиг. 2 - визуальный прибор, в котором применяется описанный микрометр.Оптический элемент 1 предлагаемого микрометра состоит из трех одинаковых зеркал 5 с наружным отражающим покрытием. Присоединении этих зеркал друг с другом получается равносторонняя усеченная пирамида с углом при вершине, обеспечивающим заданный масштаб работы микрометра, Для упро- О щения технологии изготовления оптическогоаказ 1788,5 Изд.1263 ИИИПИ Комитета по делам изобретений и отк Москва, Ж, РаушскаяТираж 755 Подписноетий при Совете Министров СССРб д., 4/5 ография, пр. Сапунова, 2 3элемента можно его выполнить в виде стеклянной равносторонней пирамиды с зеркальным покрытием на гранях,Но в этом случае точность работы микрометра понизится за счет аберраций.Визуальный прибор, в котором применяется описанный оптический микрометр, состоит из объектива 2, перед которым находится основная отсчетная шкала 3, оптического элемента 1 (усеченной равносторонней пирамиды), смещающего лучи, сетки 4 и окуляра 5,Световые лучи, проходящие сквозь оптический элемент, отражаются последовательно от всех его граней (см, фиг. 1), отклоняясь при этом от первоначального своего направления на угол, равный удвоенному углу при вершине пирамиды.При перемещении оптического элемента вдоль направления падающего луча АБ, идущего от основной шкалы 3, штрихи этой шкалы смещаются в плоскости сетки 4 на величину, обусловленную масштабом работы микрометра. Это смещение наблюдается и отсчитывается в окуляр 5.5 Погрешности изготовления направляющейне сказываются на точность отсчета. Предмет изобретенияОптический микрометр, содержащий смеща ющий луч оптический элемент, установленныйна прямолинейной направляющей в сходящемся ходе лучей, и отсчетное устройство для измерения величины его смещения, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью повышения точности 15 работы микрометра, в качестве оптическогоэлемента использована равносторонняя усеченная пирамида, боковые отражающие грани которой обращены внутрь пирамиды, а угол при вершине обеспечивает заданный мас штаб работы микрометра.