Способ определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок

lО П-И С А Н И Е 363057 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских СоциалистическикРеспублик Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 28.И,1971 ( 1674735/18-10)с присоединением заявкиПриоритет М. Кл. б 01 г 3312 Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете йтииистроэ СССРУДК 621.317,42(088,8) Опубликовано 2 О,Х 11,1972, Бюллетень Ь 0 3за 1973 Дата опубликования описания 6.11.1973 Авторыизобретения Ю. П. Егоров, Е. А. Подпалый и В, А. Фабриков Заявитель СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭРЦИТИВНОй СИЛЫ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОКИзобретение относится к магнитным измерениям.Известны способы определения коэрц,тивпой силы тонких магнитных пленок, основанные на регистрации момента перехода через нуль величины намагниченности пленки с помощью торсионного магнитометра или подобных ему измерительных приборов.Цель изобретения - повышение точности определения коэрцитивной силы тонкой магнитной пленки.Для этого по предлагаемому способу на поверхность тонкой магнитной пленки с нолосовой доменной структурой наносят магнитный коллоид с герметизирующим прозрачным покрытием, например покровным стеклом от микроскопа, намагничивают пленку постоянным магнитным полем до насыщения, полосовые домены выстраиваются вдоль направления магнитного поля, т, е. в этом направлении автоматически наводится ось легкого намагничивания пленки (вращательная анизотропия). После уменьшения магнитного поля до нуля частички магнитногО коллоида сосредотачиваются вдоль границ полосовых доменов, образуя на поверхности магнитной пленки отражательную дифракционную решетку. При освещении пленки с такой дифракционной решеткой направленным светом, например моно- хроматическим светом лазера, регистрируют угол дифракции отраженного луча в направлении наиболее яркого первого максимума, например, фотоэлементом, который может передвигаться по дуге вокруг пленки, Этот угол 5 дифракции тр, однозначно связан с ширинойполосовых доменов д по формулет). = д (з 1 п , + 81 п р,),где т - порядок дифракционного луча;10 Л - длина волны света; тго - угол падения света. При плавном увеличении постоянного магнитного поля в направлении, точно противопо ложном средней намагниченности пленки, т. е,точно вдоль оси легкого намагничивания, при значении магнитного поля точно равном коэрцитивной силе пленки, происходит резкое скачкообразное изменение средней намагниченно сти пленки на противоположное, являющеесяхарактерной особенностью петли гистерезиса магнитной пленки с полосовой доменной структурой. Резкое изменение средней намагниченности пленки приводит к тому, что ширина по лосовых доменов скачком увеличивается отширины квазиравповесного состояния, соответствующей значению магнитного поля перед перемагнпчиванием пленки (на петле гистерезиса ширины полосовых доменов), до ширины 30 равновесного состояния, возникающей при пе363057 Предмет изобретения Составитель Л. Строганов Текред Т. Миронова Корректоры Н Аук и А, Дзесова Редактор Т, Иванова Заказ 182/8 Изд. ЛЪ 67 Тираж 404 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делана изобретений и открьпий при Совете Министров СССРМосква, гК.35, Раунскан наб:, д. 4/5 Типографии, пр. Сапунова, 2 ремагничивании пленки. Момент скачка ширины полосовых доменов регистрируется по резкому изменению угла дифракции и точно соответствует коэрцитивной силе тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, определяемой по величине приложенного магнитного поля. Точность определения коэрцитивной силы магнитных пленок с полосовой доменной структурой в этом случае ограничивается только точностью определения величины магнитного поля. Способ определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок с полосовой доменной структурой, основанный на регистрации момента перехода намагниченности магнитной пленки через нуль, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения коэрцитивной силы тонкой магнитной пленки, 5 на ее поверхность наносят магнитный коллоидс герметизирующим прозрачным покрытием, намагничивают пленку до насыщения, плавно уменьшают намагничивающее поле до нуля, освещают пленку монохроматическим направ ленным пучком света и регистрируют уголдифракции отраженного луча в первом максимуме, после чего изменяют направление магнитного поля на противоположное и плавно увеличивают напряженность этого поля до мо мента резкого изменения угла дифракции, причем коэрцитивную силу пленки определяют по величине поля в момент изменения угла дифракции.