Способ определения количества фотометрируемоговещества
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 357845
Авторы: Хруст, Якобашвили
Текст
357845 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Совз Советсьй Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ависимое от авт. свидетельствааявлено 04,1 Х.1969 ( 1359657/26-25)присоединением заявкириоритетпубликовано 26.Х,1973, Бюллетень01 п 15/00 Государственный номит Совета Министров ССС по делам изобретенийи открытий УДК 576.8,095.32Дата опубликования описания 27,111,197 вторызобрете Р. Хруст и М, М. Якобашвили осковский государственный университет им, М. В. Ломоносо Заявит ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВА ФОТОМЕТРИРУЕМОГО ВЕЩЕСТВАНа чертеже графически показаны световые характеристики ЭОПа в зависимости от освещенности, поясняющие предлагаемый способ.Осуществляется способ определения количества фотометрируемого вещества следующим образом.Согласно закону Бугера - Ламберта - Беера общее количество фотометрируемого вещества в объекте пропорционально интегралу по площади объекта от логарифма отношения освещенностей до и после поглощения: Р 1: 1 д 5 где М о вещеуем скорение процесса изтометрируемого вещеобретения оличества Ео Е 20 ощен чных ле пр ие, ос- выде- светоющего тикой, т объочках по хождения 1 дЕо - постоянная, величина. ия 1 дЕ в интервале от 1 до т световой характеристики ую постоянную величину Во.1 яЕ = Еэоп(Е) ( Во,так какФункц чается о некотор каженийко- объЕо отлиОПа на Изобретение относится к области исследования гетерогенных структур и может быть использовано, например, в биологии для определения количества фотометрируемого вещества в биологических клетках, внутриклеточных структурах и т. д.Известны способы определения фотометрируемого вещества посредством сканирования малым зондом по площади объекта, многоволновой и точечный,Однако эти способы длительны и трудоемки и требуют достаточно большого времени, а также сложной математической обработки результатов. Цель из - Умерения к фоства.Цель достигается тем,вещенное монохроматичеленное диафрагмой объекприемную поверхностьлогарифмической световпосле чего измеряют свеекта и фона, прологаридой точке, и по разностиопределяют величину, прличеству фотометрируемоекте,что изображе ским светом и та, подают на ЭОПа, облада ой хар актер и товой поток о ф мирова нный полученных зн опорциональн го вещества количество фотометриства,лощадь объекта,освещенность до поглсвещенность в разлиплощади объекта поссвета;1 К е =1 КЕ АЕРедактор И, Орлова Корректор Е, Миронова Заказ 623/3 Изд. Мз 155 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 где Езоп(Е) - функция освещенности в различных точках изображения на выходном окне ЭОПа.Для перехода к световой характеристике ФЭУ используют пропорциональность между Еаоп(Е) и током 1(Е) на нагрузке ФЭУ, Функции Еп(Е) и 1 дЕ делят на коэффициент пропорциональности К и получают тогдаЛ =(1 д Е - А,) йз:1(Е) дЕ - (А + В) з,Для получения величины, пропорциональной количеству фотометрируемого вещества, изображение объектива, окруженное диафрагмой, проецируют на светоприемную поверхность ЭОПа и измеряют ток на нагрузочном сопротивлении ФЭУ. Таким же образом измеряют ток при проецировании посредством той же диафрагмы на светоприемную поверхность фона, на котором находился объект, что соответствует величине (А+В) 5. Разность этих двух отсчетов есть величина, пропорциональная количеству фотометрируемого вещества в объекте. 5 Предмет изобретения Способ определения количества фотометрируемото вещества в гетерогенных структурах с использованием микроскопа и ФЭУ, отлича юиийся тем, что, с целью ускорения процессаизмерения, изображение объекта, окруженное диафрагмой, освещают монохроматическим светом, подают на светоприемную поверхность ЭОПа, обладающего логарифмической свето вой характеристикой, измеряют световой поток от объекта и фона, прологарифмированный в каждой точке в соответствии со световой характеристикой прибора, и по разности полученных значений определяют величину, 20 пропорциональную количеству фотометрируемого вещества в объекте.
СмотретьЗаявка
1359657
Ю. Р. Хруст, М. М. Якобашвили Московский государственный университетМ. В. Ломоносова
МПК / Метки
МПК: G01N 21/00
Метки: количества, фотометрируемоговещества
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-357845-sposob-opredeleniya-kolichestva-fotometriruemogoveshhestva.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения количества фотометрируемоговещества</a>
Устройство яркостного регистрирования световых диаграмм рассеяния от объекта
Номер патента: 360675
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Автоматики, Мировицкий, Самсонов, Шанин, Электроники
МПК: G06K 9/58
Метки: диаграмм, объекта, рассеяния, регистрирования, световых, яркостного
...диафрагмы 5, водного оптического устройства б, цилиндрической рассеивающей линзы 7, нейтральных ослабиГО РЕГИСТРИРОВАИИ АССЕЯНИЯ ОТ ОБЪЕКТ телей 8, собирающих цилиндрических линз 9 и регистратора 10.Устройсвво работает следующим образом, Луч ОКГ 1 проходит через коллиматор 8, в функцию которого входит создание плоской волны требуемых размеров. Пространственный фильтр-диафрагма 2 фнльтрует излучение. Плоская волна падает на объект 4. Ддя получения;круговых диаграмм рассеяния объект 4 вращается с определенной,скоростью. Рассеянное оюъектом излучение попадает через щелевую диафрагму 5, предназна. чепурную для изменения угла усреднения диаграммы рассеяния, на входное оптическое устройсвво б. Поеле входного оптимического устройства...
Устройство для измерения взаимного углового положения объектов
Номер патента: 712658
Опубликовано: 30.01.1980
МПК: G01B 11/26
Метки: взаимного, объектов, положения, углового
...с различным заклоном к плоскости сканирования.Устройство работает следующим образом.Свет от осветителя 5 через призму 6 и объектив автоколл им атора направляется на отражатели 12, 13. В обратном ходе световой пучок от отражателя 12 вновь придет в центральное отверстие 7, а пучок от отражателя 13 придет в некоторую точку, расположенную в стороне центрального отверстия 7. При вращении автоколлиматора пучки от отражателя 12 пробегают по траектории 0,0 пересекая приемную щель 8 на расстоянии г от центрального отверстия , т. е. точки этого пересечения расположатся на712658 а,фин Тираж 8 НПО Поиск Заказ 2777/8 Изд.1 одписное Типография, пр. Сапунова,окружности радиуса г, где г - расстояниеот центрального отверстия 7 до приемнойщели...
Устройство для измерения величины и скорости перемещения объекта
Номер патента: 976291
Опубликовано: 23.11.1982
Авторы: Азаренков, Огольцов, Поляков
МПК: G01B 11/00
Метки: величины, объекта, перемещения, скорости
...ветви интерферометра приводят к перемещению зоны облучения на поверхности объекта 1 О,которая является диффузно рассеивающей, имеет место модуляции рассеянного объектом 10 излучения по интенсивности. Это приводит к модуляции, помехой амплитуды электрического сигнала на выходе полосового Фильтра 15,Глубина этой модуляции определяетсявеличиной отклонения оптической осиизмерительного луча от среднего пофРЕи(ЕЛ Где(+и 7 97 те действия дефпектора 8, и другими мешающими Факторами,;.На модулятор Ь подается напряжение от блока 20 формирования модулирующих сигналов. В соответствии с известным принципом синтеза в лазерном интерферометре фаэомодулированной (ФМ) поднесущей путем двухчастотной модуляции разности Фаз интерфеоирующих лучей блок...
Способ измерения направленных скоростей компонентов плазменного объекта
Номер патента: 1396061
Опубликовано: 15.05.1988
Автор: Деревщиков
МПК: G01P 3/38
Метки: компонентов, направленных, объекта, плазменного, скоростей
...спектральных компонент излучения . одного из выделенных потоков по линейному закону относительно центральной частоты выделенного спектрального диапазона, а по разности яркостей двух изображений объекта, полученных одновременно в каждом канале, судят о профиле скоростей. Изобретение относится к способамдиагностики плазмы и может быть использовано для определения профилянаправленных скоростей компонентовпри исследовании плазменных ускорите 5лей, истечения плазмы в вакуум,взаимодействия лазерного излученияс веществом и т,п.Цель изобретения - измерение профиля скоростей компонентов плазменного объекта.На чертеже показана принципиаль"ная оптическая схема устройства, реа лизующего способ измерения,Способ осуществляют...
Устройство для измерения расстояний до объекта
Номер патента: 1779918
Опубликовано: 07.12.1992
Автор: Лиманова
МПК: G01B 21/00
Метки: объекта, расстояний
...а также изменения этих величин в процессе измерения в результате воздействия дестабилизирующих факторов. Это позволяет сделать вывод о соответствии технического решения критерию "существенные отличия".На чертеже представлена структурная схема устройства для измерения расстояний до объекта,Устройство для измерения расстояний до объекта содержит источник 1 светового излучения, излучающий световод 2, светоотражающую поверхность 3 объекта, расстояниедо которого измеряется, первый, второй, третий и четвертый приемные световоды 4, 5, 6 и 7 соответственно, торцы которых параллельны светоотражающейповерхности 3. Торцы световодов 5, 6 и 7 смещены откосительно торцов излучающего и первого приемного световодов 2 и 4 на фиксированные расстояния,...
Предыдущий патент: Устройство для осевого фиксирования колес конической зубчатой передачи
Следующий патент: Цифровой измеритель временных параметров
Случайный патент: Способ защиты объектов от радиоизлучений