Номер патента: 347563

Автор: Хейфец

ZIP архив

Текст

Сооз Соввтскнх Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваМ. Кл. 6 01 Ь 11/02 Заявлено 07.1 Ч.1970 ( 1424265/25-28)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 10.Ч 111,1972. Бюллетень24Дата опубликования описания 24.Ч 111,1972 Комитвт по долам нзабрвтвний н открытий при Совете Министров СССРУДК 531.715.27(088.8) Авторизобретения Е. М. Хейфец Заявитель Рижский Краснознаменный институт инженеров гражданской авиацииим. Ленинского комсомола УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЛИНЕЙНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ ОБЪЕКТА Изобретение относится к контрольно-изме.рительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения малых механических перемещений бесконтактньв способом.Известно устройство для линейных измерений объекта, содержащее монохроматическийисточник света, регистрирующий узел и призму, располокенную в ходе световых лучеймежду источником света и регистрирующимузлом.Цель изобретения - измерить малые перемещения объекта, имеющие величину порядкадолей длины волны света.Это достигается тем, что плоскость призмы,у которой происходит явление полного внутреннего отражения, располагается вблизи поверхности перемещающегося объекта так, чтообъект находится в зоне затухающей световойволны,На чертеже изображена принципиальнаясхема устройства. Оно содержит монохроматический источник света 1, создающий световой луч 2, призму 3, помещенную вблизи поверхности объекта 4, смещение которой измеряется, и регистрирующий узел-фотоэлемент 5.Угол падения светового луча на внутреннюю поверхность призмы выбран так, чтобынаблюдать явление полного внутреннего отражения, При полном внутреннем отражении света имеет место проникновение электромагнитной энергии в менее плотную среду за поверхность раздела, поэтому в зазоре между призмой 3 и поверхостью объекта 4 находит ся затухающая световая волна.Предлагаемое устройство работает следующим образом. Если на пути затухающей волны оказывается поверхность 4 объекта, смещение которого определяется, то волна взаимо действует с этой поверхностью. В результатеизменяется интенсивность отраженной волны, госпрпнпмаемой фотоэлементом 5. Степень изменения интенсивности отраженного светового потока зависит от расстояния между 15 призмой 3 и поверхностью объекта 4, поэтомувеличина электрического сигнала на выходе фотоэлемента 5 будет определяться этим расстоянием.Таким образом, по измененпо элсктрическо.20 го сигнала можно судить о величине механического смещения поверхности объекта 4.Устройство позволяет измерять перемещения, имеющие величину порядка долей длины волны. Для видимого света порядка 10 б сз, 25 для инфракрасного излучения порядка10 - 4 с,и.Для увеличения чувствительности устройства геометрию призмы можно выбрать такой, цтобы в ней происходило хпогократное полное ЗО внутреннее отражение.347563 Предмет изобретения Составитель Л. Лобзова Текред Т. Курилко Корректор Е. Миронова Редактор Л. Народная Заказ 2591/3 Изд.140 Тираж 406 Подписное ЦНИИПИ Клшгетз по делам изобретений и открытий при Совете Минис Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунов Устройство для линейных измерений объекта, содержащее монохроматический источник света, регистрирующий узел и призму, расположенную в ходе световых лучей между источником света и регистрирующим узлом, отлаиаюгг 4 ееся тем, что, с целью измерения малых перемещений объекта, имеющих величину порядка долей длины волны света, плоскость призмы, у которой происходит явление полного внутреннего отражения, располагается вблизи поверхности перемещающегося объекта так, что объект находится в зоне затухающей световой волны.

Смотреть

Заявка

1424265

Рижский Краснознаменный институт инженеров гражданской авиации, Ленинского комсомола

Е. М. Хейфец

МПК / Метки

МПК: G01B 11/00

Метки: 347563

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-347563-347563.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">347563</a>

Похожие патенты