Способ оценки качества линзо-растровых материалов

ZIP архив

Текст

346703 Союз Советскиз Социалистическиз РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваМ. Кл. б 03 Ь 21,60 Заявлено 08.Х.1970 ( 1602919/18-10 1 заявкис присоединени ПриоритетОпубликовано Комитет по делам изобретений и открыти лрн Совете Министров СССР,М.1972. Бюллетень23 а опубликования описания 24,И 11.1972 Авторы зобретения Г. С луховский, Г. В, Авилов, Н. А, Валюс, В, И, Успенский Ю. С. Андреев и С, С. Субботин Всесою ый государственный научно-исследовательский и проектныйинститут химико-фотографической промышленности явите ПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ЛИНЗО-РАСТРОВЪХ МАТЕРИАЛОВизображение контрольного тест-об этому изображению оценивают ка го линзо-растрового коллектива в его участка. Критерием качества растра может быть выбрана, нап стотно-контрастная характеристик определяет степень уменьшения гл дуляции распределения яркостей жении объекта, полученного за растром, по сравнению с глубиной в объекте в зависимости от простр частоты. Известные способы растровых материалов нии геометрических и отдельных линз и на шающей способности любой другой) мере, стоянства этих параме растра. оценки качества ли основаны на изм оптических парамет определении их ра по радиальной а также на оценке тров по всей площнзоере ров зре- или Сущность предлагаемого способа заключается в следующем. Тест-объект, представляющий, например, набор линий постепенно меняющейся частоты, проектируют на испытываемый образец линзового растра. В область расположения фокальной плоскости растра вводят зеркальную поверхность. Если выделить с помощью светоделителя восстанавливающие лучи, то на расположенном в соответствующем месте экране строится интегральное изображение тест-объекта, сложенного из изображений, полученных проектированием от каждой отдельной линзы. Посредством сканирования полученного интегрального изображения фотометрирующим устройством получают глубину модуляции восстановленного интегрального изображеИзобретение относится к фотографии и кинематографии, и предназначено для оценки качества линзо-растррвых материалов, применяемых при стереоскопической кино- и фотосъемке, в телевидении, голографии и при других специальных видах записи, передачи и воспроизведении информации,Недостатком известных способов является то, что они требуют измерения тех или иных параметров, характеризующих качество каж дой линзы в отдельности, Для оценки всего линзо-растрового коллектива необходимо проведение громоздкой статистической обработки результатов очень большого числа измерений. 25Для получения характеристики всего растра или отдельного его участка предлагается способ, по которому с помощью зеркальной поверхности, введенной в фокальную плоскость линзового растра, строят интегральное 30 ъекта и почество всецелом или линзового ример, чаа, которая убины мов изобралинзовым модуляции анственной346703 Составитель В. Соломатов Техред Т Ускова Редактор С. Хейфиц Корректор Е, Исакова Заказ 2539/8 Изд. М 1080 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 ния по каждой частоте М, и, зная глубину модуляции используемого теста М вычисляют частотно-контрастную характеристику Т, как Эта характеристика, полученная по каждой из используемых частот, является параметром, характеризующим качество всего линзо-растрового коллектива или его участка. Предмет изобретения Способ оценки качества линзо-растровыхматериалов, заключающийся в определении параметров отдельных линз и оценке постоянства этих параметров по всей площади растра, отличающийся тем, что, с целью получения характеристики всего растра или от дельного его участка, перед исследуемымрастром устанавливают тест-объект в виде растровой решетки с различной частотой элементов, в фокальную плоскость растра вводят плоское зеркало, передающее на экран 10 сформированное растром интегральное изображение тест-объекта, фотометрируют его, и по глубине модуляции на каждой частоте вычисляют, например, частотно-контрастную характеристику.15

Смотреть

Заявка

1602919

Всесоюзный государственный научно исследовательский проектный, институт химико фотографической промышленности

Г. С. Глуховский, Г. В. Авилов, Н. А. Валюс, В. И. Успенский, Ю. С. Андреев, С. С. Субботин

МПК / Метки

МПК: G03B 21/60

Метки: качества, линзо-растровых, оценки

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-346703-sposob-ocenki-kachestva-linzo-rastrovykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ оценки качества линзо-растровых материалов</a>

Похожие патенты