ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОЬЕЕТ ЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваМ. Кл. 6 ОЗЬ 21(60 Заявлено 08.Х 1.1970 ( 1602918/18-10) с присоединением заявкиХомитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРПриоритетОпубликовано 28,711.1972. Бюллетень23Дата опубликования описания 4.И 11.1972 УДК 777.32(088,8) Авторыизобретения Г, С, Глуховский, Г. В, Авилов, Н. А. Валюс, В, И. Успенский; Ю. С, Андреев и С, С, Субботин Всесоюзный государственный научно-исследовательский и проектный институт химико-фотографической промышленностиЗаявитель УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ЛИНЗО-РАСТРОВЫХ МАТЕРИАЛОВИзобретение относится к области фотографии и кинематографии и предназначено для определения качества линзо-растровых материалов, применяемых при стереоскопической кино- и фотосъемке в телевидении, голографии и при других специальных видах записи и воспроизведении информации,Известные устройства для оценки качества линзо-растровых материалов не позволяют получать количественную характеристику (оценку) контраста растрового изображения для отдельных участков растра.Для повышения точности и объективности оценки в предлагаемом устройстве в фокальную плоскость растра устанавливают зеркальную поверхность и с помощью светоделителя (например, полупрозрачного зеркала) на экране строят интегральное изображение контрольного тест-объекта, которое фотометрируют подвижным анализирующим устройством,На чертеже показана принципиальная схема описываемого устройства, состоящего из осветителя 1 с отражателем и кадрирующей рамкой 2. В непосредственной близости от кадрирующей рамки передвигается тест-объект 8, представляющий, например, набор решеток различной частоты. По ходу лучей от осветителя под углом 45 расположено полупрозрачное зеркало 4. Предметный столик 5 служит для крепления испытываемого образца линзового растра б. Столик 7 фокусировки с зеркальной поверхностью 8, параллельной плоскости испытываемого образца, пере двигается перпендикулярно этой плоскости спомощью микрометренного устройства 9. На расстоянии, равном расстоянию от центра полупрозрачного зеркала 4 до тест-объекта 3, установлен экран 10 со сканирующей 10 щелью 11 и фоторегистрирующим блоком, например фотоэлектронным умцожителем 12, Экран располагают в плоскости, параллельной плоскости восстановленного изображения тест-объекта, а сканирующую щель - парал лельно линиям решеток тест-объекта. Такимобразом, каждая линза всего линзо-растрового коллектива рисует изображение освещецной части тест-объекта, прошедшего через полупрозрачное зеркало, ца отражающей по верхности фокусирующего зеркала, Отразившись, каждое такое изображение проходит через ту же самую линзу, играющую в этом случае роль проекционного объектива. Свето- делитель отражает обратные лучи, и на экра не строится интегральное изображение тогоже самого тест-объекта, сложенного из отдельных изображений, прошедших через каждую линзу всего линзо-растрового коллектива. Передвижение сканирующей щели с фо- ЗО тоэлектронным умножителем позволяет фото346702 Предмет изобретения Составитель В. Соломатоведактор С. Хейфиц Техред Е, Борисова Корректор О, Тюрина Зак. 2421/12 Изд.1029 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ипография, пр, Сапунов метрировать каждый элемент интегрального изображения тест-объекта.Устройство работает следующим образом.Закрепляют на предметном столике испытываемый линзо-растровый образец и устанавливают требуемый тест-объект, подводя г с помощью микрометренного устройства зеркальную поверхность до тех пор, пока она не займет положение средней фокальной плоскости линзо-растрового образца. Правильное положение зеркальной поверхности устанавливают или визуально по максимальной резкости интегрального изображения на экране 10, или по измерениям контраста изображения штрихов, добиваясь максимального его значения. Среднее значение фокусного расстояния линзового растра определяют как разность микрометренных отсчетов положения зеркальной поверхности, когда она касается поверхности линз растра, и положения, когда эта поверхность наъодится в средней фокальной плоскости. Качество всего линзорастрового образца определяют по степени уменьшения глубины модуляции в изображении тест-объекта по сравнению с глубиной 5 модуляции самого тест-объекта. Устройство для оценки качества линзо растровых материалов, содержащее осветитель, держатель с тест-объектом, исследуемый растр, за которым параллельно плоскости растра установлено зеркало, и осветитель, отличающееся тем, что, с целью повышения 15 точности и объективности оценки, в нем вплоскости интегрального изображения контрольного тест-объекта установлен щелевой анализатор, за которым расположен фотоэлектронный умножитель, а зеркало выпол нено подвижным в направлении, перпендикулярном плоскости растра.

Смотреть

Заявка

1602918

МПК / Метки

МПК: G03B 21/60

Метки: 346702

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-346702-346702.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">346702</a>

Похожие патенты