Способ определения величины и направления относительного смещения контуров отверстий

Номер патента: 330330

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБ Р ЕТ ЕНИ% 330330 Союз Советских Социалистических Республикк. Автои:кому- свидетельству Зависимое от ав свидетельств М. Кл. 6 01 Ь. 5/24В 214 37/0 ОСт 01 Ь 3,/30 Заявлено 20.Ч 1.1970 ( 1470009/25-2 аявкис присоединениевПриоритет Комитет по деламоретеиий и. открытийи Совете,Мииистрев.СССР Опубликовано 0 Дата опубликов Ч 11,1972, Бюллетень8ния описания 12.1 Х.1972 УДК 681 2 082/, Чиичус и А. С. Ряутас Специальное конструкторское бюро вычислитель маш вите СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ И НАПРАВЛЕНИЯОТНОСИТЕЛЬНОГО СМЕЩЕНИЯ КОНТУРОВ ОТВЕРСТИИВ ДВУХ ПЛ ИТАХ 2 верхности отверстия, а торец скользил по и, окружающей отпосле чего определяверстий в обеих пликах по формуле лись тех же участков по что и первая пластина, вертикальной поверхност верстие во второй плите,5 ют величину смещения от тах на измеряемых участ К+1),2/ ду участками измерятверстий двух плит; литы;ду плитами в момент О г расстояние межемых контуроввысота первойрасстояние межзамера;разность междной) отверстияриной первого сразность междной) отверстияриной второго с у диаметром (шири- первой плиты и шитержня;у диаметром (ширипервон плиты и шитержня. ями 3 и 4 расположе осуществления конт вводят стержень 5 1 и 2 с отверсти над другой. Для отверстия 3 и 4 тержень 6. Плит ны одн роля в а затес едмет изобретеци Изобретение относится к средствам контроля взаимного расположения отверстий двух плит, в частности пуансонодержателя и матрицы разделительного штампа.Известные способы контроля взаимного расположения отверстий двух плит осуществляются с помощью комплекта стержней, установленных в отверстия. Этот способ влечет за собой необходимость изготовления специальной дорогостоящей оснастки.По предлагаемому способу в качестве оснастки применяются стержни, выполненные в форме плоскопараллельцых пластин различной ширины;Способ иллюстрируется чертежом.Для проведения контроля измеряемые плиты располагают на некотором расстоянии одна от другой.В отверстие одной из плит вводят одну из пластин и располагают таким образом, чтобы ее противоположные плоскости касались противолежащих участков поверхности, окружающей отверстие по линиям ее пересечения с противоположными плоскостями плиты, а торец пластины упирался в кромку поверхности, ограничивающей отверстие в другой плите. Пластину удаляют и затем в это же отверстие первой плиты вводят пластину большей ширины; устанавливают ее таким образом, чтобы противоположные боковые плоскости касаСпособ определения величины н направления относительцого смещения контуров отвер330330 Аж 6 А,Составитель В. Нестеровдактор К, ШаиауроваТекред Е. Борисова Корректор Л. Царьков Заказ 2584,5 Изд1095 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушскаи нзб., д, 4 5 ипографил, пр. Сапунов стий в двух плитах, расположенных последовательно с помощью комплекта стержней, устанавливаемых в отверстия, отличающийся тем, что, с целью унификации и удешевления контрольных средств, стержни выполняют в виде плоскопараллельных пластин различной ширины, плиты располагают на некотором расстоянии одну от другой, в отверстие одной из плит вводят одну из пластин и располагают ее таким образом, чтобы ее противоположные плоскости касались противолежащих участков поверхности, окружающейотверстие по линиям ее пересечения с противоположными плоскостями плиты, а торец пластины упирается в кромку поверхности, ограничивающей отверстие в другой плите, пластину удаляют, и затем в это же отверстие первой плиты вводят пластину большей ширины, устанавливают ее таким образом, чтобы противополемиые боковые плоскости касались техфЪц.ФФм ОВФ в1 Фе файвпфффмеМЮЕФ же участков поверхности отверстия, что и первая пластина, а торец скользил по вертикальной поверхности, окружающей отверстие во второй плите, после чего определяют величи ну смещения отверстий в обеих плитах на измеряемых участках по формуле7= -д+д 1+1),2 й 10 где Л - расстояние между участками измеряемых контуров отверстий двух плит;Ь - высота первой плиты;1 - расстояние между плитами в моментзамера;15 Ж - разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и шириной первого стержня;Ж+1 - разность между диаметром (шириной) отверстия первой плиты и ши риной второго стержня.

Смотреть

Заявка

1470009

МПК / Метки

МПК: B21D 37/00, G01B 3/30, G01B 5/252

Метки: величины, контуров, направления, отверстий, относительного, смещения

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-330330-sposob-opredeleniya-velichiny-i-napravleniya-otnositelnogo-smeshheniya-konturov-otverstijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения величины и направления относительного смещения контуров отверстий</a>

Похожие патенты