Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектрикови металла
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 326535
Автор: Фурман
Текст
"тл. .ь,с - -.;ст г ои-,;с ОПИСАНИЕ 326535 Сосоз Сооетскик Социалиотичеоких РеощбликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 27,Х 1,1967 ( 119932026-25)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 19.1.1972. БюллетеньКл. С 02 Ь 5 Касиитет по дележ изобретений и открыти при Соеете Миниотрое 00 фР.345,6 с 088,8) та опубликования описания 15,111.1972 Авторизобретессс Ш. А. фурм вите Я ТОЛЩИНЫ ПОСЛЕДОВАТЕЛ ОДЛОЖКУ СЛОЕВ ДИЭЛЕКТР И МЕТАЛЛА СПОСОБ КОНТР НАНОСИМЫХ НА Известны способы контроля толщины последовательно наносимых ца подложку слоев диэлектриков и металла с определением толщцц диэлектрических слоев по измерению пропускания на длине волны Лс, соответствующей наибольшему отражению диэлектрического покрытия. Измерения производятся с помощью фотоэлектрического устройства.Предложенный способ отличается от известных тем, что контроль пропускания прц нане сеции слоя металла ведут ца длине волны Л 2, соответствующей области высокого пропускания диэлектрического покрытия и момент достижения задашюй толщины слоя определяют по достижению мицимального значения разно сти пропускацця ца длинах волн Лс ц Л 2.Предложенный способ позволяет повысить точность контроля.Для этого подложки, на которые требуется нанести многослойное покрытие, образующее 2 спектроделитсль, помесцают в вакуумную камеру. По одной из подложек,в процессе панесения веществ (ссапример, путем их термического испарения) производится контроль тол.цин слоев покрытия с помощью фотометри ческого устройства, На эту подложку направляют лучистый поток от источника, например лампы накаливания. Поток, прошедший через образец, проектируют на входную щель монохроматора, расположенного вне вакуумной ка- ЗО меры. Выдслесцсьссс моцохроматором поток заданного спектрального состава направляют ца приемник лучистой эссергсссс, например фотоумножитель. Сигнал, возникающий на приемнике, подают ца регистрирующее устройство, показания которого линейно связаны с пропусканием образца.Сначала нд подложку наносят диэлектрическое покрытие, состоящее цз чередующихся четвертьволновых слоев с высоким и низким показателямп преломления. Контроль диэлектрических слоев производят на длине волны Лс, соответствующей наибольшему отражецшо диэлектрического покрытия, После нанесения диэлектрического покрытия форма спектральной кривой отражения в рабочей области оказывается в основном сформированной, а кривая процускацця в этой же области обладает резкой сслективцостью. Для выравнивания в рабочей области кривой пропускасшя до нейтрального состояцця па диэлектрическое покрытие наносят слой металлд, например хрома илц титана. Прц этом моцохроматор перестраивают так, что ца приемник попадает свет длиной волны Лз, соответствующей области высокого пропускация диэлектрического покрытия. Нанесение слоя металла заканчцьают, когда пропускацце покрытия ца длине волны Л 2 становится равным его пропусканцю ца длине волны Л,.326535 Предмет изобретения Составитель А. Шеломова Техред Л, КуклинаКорректор Л. Царькова Редактор Т, Орловская Заказ 514/14 Изд, Мо 112 Тираж 448 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектриков и металла с определением толщины диэлектрических слоев по измерению пропускания на длине волны Х 1, соответствующей наибольшему отражению диэлектрического покрытия, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью повышения точности, контроль пропускания при нанесении слоя металал ведут на длине волны Х 2, соответствующей области высокого пропускания 5 диэлектрического покрытия, и момент достижения заданной толщины слоя определяют по достижению минимального значения разности пропускания на длинах волн Х 1 и Х 2.
СмотретьЗаявка
1199320
Ш. А. Фурман
МПК / Метки
МПК: G02B 5/28
Метки: диэлектрикови, металла, наносимых, подложку, последовательно, слоев, толщины
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-326535-sposob-kontrolya-tolshhiny-posledovatelno-nanosimykh-na-podlozhku-sloev-diehlektrikovi-metalla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля толщины последовательно наносимых на подложку слоев диэлектрикови металла</a>
Предыдущий патент: Устройство для моделирования трансплантатев-роговицы
Следующий патент: Электрооптический модулятор света
Случайный патент: Панель покрытия